一种米粒粒宽检测方法技术

技术编号:37137358 阅读:18 留言:0更新日期:2023-04-06 21:38
本发明专利技术涉及一种米粒粒宽检测方法,通过米粒粒宽度检测装置进行检测,米粒粒宽度检测装置包括面板,面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板同面板之间设有米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽。本发明专利技术具有能够准确地检测出米粒粒宽的优点,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种米粒粒宽检测方法


[0001]本专利技术涉及食品检测
,尤其涉及一种米粒粒宽检测方法。

技术介绍

[0002]在对食品中的大米及大米粉的检测过程中,需要对大米的粒宽进行检测。现有的检测米粒粒宽的方法为,将十颗米粒肩比肩的以最大宽度出抵接在一起排成一于面板上,然后测量米粒排成的米粒排的长度,长度除以十即为米粒粒宽。米粒是否为最宽处抵接为通过眼睛目测估算,而由于米粒为类扁平的橄榄结构,目测判断最宽处会存在角度的测量误差,导致粒宽检测数据的准确性差,而且即使准确判断到了最宽处,也难以保证最宽处刚好抵接在一起(因为米粒的厚度的差异会导致上下错开,上下错开则抵接在一起时容易产生视觉无法精准判断的宽度方向的重叠),而且进行宽度测量时也难以准确测量。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在提供一种能够准确地检测出米粒粒宽的大米粒宽检测方法,解决了现有的大米目测粒宽人工用手直接并肩摆齐头来检测粒宽所导致的检测精度低的问题。
[0004]以上技术问题是通过以下技术方案解决的:一种米粒粒宽检测方法,其特征在于,通过米粒粒宽度检测装置进行检测,米粒粒宽度检测装置包括面板,所述面板的上表面为水平面,所述面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条延伸方向的两个表面都为竖平面,米粒粒宽定挡板朝向米粒粒宽动挡板一侧的表面为竖平面,米粒粒宽动挡板同面板之间设有使米粒粒宽动挡板同米粒粒宽定挡板保持平行和使米粒粒宽动挡板保持垂直于面板上表面状态的米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽;进行米粒粒宽检测的过程为:在第一米粒储存盲槽内以长度方向垂直于米粒粒长定挡条的延伸方向的状态平置存放一颗米粒,在每一个第二米粒储存盲槽内各以长度方向垂直于米粒粒长定挡条的延伸方向的状态平置存放一颗米粒;移动十个米粒粒宽动挡板到:第一米粒储存盲槽中的米粒的宽度方向的一端同米粒粒宽定挡板抵接在一起、另一端同离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板抵接在一起,第二米粒储存盲槽中的米粒的宽度方向的两端一一对应地同相邻的两块米粒粒宽动挡板抵接在一起;测量离米粒粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板距离米粒粒宽定挡板之间的间隔距离W1,米粒的粒宽W=(W1

W2)/10,W2为除离米粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板外的九块米粒粒宽动挡板的厚度之和。通过米粒粒宽动挡板沿粒宽方向推米粒到米粒同米粒粒宽挡板抵接在一起来间接判断相邻的米粒是否最宽处肩并肩抵接在一起,判断准确性好,米粒厚度不影响测量。以上方案从而起到提高米粒宽度测量精度的作用。
[0005]本专利技术还包括纵向刻度尺,离米粒粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板上设有指示
针,指示针指向所述纵向刻度尺上的刻度,纵向刻度尺同指示针对齐的刻度为米粒的粒宽。进行了预算刻度标识处理,能够直接获知米粒粒宽(即米粒宽度),测量时的方便性好。
[0006]作为优选,所述刻度尺设置在米粒粒长定挡条的上端面上。结构紧凑,读数方便。
[0007]作为优选,所述米粒粒宽动挡板状态保持机构包括设置在面板上的两条纵向导向滑槽、设置在米粒粒宽动挡板下侧面且一一对应地滑动连接在两条纵向导向滑槽内的两个下导向滑块、设置在米粒粒长定挡条上表面上的纵向延伸的止转台阶和设置在米粒粒长动挡板端面且滑动搭接在止转台阶上的止转片,止转台阶的台阶面平行于面板的上表面,纵向导向滑槽的延伸方向同米粒粒长定挡条平行,所有的米粒粒宽动挡板的米粒粒宽动挡板状态保持机构共用止转台阶和纵向导向滑槽;移动米粒粒宽动挡板的过程中能够使得米粒粒宽动挡板沿米粒长度方向两端的位移量和上下两端的位移量都相等。
[0008]作为优选,纵向导向滑槽沿上下方向贯通面板。能够提高移动通畅性。
[0009]作为优选,所述米粒粒宽动挡板同面板之间设有间隙。移动米粒粒长动挡板时不会损坏面光源。
[0010]作为优选,所述面板上设有朝上照射的光源板,所述第一米粒储存盲槽和第二米粒储存盲槽都位于所述光源板的上方。能够方便地观察米粒同挡板之间是否抵接在一起。
[0011]作为优选,所述米粒粒宽定挡板位于第一米粒储存盲槽一侧的表面、米粒粒宽动挡板位于第一米粒储存盲槽一侧的表面和米粒粒宽动挡板位于第二米粒储存盲槽一侧的表面都设有检测时同米粒接触的镜子层;判断米粒同米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡板是否接触时,通过观察米粒在所述镜子层内的米粒像同米粒是否接触来进行判断,位于第一米粒储存盲槽内的米粒于米粒粒宽定挡板上的镜子层内的米粒像同米粒接触时则表示米粒同米粒粒宽定挡板接触,位于第二米粒储存盲槽内的米粒于米粒粒宽动挡板上的镜子层内的米粒像接触时则表示米粒同米粒粒宽动挡板接触。朝向镜子里观察能够2倍扩大米粒同挡板之间的间隙,从而能够提高判断米粒同挡板是否抵接在一起时的准确性。
[0012]作为优选,所述米粒粒长定挡条同米粒粒宽定挡板连接在一起。
[0013]本专利技术还包括米粒止转机构,米粒止转机构包括转动连接在面板侧面上的纵向转轴、驱动纵向转轴转动的驱动电机和十块下表面为平面的按压板,米粒粒宽定挡板位于米粒粒长定挡板和纵向转轴所在的面板侧面之间,纵向转轴所在的面板侧面为平面,十块所述按压板分别位于第一米粒储存盲槽的上方和九个第二米粒储存盲槽的上方,纵向转轴上设有十个设滑孔的连接座,按压板上设有连接柱头,十块按压板上的所述连接柱头一一对应地穿设在所述滑孔内,滑孔内设有驱动连接柱头朝向滑孔内移动的弹簧;按压板的下表面平行于面板的上表面时、连接座的第一端面同纵向转轴所在的面板侧面抵接在一起而阻止按压板朝靠拢面板的方向转动,连接座的第一端面为按压板的下表面平行于面板的上表面时连接座的朝向面板的端面,按压板的下表面处于竖直状态时、连接座的远离按压板的端面同纵向转轴所在的面板侧面抵接在一起而阻止按压板朝远离面板的方向转动,连接座的第一端面和纵向转轴所在的面板侧面之间为圆弧面过渡,所述圆弧面所在的圆柱同纵向转轴同轴。使用时,先使按压板处于竖直状态,然后装入十粒米粒到十个米粒储存盲槽内,再转动按压板下表面处于水平状态,在弹簧的作用下按压把下移,而使得十块按压板一一对应地按压住所述十粒米粒,从而避免通过米粒粒宽动挡板推米粒的过程中米粒产生滚动而导致米粒粒宽测量精度下降。
[0014]专利技术具有以下有益效果:检测出的米粒粒宽准确性好。
附图说明
[0015]图1为大米检测装置的示意图;
[0016]图2为图1的A处的局部放大示意图;
[0017]图3为图1的B—B剖视示意图。
[0018]图中:面板1、米粒粒宽定挡板2、米粒粒长定挡条3、米粒粒宽动挡板4、指示针5、纵向刻度尺6、光源板7、纵向导向滑槽8、下导向滑块9、止转台阶10、止转片11、间隙12、第一米粒储存本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种米粒粒宽检测方法,其特征在于,通过米粒粒宽度检测装置进行检测,米粒粒宽度检测装置包括面板,所述面板的上表面为水平面,所述面板上设有米粒粒宽定挡板、米粒粒长定挡条和十块米粒粒宽动挡板,米粒粒宽动挡板平行于米粒粒宽定挡板,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条的延伸方向分布,米粒粒宽动挡板沿米粒粒长定挡条延伸方向的两个表面都为竖平面,米粒粒宽定挡板朝向米粒粒宽动挡板一侧的表面为竖平面,米粒粒宽动挡板同面板之间设有使米粒粒宽动挡板同米粒粒宽定挡板保持平行和使米粒粒宽动挡板保持垂直于面板上表面状态的米粒粒宽动挡板状态保持机构,离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板、米粒粒长定挡条和米粒粒宽定挡板之间围成第一米粒储存盲槽,相邻的两块米粒粒宽动挡板和米粒粒长定挡条围出第二米粒储存盲槽;进行米粒粒宽检测的过程为:在第一米粒储存盲槽内以长度方向垂直于米粒粒长定挡条的延伸方向的状态平置存放一颗米粒,在每一个第二米粒储存盲槽内各以长度方向垂直于米粒粒长定挡条的延伸方向的状态平置存放一颗米粒;移动十个米粒粒宽动挡板到:第一米粒储存盲槽中的米粒的宽度方向的一端同米粒粒宽定挡板抵接在一起、另一端同离米粒粒宽定挡板最近的米粒粒宽动挡板抵接在一起,第二米粒储存盲槽中的米粒的宽度方向的两端一一对应地同相邻的两块米粒粒宽动挡板抵接在一起;测量离米粒粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板距离米粒粒宽定挡板之间的间隔距离W1,米粒的粒宽W=(W1

W2)/10,W2为除离米粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板外的九块米粒粒宽动挡板的厚度之和。2.根据权利要求1所述的一种米粒粒宽检测方法,其特征在于,还包括纵向刻度尺,离米粒粒宽定挡板最远的米粒粒宽动挡板上设有指示针,指示针指向所述纵向刻度尺上的刻度,纵向刻度尺同指示针对齐的刻度为米粒的粒宽。3.根据权利要求2所述的一种米粒粒宽检测方法,其特征在于,所述刻度尺设置在米粒粒长定挡条的上端面上。4.根据权利要求1或2所述的一种米粒粒宽检测方法,其特征在于,所述米粒粒宽动挡板状态保持机构包括设置在面板上的两条纵向导向滑槽、设置在米粒粒宽动挡板下侧面且一一对应地滑动连接在两条纵向导向滑槽内的两个下导向滑块、设置在米粒粒长定挡条上表面上的纵向延伸的止转台阶和设置在米粒粒长动挡板端面且滑动搭接在止转台阶上的止转片,止转台阶的台阶面平行于面板的上表面,纵向导向滑槽的延伸方向同米粒粒长定挡条平行,所有的米粒粒宽动挡板的米粒粒宽动挡板状态保持机构共用止转台阶和纵向导向滑槽。5.根据权利要求4所述的一种米粒粒宽检测方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭玉慧曾敏于福浩陈召桂
申请(专利权)人:浙江五芳斋实业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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