触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提出一种触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及触控技术领域。包括：若检测到电容触摸屏被触控，确定电容阵列中每个电容当前的电容值；根据每个电容当前的电容值，生成电容阵列对应的热力图；确定热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及目标区域在热力图中的第一位置；根据热力图与电容触摸屏间的映射关系、及第一位置，确定触控点在电容触摸屏中第二位置。由此，通过将电容阵列中每个电容当前的电容值，转换为热力图，进而通过热力图对电容值数据进行全局分析，快速、准确地确定触控点在电容触摸屏中的位置。点在电容触摸屏中的位置。点在电容触摸屏中的位置。

【技术实现步骤摘要】
触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及触控
，尤其涉及一种触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]电容触摸屏因为具有较高的灵敏度和较容易实现多点触摸技术的优点，被普遍用作电子设备的触摸屏。当手指触摸电容屏某个位置时，形成电流感应，该区域电容数值发生变化，相较于周围有明显提高。因此能够依据这一现象设计相关策略来确定手指触控位置。
[0003]受电子设备使用状态的影响(悬浮、接地)，电容数据会有不同程度的噪声干扰。目前普遍的触控策略选择单行扫描并通过多重阈值设定、数据滤波和曲线拟合策略来净化数据从而寻找单行手指位置，但是多重阈值的非全面性、单行手指位置确认的轻微偏差、各种复杂基准线导致的曲线拟合不准确等情况，带来的相邻手指区域部分重叠问题，从而导致质心计算错误，以及将两个相邻谷值之间的峰值误判为手指触控位置，在进行最后报点时会偶现丢点、连线以及鬼点。

技术实现思路

[0004]本公开旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0005]本公开第一方面实施例提出了一种触控位置的确定方法，包括：
[0006]响应于检测到电容触摸屏被触控，确定所述电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值；
[0007]根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图；
[0008]确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置；
[0009]根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系、及所述第一位置，确定触控点在所述电容触摸屏中的第二位置。
[0010]本公开第二方面实施例提出了一种触控位置的确定装置，包括：
[0011]第一确定模块，用于，响应于检测到电容触摸屏被触控，确定所述电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值；
[0012]生成模块，用于根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图；
[0013]获取模块，用于确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置；
[0014]第二确定模块，用于根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系、及所述第一位置，确定触控点在所述电容触摸屏中的第二位置。
[0015]本公开第三方面实施例提出了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如本公开第一
方面实施例提出的触控位置的确定方法。
[0016]本公开第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如本公开第一方面实施例提出的触控位置的确定方法。
[0017]本公开第五方面实施例提出了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时，实现如本公开第一方面实施例提出的触控位置的确定方法。
[0018]本公开提供的触控位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质，存在如下有益效果：
[0019]本公开实施例中，在检测到电容触摸屏被触控的情况下，确定电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值，之后根据电容阵列中每个电容当前的电容值，生成电容阵列对应的热力图，进而确定热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及目标区域在热力图中的第一位置，最后根据热力图与电容触摸屏间的映射关系、及第一位置，确定触控点在电容触摸屏中的第二位置。由此，通过将电容阵列中每个电容当前的电容值，转换为热力图，进而通过热力图对电容值数据进行全局分析，快速、准确地确定触控点在电容触摸屏中的位置。
[0020]本公开附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本公开的实践了解到。
附图说明
[0021]本公开上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0022]图1为本公开一实施例所提供的一种触控位置的确定方法的流程示意图；
[0023]图2为本公开一实施例提供的一种电容阵列对应的热力图的示意图；
[0024]图3为本公开一实施例所提供的一种触控位置的确定方法的流程示意图；
[0025]图4为本公开一实施例提供的一种热力图识别结果的示意图；
[0026]图5为本公开另一实施例所提供的触控位置的确定装置的结构示意图；
[0027]图6示出了适于用来实现本公开实施方式的示例性电子设备的框图。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本公开的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本公开，而不能理解为对本公开的限制。
[0029]下面参考附图描述本公开实施例的触控位置的确定方法、装置、电子设备和存储介质。
[0030]图1为本公开实施例所提供的一种触控位置的确定方法的流程示意图。
[0031]本公开实施例以该触控位置的确定方法被配置于触控位置的确定装置中来举例说明，该触控位置的确定装置可以应用于任一电子设备中，以使该电子设备可以执行触控位置的确定功能。
[0032]如图1所示，该触控位置的确定方法可以包括以下步骤：
[0033]步骤101，响应于检测到电容触摸屏被触控，确定电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值。
[0034]可选的，在用户用手指、指关节、触控笔等其他物体触摸电容触摸屏的时候，确定电容触摸屏被触控。
[0035]本公开实施例中，当电容触摸屏被触控的时候，被触控位置对应的电容的电容值会发生变化，因此，可能根据电容阵列中每个电容当前的电容值，确定用户在电容触摸屏中的触控点。
[0036]步骤102，根据电容阵列中每个电容当前的电容值，生成电容阵列对应的热力图。
[0037]图2为本公开一实施例提供的一种电容阵列对应的热力图的示意图。如图2所示，热力图中每行像素点的数量与电容阵列中每行电容的数量相等，热力图中每列像素点的数量与电容阵列中每列电容的数量相等。因此，热力图的像素点数量与电容阵列中的电容数量相等，且一一对应。比如热力图中第一行第一列的像素点与电容阵列中第一行第一列的电容对应。
[0038]可选的，将每个电容当前的电容值进行归一化处理，以获取每个电容对应的目标归一化数值，之后基于每个目标归一化数值，查询预设的热力值映射表，以获取每个电容对应的目标热力值，其中，热力值映射表中包含每个归一化数值与热力值之间的映射关系，最后根据每个电容在热力图中对应的像素位置及每个电容对应的目标热力值，生成热力图。
[0039]其中，可以先从电容阵列中每个电容当前的电容值中获取最大电容值和最小电容值，之后基于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控位置的确定方法，其特征在于，所述方法包括：响应于检测到电容触摸屏被触控，确定所述电容触摸屏的电容阵列中每个电容当前的电容值；根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图；确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置；根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系、及所述第一位置，确定触控点在所述电容触摸屏中的第二位置。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电容阵列中每个电容当前的电容值，生成所述电容阵列对应的热力图，包括：将每个所述电容当前的电容值进行归一化处理，以获取每个所述电容对应的目标归一化数值；基于每个所述目标归一化数值，查询预设的热力值映射表，以获取每个所述电容对应的目标热力值，其中，所述热力值映射表中包含每个归一化数值与热力值之间的映射关系；根据每个所述电容在所述热力图中对应的像素位置及每个所述电容对应的目标热力值，生成所述热力图。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置，包括：确定所述第一位置对应的目标区域的质心所在的像素点为目标像素点；根据所述热力图与所述电容触摸屏间的映射关系，确定所述目标像素点在所述电容触摸屏中对应的位置；将所述目标像素点在所述电容触摸屏中对应的位置确定为所述第二位置。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述热力图中热力值大于第一阈值、且区域尺寸大于第二阈值对应的目标区域及所述目标区域在所述热力图中的第一位置，包括：将所述热力图输入目标识别模型中，以获取所述目标识别模型输出的所述热力图中包含的所述目标区域及所述目标区域在所述热力图中的所述第一位置。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：获取样本训练...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭家宏，尹宏轶，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：