一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，包括步骤：建立剂量评价模型；统计外照射途径环境转移系数的相关参数；建立外照射途径环境转移系数相关参数的概率分布函数；形成外照射途径剂量风险评估模型。本发明专利技术还提供一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估系统，采用放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法及系统可通过对模式输入参数的概率分布研究，得到外照射途径环境转移系数结果的概率分布，最终建立放射性污染场地基于概率论的风险评估模型。场地基于概率论的风险评估模型。场地基于概率论的风险评估模型。

【技术实现步骤摘要】
一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法及系统


[0001]本专利技术属于辐射防护风险评价领域，具体涉及一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法及系统。

技术介绍

[0002][0003]目前国内放射性核素污染场地评估模型为标准规定的通用模型，该模型建立在场地介质均匀且风险评估相关参数取固定值的基础之上，参数取值的不确定性考虑欠缺，忽略了参数不确定性对风险评估的影响，导致评估结果保守，未能真实准确反映评估污染影响现状。开展基于概率论的风险评估方法研究，对确定论方法进行补充完善，可真实反映参数变化对风险评估结果的影响，实现输入参数的不确定性分析，进而得到风险评估结果并确认其置信度。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的是提供一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法及系统，以建立放射性污染场地基于概率论的风险评估方法。
[0005]为达到以上目的，本专利技术采用的技术方案是：一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，包括步骤：建立剂量评价模型；统计外照射途径环境转移系数的相关参本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于，包括：建立剂量评价模型；统计外照射途径环境转移系数的相关参数；建立外照射途径环境转移系数相关参数的概率分布函数；形成外照射途径剂量风险评估模型。2.如权利要求1所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于：所述剂量评价模型选择确定论的风险评估模式。3.如权利要求1所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在：外照射途径环境转移系数的相关参数包括面积修正系数、居留系数、深度修正系数及覆盖修正系数。4.如权利要求1所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于：采用三角模糊函数来表示所述外照射途径环境转移系数的隶属度。5.如权利要求4所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于：所述隶属度函数表示为：其中，a，b，c分别是最小值、最可能取值和最大值。6.如权利要求1所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于：所述外照射途径环境转移系数相关参数的概率分布函数为：其中，a，b，c分别对应所述统计外照射途径环境转移系数的相关参数后的最大值、期望值以及最小值。7.如权利要求1所述的一种放射性核素污染场地外照射途径风险评估方法，其特征在于：所述形成外照射途径剂量风险评估模型时，使用蒙特卡罗方法对每个参数分别模拟生成随机数，从而得到环境转移系数的概率密度分布函数：ETF
i
(t)＝ρ
b，土
×
FO
×
FA
×
FD
i
[ρ
b，土
，T(t)]
×
FC<...

【专利技术属性】
技术研发人员：于志翔，陈海龙，廉冰，王彦，王猛，康晶，赵杨军，苏自强，董豫阳，刘畅，罗恺，陈佳，陈佳辰，蒙滨驰，杨洁，岳琪，
申请(专利权)人：中国辐射防护研究院，
类型：发明
国别省市：