一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法技术

本发明专利技术涉及一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，属于空间用控制器故障诊断和处置领域；向被检测区域各地址均写入0x55数据；从低地址依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；向正常地址写入0xAA数据；从高地址依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；向正常地址写入0x55数据；从高地址依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；将各异常地址对应的RAM区地址映射切换至自检状态正常的备份RAM区地址；本发明专利技术对重要子地址对应存储区域进行自主检测，若检测出现异常，系统自主将地址映射关系调整至备用存储器区域，保证系统平稳运行，避免控制器切换至备份运行。切换至备份运行。切换至备份运行。

【技术实现步骤摘要】
一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法


[0001]本专利技术属于空间用控制器故障诊断和处置领域，涉及一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法。

技术介绍

[0002]目前，很大一部分卫星各系统间(外部总线)或系统内部(内部总线)设计采用1553B总线通讯机制，根据以往在轨异常情况案例，若1553B总线控制器内部存储器出现部分异常(某个或多各地址出现异常)，将导致对应子地址通讯功能丧失，严重情况下将导致控制计算机当班机功能丧失。尤其对于采用两级1553B总线通讯的卫星，任意1553B芯片异常将直接导致当班机功能丧失。
[0003]按照以往常规处置流程，由于1553B芯片存储器部分异常后，分系统间或分系统内部通讯将出现异常，卫星功能受限或严重影响整星能源安全，系统将被迫切换至控制器备份状态运行，若控制器备份再次出现类似故障，将直接导致卫星内部通讯中断，整星报废，严重影响系统运行可靠性和安全性。

技术实现思路

[0004]本专利技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提出一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，对重要子地址对应存储区域进行自主检测，若检测出现异常，系统自主将地址映射关系调整至备用存储器区域，保证系统平稳运行，避免控制器切换至备份运行。
[0005]本专利技术解决技术的方案是：
[0006]一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，包括：
[0007]步骤一、向被检测区域各地址均写入0x55数据；
[0008]步骤二、从被检测区域低地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入步骤三；当为异常时，进入步骤七；
[0009]步骤三、向当前地址写入0xAA数据；
[0010]步骤四、从高地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入步骤五；当为异常时，进入步骤七；
[0011]步骤五、向当前地址写入0x55数据；
[0012]步骤六、从高地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时，结束判断；当为异常时，进入步骤七；
[0013]步骤七、获得全部异常地址对应的RAM区，将各异常地址对应的RAM区地址映射切换至自检状态正常的备份RAM区地址。
[0014]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，所述步骤一中，向被检测区域各地址写入0x55数据时，写入顺序由低地址至高地址。
[0015]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，所述步骤二中，判
断各地址的RAM区是否正常的方法为：
[0016]当地址的内容为0x55数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。
[0017]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，所述步骤四中，判断各地址的RAM区是否正常的方法为：
[0018]当地址的内容为0xAA数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。
[0019]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，所述步骤六中，判断各地址的RAM区是否正常的方法为：
[0020]当地址的内容为0x55数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。
[0021]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，1553B芯片自主故障诊断和自主恢复包括2方面，分别是外总线1553B芯片内部RAM异常处置和内总线1553B芯片内部RAM异常处置。
[0022]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，当为外总线1553B芯片内部RAM异常处置时，设置有1个主份RAM区和31个备份RAM区；当主份RAM区判断异常时，切换至第一个备份RAM区；当第一个备份RAM区判断异常时，切换至第二个备份RAM区，
……
，以此类推。
[0023]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，当为内总线1553B芯片内部RAM异常处置时，内总线1553B芯片分为堆栈区和消息区；且判断各地址的RAM区是否正常时，对堆栈区和消息区依次进行判断。
[0024]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，堆栈区设置有主份堆栈RAM区和备份堆栈RAM区；当判断为主份堆栈RAM区异常时，切换至备份堆栈RAM区。
[0025]在上述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，消息区设置有第一消息用RAM区、第二消息用RAM区、第三消息用RAM区、第四消息用RAM区；当第一消息用RAM区判断异常后，切换至第二消息用RAM区；当第二消息用RAM区判断异常后，切换至第三消息用RAM区；当第三消息用RAM区判断异常后，切换至第四消息用RAM区。
[0026]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：
[0027](1)本专利技术提出的方法可在轨自主完成1553B芯片存储器异常检测，解决了无法以往系统无法定位1553B芯片异常原因的问题，可定位并确认1553B芯片存储器异常方面的问题，从而为后续异常处置提供依据；
[0028](2)本专利技术提出的自主恢复方法，解决了以往型号只能被迫切换控制器备份的操作，可自主切换通讯异常子地址对应RAM区地址，避免切换控制器备份，提高系统可靠性和安全性；
[0029](3)本专利技术将1553B芯片自主故障诊断和自主恢复分为2方面，分别是外总线1553B芯片内部RAM异常处置和内总线1553B芯片内部RAM异常处置，实现对内、外总线的1553B芯片内部RAM异常判断和恢复。
附图说明
[0030]图1为本专利技术1553B芯片自主故障诊断和自主恢复流程图。
具体实施方式
[0031]下面结合实施例对本专利技术作进一步阐述。
[0032]本专利技术提供了一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，对重要子地址对应存储区域进行自主检测，若检测出现异常，系统自主将地址映射关系调整至备用存储器区域，保证系统平稳运行，避免控制器切换至备份运行，提高系统可靠性和安全性。
[0033]1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，如图1所述，具体包括如下步骤：
[0034]步骤一、向被检测区域各地址均写入0x55数据；向被检测区域各地址写入0x55数据时，写入顺序由低地址至高地址。
[0035]步骤二、从被检测区域低地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入步骤三；当为异常时，进入步骤七；判断各地址的RAM区是否正常的方法为：
[0036]当地址的内容为0x55数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。
[0037]步骤三、向当前地址写入0xAA数据。
[0038]步骤四、从高地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，其特征在于：包括：步骤一、向被检测区域各地址均写入0x55数据；步骤二、从被检测区域低地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入步骤三；当为异常时，进入步骤七；步骤三、向当前地址写入0xAA数据；步骤四、从高地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时进入步骤五；当为异常时，进入步骤七；步骤五、向当前地址写入0x55数据；步骤六、从高地址开始，依次读取各地址内容，判断各地址的RAM区是否正常；当判断为正常时，结束判断；当为异常时，进入步骤七；步骤七、获得全部异常地址对应的RAM区，将各异常地址对应的RAM区地址映射切换至自检状态正常的备份RAM区地址。2.根据权利要求1所述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，其特征在于：所述步骤一中，向被检测区域各地址写入0x55数据时，写入顺序由低地址至高地址。3.根据权利要求1所述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，其特征在于：所述步骤二中，判断各地址的RAM区是否正常的方法为：当地址的内容为0x55数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。4.根据权利要求1所述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，其特征在于：所述步骤四中，判断各地址的RAM区是否正常的方法为：当地址的内容为0xAA数据时，判断该地址的RAM区正常；否则，判断为异常。5.根据权利要求1所述的一种空间用1553B芯片自主故障诊断和自主恢复方法，其特征在于：所述步骤六中，判断各地址的RAM区是否正常的方法为：当地址的内容为...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁建钊，乌日娜，张涛，陈超，程莉，杨晓龙，刘彤，黄碳钢，
申请(专利权)人：北京控制工程研究所，
类型：发明
国别省市：