一种用于药物崩解性能识别的数据处理方法技术

本发明专利技术涉及图像数据处理技术领域，具体涉及一种用于药物崩解性能识别的数据处理方法。该方法包括：获取药物灰度图像，确定待测像素点与定位像素点，确定定位像素点周围药物边缘的粗糙程度，根据待测像素点与定位像素点间的像素点距离和粗糙程度，计算待测像素点的崩解特征值；根据生长区域的主成分方向、定位像素点周围药物边缘的主成分方向、药物残留定位区域的主成分方向和崩解特征值，确定扩散系数；根据扩散系数确定目标像素点，根据目标像素点和匹配像素点的位置，确定待测时间点的扩散距离；根据不同时间点的扩散距离确定药物崩解均匀程度，将药物崩解均匀程度作为数据处理结果。本发明专利技术能够提升崩解速度均匀性识别的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于药物崩解性能识别的数据处理方法


[0001]本专利技术涉及图像数据处理
，具体涉及一种用于药物崩解性能识别的数据处理方法。

技术介绍

[0002]控释制剂为能在单位时间释放固定量的药物、在较长时间内维持稳定的血药浓度且不受胃肠道环境的影响的药物剂型。在对控释制剂进行制作时需保证其在规定溶剂中缓慢恒速或接近恒速释放，达到持续稳定的治疗作用。因此，需要对药物的崩解过程中的释放均匀性进行准确识别。
[0003]一些相关技术中，通常使用药物的面积和体积变化估计药物崩解速度，对药物的面积和体积变化进行测定的方式仅能确定大致的崩解速度，对药物崩解均匀性能的识别准确性与识别精度不足，另一些相关技术中，通过对药物表面细节纹理的变化进行分析，进而对药物崩解速度进行评估，这种方式下，由于药物在崩解过程中容易产生遮挡，其表面纹理易受到残留的已崩解的药物的干扰，使得评估结果准确性较低，进而使得可靠性不足，因此，亟须确定一种更为准确，精度更高的崩解均匀性能识别方法。

技术实现思路

[0004]为了解决崩解速度均匀性识别准确性较低的技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于药物崩解性能识别的数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：获取待识别药物在崩解过程中不同时间点的药物灰度图像，任选某一待测时间点，将药物灰度图像中所述待测时间点的药物边缘和上一时间点的药物边缘所围成的区域中的像素点作为待测像素点；任选某一待测像素点，确定所述待测像素点在所述待测时间点的药物边缘的定位像素点，确定所述定位像素点周围药物边缘的粗糙程度，根据所述待测像素点与所述定位像素点间的像素点距离和所述粗糙程度，计算所述待测像素点的崩解特征值；对所述待测像素点进行区域生长处理得到生长区域，根据所述待测时间点的药物灰度图像中像素点的分布确定药物残留定位区域；根据所述生长区域的主成分方向、所述定位像素点周围药物边缘的主成分方向、所述药物残留定位区域的主成分方向和所述崩解特征值，确定所述待测像素点的扩散系数；根据所述扩散系数对所述待测像素点进行筛选，确定目标像素点，确定上一时间点的药物灰度图像中与所述目标像素点表示同一药物颗粒的像素点为匹配像素点，根据所述目标像素点的位置和所述匹配像素点的位置，确定所述待测时间点的扩散距离；根据不同时间点的所述扩散距离确定药物崩解均匀程度，将所述药物崩解均匀程度作为数据处理结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述定位像素点周围药物边缘的粗糙程度，包括：确定所述待测时间点的药物边缘上所述定位像素点周围预设数量个像素点组成的药物边缘为药物临近边缘；对所述药物临近边缘进行低通滤波处理，得到滤波边缘，计算所述滤波边缘中像素点的数量和所述预设数量的差值绝对值作为所述粗糙程度。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测像素点与所述定位像素点间的像素点距离和所述粗糙程度，计算所述待测像素点的崩解特征值，包括：确定所述待测像素点与所述定位像素点间的像素点距离为定位距离；计算所述粗糙程度与所述定位距离的乘积归一化值作为所述崩解特征值。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测时间点的药物灰度图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：王舒，
申请(专利权)人：菏泽学院，
类型：发明
国别省市：