探头制造技术

技术编号:37129986 阅读:28 留言:0更新日期:2023-04-06 21:28
用于进行连接器的特性检查的探头具备:凸缘,其具有贯通孔;壳体,其形成沿轴向贯通的收容空间,并具有内方突出部,在使收容空间同凸缘的贯通孔连通的状态下,该内方突出部的一端部安装于凸缘的下表面,另一端部向内侧突出;柱塞,其具有收容于壳体的收容空间的主体部和从主体部向壳体的另一端侧延伸并向收容空间的外侧突出的突出部,该柱塞使探针从突出部的底部突出;以及传输线路,其配置于凸缘的贯通孔和壳体的收容空间,并与探针电连接,壳体的内方突出部具有保持面,该保持面在柱塞的主体部能够向壳体的一端侧移动的状态下接受并保持柱塞的主体部。持柱塞的主体部。持柱塞的主体部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】探头


[0001]本技术涉及用于进行连接器的特性检查的探头。

技术介绍

[0002]以往就公开有用于进行作为被检查体的连接器的特性检查的探头(例如,参照专利文献1)。
[0003]专利文献1的探头是用于进行同轴连接器的特性检查的探头,特别是,进行为流过多个信号而设置有多个端子的多极连接器的特性检查。专利文献1的探头具备:能够对多极连接器的多个端子同时接触的多个中心导体。
[0004]专利文献1:国际公开第2016/072193号公报
[0005]在连接器的探头中,谋求提高端子的特性检查的精度。如专利文献1的探头那样,在使多个中心导体对多个端子同时接触的情况下,产生端子与中心导体之间的错位,特性检查的精度容易降低。谋求包含专利文献1所公开那样的探头并能够更高精度地进行端子的特性检查的技术的开发。

技术实现思路

[0006]因此,本技术的目的在于提供能够更高精度地进行连接器的端子的特性检查的探头。
[0007]为了实现上述目的,本技术的探头是用于进行连接器的特性检查的探头,且具备:凸缘,其具有贯通孔;壳体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种探头,用于进行连接器的特性检查,所述探头的特征在于,具备:凸缘,其具有贯通孔;壳体,其形成沿轴向贯通的收容空间,并具有内方突出部,在使所述收容空间同所述凸缘的所述贯通孔连通的状态下,该内方突出部的一端部安装于所述凸缘的下表面,另一端部向内侧突出;柱塞,其具有收容于所述壳体的所述收容空间的主体部和从所述主体部向所述壳体的另一端侧延伸并向所述收容空间的外侧突出的突出部,所述柱塞使探针从所述突出部的底部突出;以及传输线路,其配置于所述凸缘的所述贯通孔和所述壳体的所述收容空间,并与所述探针电连接,所述探头中,所述壳体的所述内方突出部具有保持面,该保持面在所述柱塞的所述主体部能够向所述壳体的一端侧移动的状态下接受并保持所述柱塞的所述主体部。2.根据权利要求1所述的探头,其特征在于,还具备施力构件,该施力构件配置于所述壳体的所述收容空间,且一端部与所述凸缘的所述下表面接触,对所述柱塞的所述主体部朝向所述壳体的另一端侧施力。3.根据权利要求2所述的探头,其特征在于,所述柱塞的所述主体部具备:朝向所述壳体的内周面向外侧突出的外侧突出部,所述外侧突出部具有上表...

【专利技术属性】
技术研发人员:阿部学
申请(专利权)人:株式会社村田制作所
类型:新型
国别省市:

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