【技术实现步骤摘要】
图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质
[0001]本专利技术涉及医疗器械
,尤其涉及一种图像的硬化伪影校正方法、系统、设备和介质。
技术介绍
[0002]临床CT(Computed Tomography,电子计算机断层扫描)成像系统中的球管产生的X射线具有较宽的能谱,与物质相互作用时,低能量光子的衰减量大于高能量光子的衰减量。当多色的X射线穿透物体时,低能量光子相对于高能量光子更容易被吸收。射线中的低能量光子的份额越来越少,X射线能谱逐渐向高能端偏移,射线的平均能量变高,能谱变“硬”,产生射束硬化现象。针对CT成像系统而言,倘若不进行硬化校正,软组织区域中会出现不均匀条带的硬化伪影。为了得到能够用于临床诊断的CT图像,在图像重建过程中需要进行射束硬化校正,尤其扫描物体中包含的高原子序数物质,如骨组织或者造影剂碘时,倘若不进行硬化校正,会导致在软组织区域中产生明显的硬化伪影。
[0003]传统的硬化校正包括高阶硬化校正方法,通过使用水
‑
骨或者水
‑
碘两种物质作为基准物质进 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像的硬化伪影校正方法,其特征在于,所述硬化伪影校正方法包括:获取待校正的能谱投影数据;根据扫描偏心放置的标准水模得到的能谱投影原始数据,确定能谱CT系统的探测器通道在不同能量区间的有效能谱值;根据所述待校正的能谱投影数据和所述有效能谱值,计算矫正补偿量;基于所述矫正补偿量对所述待校正的能谱投影数据进行校正。2.如权利要求1所述的图像的硬化伪影校正方法,其特征在于,所述根据所述待校正的能谱投影数据和所述有效能谱值,计算矫正补偿量的步骤,包括:根据所述待校正的能谱投影数据确定基物质的密度的线积分数据;根据所述有效能谱值、所述线积分数据和每种所述基物质的线性衰减系数计算所述矫正补偿量。3.如权利要求2所述的图像的硬化伪影校正方法,其特征在于,所述根据所述待校正的能谱投影数据确定基物质的密度的线积分数据的步骤,包括:确定基物质的数量和能量区间的数量;所述能量区间的数量大于所述基物质的数量;根据所述基物质的数量、所述能量区间的数量和所述待校正的投影数据计算所述线积分数据。4.如权利要求3所述的图像的硬化伪影校正方法,其特征在于,所述根据所述基物质的数量、所述能量区间的数量和所述待校正的投影数据计算所述线积分数据的步骤,包括:根据所述基物质的数量和所述能量区间的范围确定有效衰减系数;根据待校正的能谱投影数据和所述有效衰减系数计算所述线积分数据。5.如权利要求4所述的图像的硬化伪影校正方法,其特征在于,所述根据待校正的能谱投影数据和所述有效衰减系数计算所述线积分数据的步骤,包括:根据所述待校正的能谱投影数据和所述有效衰减系数采...
【专利技术属性】
技术研发人员:张忠良,傅建伟,
申请(专利权)人:上海联影医疗科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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