一种粒子定量设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种粒子定量设备，该设备包括：承载盘以及位于承载盘上的旋转盘；旋转盘面向承载盘的一侧设置有定位槽，旋转盘用于旋转，定位槽用于反射光线，定位槽未贯穿旋转盘；承载盘包括光电传感器，光电传感器用于向旋转盘发射光，并在接收到定位槽的反射光时，判定沿垂直于旋转盘的方向上光电传感器与定位槽交叠，再控制旋转盘定位。本实用新型专利技术中，旋转盘面向承载盘的一侧设置有定位槽，承载盘包括光电传感器，光电传感器向旋转盘发射光，并在接收到定位槽的反射光时，判定光电传感器与定位槽交叠，再控制旋转盘定位。通过旋转盘的转动遮挡光的反射来控制定位，定位精度高于传统的机械定位方式，且结构简单，定位准确，响应时间快。应时间快。应时间快。

【技术实现步骤摘要】
一种粒子定量设备


[0001]本技术涉及铁磁性磨粒测量
，尤其涉及一种粒子定量设备。

技术介绍

[0002]目前，各种机械或电气等设备中机械部件多是以铁质材料为基础制成。在实际机械运行中，两个相对运动的机械部件之间会发生摩擦与磨损，机械部件的运动表面材料通常会以磨损颗粒的形式脱落，该脱落下来的铁磁颗粒会融入润滑油中。基于此，检测润滑油中的铁磁颗粒含量，可用于判断机械部件的磨损程度、使用寿命等。
[0003]目前，粒子定量(通常称为PQ)仪作为一种监测机械中的铁趋势磨损情况的仪器，通过监测悬浮在与机械运动部件接触的润滑样品中的铁磁材料的数量，判断设备的磨损情况。
[0004]粒子定量仪在使用之前需要定位，现有仪器的定位精度差。

技术实现思路

[0005]本技术提供了一种粒子定量设备，以解决现有仪器定位精度差的问题。
[0006]根据本技术的一方面，提供了一种粒子定量设备，包括：承载盘以及位于所述承载盘上的旋转盘；
[0007]所述旋转盘面向所述承载盘的一侧设置有定位槽，所述旋转盘用于旋转，所述定位槽用于反射光线，所述定位槽未贯穿所述旋转盘；
[0008]所述承载盘包括光电传感器，所述光电传感器用于向所述旋转盘发射光，并在接收到所述定位槽的反射光时，判定沿垂直于所述旋转盘的方向上所述光电传感器与所述定位槽交叠，再控制所述旋转盘定位。
[0009]本技术中，旋转盘面向承载盘的一侧设置有定位槽，旋转盘旋转以使定位槽转动，承载盘包括光电传感器，光电传感器用于向旋转盘发射光，并在接收到定位槽的反射光时，判定沿垂直于旋转盘的方向上光电传感器与定位槽交叠，再控制旋转盘定位。通过旋转盘的转动遮挡光的反射来控制定位，定位精度高于传统的机械定位方式，且结构简单，定位准确，响应时间快(达到纳秒级)。
[0010]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本技术的范围。本技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本技术实施例提供的一种粒子定量设备的示意图；
[0013]图2是本技术实施例提供的另一种粒子定量设备的示意图；
[0014]图3是本技术实施例提供的又一种粒子定量设备的示意图；
[0015]图4是本技术实施例提供的光电传感器的示意图。
具体实施方式
[0016]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0017]需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0018]图1是本技术实施例提供的一种粒子定量设备的示意图，本实施例可适用于粒子定量设备的定位校准情况，该粒子定量设备可以是铁磁性磨粒或磨屑的定量设备，但不限于此。如图1所示，该粒子定量设备包括：承载盘10以及位于承载盘10上的旋转盘11；旋转盘11面向承载盘10的一侧设置有定位槽12，旋转盘11用于旋转，定位槽12用于反射光线，定位槽12未贯穿旋转盘11；承载盘10包括光电传感器13，光电传感器13用于向旋转盘11发射光，并在接收到定位槽12的反射光时，判定沿垂直于旋转盘11的方向上光电传感器13与定位槽12交叠，再控制旋转盘11定位。
[0019]本实施例中，粒子定量设备包括承载盘10和旋转盘11。承载盘10套设在转轴组件14上，旋转盘11连接转轴组件14。转轴组件14驱动旋转盘11沿轴转动，但承载盘10并不转动，因此旋转盘11相对承载盘10转动。承载盘10主要用于承载粒子定量设备的各个结构或器件等，在此不具体说明承载盘10的结构。旋转盘11主要用于承载样品，在此不具体说明旋转盘11的结构。转轴组件14主要包括转轴和齿轮等结构，以驱动旋转盘11沿轴线转动，在此不具体说明转轴组件14的结构，也不具体说明转轴组件14与承载盘10和旋转盘11的连接方式，现有任意一种满足本设备的结构连接均落入本技术的保护范围。
[0020]旋转盘11面向承载盘10的一侧设置有定位槽12，旋转盘11用于旋转，定位槽12用于反射光线，定位槽12未贯穿旋转盘11。转轴组件14驱动旋转盘11沿轴旋转，则定位槽12相对于承载盘10转动并移动至承载盘10的不同位置。定位槽12的槽口面向承载盘10但未贯穿旋转盘11，即在垂直于旋转盘11所在平面的方向X上，定位槽12的凹槽深度小于旋转盘11的厚度，如此有利于定位槽12反射光线。可选沿垂直于旋转盘11的方向X上，定位槽12的深度大于或等于旋转盘11的厚度的1/2。则定位槽12的槽底与承载盘10的间距较大，有利于反射光线。
[0021]承载盘10包括光电传感器13，光电传感器13包括光发射端和光接收端，光电传感器13的光发射端和光接收端均面向旋转盘11，则光电传感器13的光发射端发射光信号且该光信号会直接照射向旋转盘11，旋转盘11反射的光线会直接发送至光电传感器13的光接收端。当转轴组件14驱动旋转盘11沿轴线旋转时，承载盘10固定不动，则旋转盘11上的定位槽12的位置随着转动而发生变化，承载盘10上的光电传感器13的位置固定不变，则旋转盘11经过转动，其在X方向上定位槽12的位置可能与光电传感器13交叠，或者，在X方向上定位槽12的位置不与光电传感器13交叠。
[0022]光电传感器13在接收到定位槽12的反射光时，判定沿垂直于旋转盘11的方向上光电传感器13与定位槽12交叠，再控制旋转盘11定位。在定位阶段，光电传感器13的光发射端持续发射光信号，该光信号会直接照射向旋转盘11。光电传感器13可选用夏普GP2L22反射光电传感器。
[0023]旋转盘11包括定位槽12所在的槽区域和定位槽12之外的非槽区域。旋转盘11匀速转动，则在X方向上定位槽12的位置可能与光电传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种粒子定量设备，其特征在于，包括：承载盘以及位于所述承载盘上的旋转盘；所述旋转盘面向所述承载盘的一侧设置有定位槽，所述旋转盘用于旋转，所述定位槽用于反射光线，所述定位槽未贯穿所述旋转盘；所述承载盘包括光电传感器，所述光电传感器用于向所述旋转盘发射光，并在接收到所述定位槽的反射光时，判定沿垂直于所述旋转盘的方向上所述光电传感器与所述定位槽交叠，再控制所述旋转盘定位。2.根据权利要求1所述的粒子定量设备，其特征在于，沿垂直于所述旋转盘的方向上，所述定位槽的深度大于或等于所述旋转盘的厚度的1/2。3.根据权利要求1所述的粒子定量设备，其特征在于，所述承载盘还包括检测装置；所述旋转盘包括固定设置的基准位置样品盒；所述光电传感器用于在接收到所述定位槽的反射光时，判定沿垂直于所述旋转盘的方向上所述检测装置与所述基准位置样品盒交叠。4.根据权利要求1所述的粒子定量设备，其特征在于，所述承载盘还包括检测装置；所述光电传感器与所述检测装置电连接，所述检测装置用于控制所述光电传感器发射光，并根据所述光电传感器输出的反射信号进行定位判断。5.根据权利要求4所述的粒子定量设备，其特征在于，所述检测装置包括：驱动电路和处理电路；所述光电传感器包...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐荣网，吴志生，李玉泉，
申请(专利权)人：昆山书豪仪器科技有限公司，
类型：新型
国别省市：