一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置制造方法及图纸

技术编号:37119711 阅读:23 留言:0更新日期:2023-04-01 05:14
一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置,它涉及一种轴承测量装置。本发明专利技术为了解决目前轴承内圈幅高过小,无法进行内圈端面对内孔垂直度误差测量的问题。本发明专利技术在进行测量时,轴承内圈的一端面与测量平台相抵,第二支点与测点在轴承内圈的内圆周面相抵,沿着滑槽的长度方向滑动第一支点,使第一支点也与轴承内圈的内圆周面相抵。根据轴承内圈的幅高,调整第二支点与测点间的轴向间距。旋转轴承内圈一周,读取千分表所显示的最大与最小读数之差,进而实现对幅高过窄的轴承内圈进行内圈端面对内孔的垂直度检测,能够测量轴承幅高范围为3~50mm的轴承内圈。本发明专利技术用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测作业。圈端面对内孔垂直度检测作业。圈端面对内孔垂直度检测作业。

【技术实现步骤摘要】
一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置


[0001]本专利技术涉及一种轴承测量装置,具体涉及一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置,属于轴承测量


技术介绍

[0002]轴承内圈是轴承的重要组成部分,其作用是与轴相配合并与轴一起旋转。在传统轴承内圈检测中,当轴承内圈幅高小于11mm时,轴承内圈端面对内孔的垂直度一般不对其进行检测,主要靠加工设备保证,其原因是:如此小的内圈幅高,测量设备的测头无法抵靠在内圈的内表面,从而无法进行测量。
[0003]但航空轴承工况条件复杂苛刻,高温、高速和高载荷的工况对轴承质量要求高,对形位公差要求也越来越高,靠加工设备保证精度的方式已经不能满足航空轴承高精度发展的需求。
[0004]内圈端面对内孔垂直度误差的大小,直接影响轴承的质量,因此对于幅高过窄的轴承内圈进行端面对内孔的垂直度检测便成了本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是为了解决目前轴承内圈幅高过小,无法进行内圈端面对内孔垂直度误差测量的问题。进而提供一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置。
[0006]本专利技术的技术方案是:一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置,包括基座和千分表,千分表安装在基座的一侧,基座的另一侧固接有测量平台,测量平台的滑槽内设置有第一支点,它还包括垂直设置在测量平台表面的套筒和固接在基座内部的支架。
[0007]套筒包括第二支点和滑块,第二支点与滑块螺纹连接,滑块的横截面形状为圆形,且滑块可沿着套筒的轴线方向滑动;支架包括测杆,测杆的纵截面为“L”形,且测杆长度方向的中心处与支架铰接,测杆的一端设置有测点,测杆的另一端与千分表的测头相抵;第二支点和测点的纵截面为直角梯形。
[0008]进一步地,第二支点与测点在轴承内圈的内圆周面同一母线上最小距离为2mm。
[0009]进一步地,滑块沿套筒的轴线方向上最大的滑动距离为50mm。
[0010]本专利技术与现有技术相比具有以下效果:
[0011]1、本专利技术的第二支点3
‑2‑
1与测点4

2在轴承内圈5的内圆周面同一母线上最小距离为2mm,且滑块3
‑2‑
2沿套筒3

2的轴线方向上最大的滑动距离为50mm。在进行轴承内圈端面对内孔的垂直度检测时,能够测量轴承幅高范围为3~50mm的轴承内圈5。
[0012]2、本专利技术结构简单,通过第二支点3
‑2‑
1与测点4

2能够无限靠近的特点,实现对幅高过窄的轴承内圈5进行内圈端面对内孔的垂直度检测,克服了现有技术中当轴承内圈5幅高小于11mm时,无法进行测量的问题。
附图说明
[0013]图1是本专利技术的轴测图;
[0014]图2是本专利技术的轴测剖视图;
[0015]图3是图1中Ⅰ处的局部放大图;
[0016]图4是图2中Ⅱ处的局部放大图;
[0017]图5是本专利技术第二支点3
‑2‑
1的轴测图;
[0018]图6是图5的轴测剖视图;
[0019]图7是本专利技术对轴承内圈5进行检测时的示意图
[0020]图8是图7的轴测剖视图。
[0021]图中:1、基座,2、千分表,3、测量平台,3

1、第一支点,3

2、套筒,3
‑2‑
1、第二支点,3
‑2‑
2、滑块,4、支架,4

1、测杆,4

2、测点,5、轴承内圈。
具体实施方式
[0022]下面结合附图并通过具体实施方式作进一步描述,来说明本专利技术的技术方案。显然,下面所描述的实施方式仅仅是本专利技术一部分实施方式,而非全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施方式,都属于本专利技术保护的范围。
[0023]具体实施方式一:结合图1至图8说明本实施方式,本实施方式的一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置包括基座1和千分表2,千分表2安装在基座1的一侧,基座1的另一侧固接有测量平台3,测量平台3的滑槽内设置有第一支点3

1,它还包括垂直设置在测量平台3表面的套筒3

2和固接在基座1内部的支架4。
[0024]套筒3

2包括第二支点3
‑2‑
1和滑块3
‑2‑
2,第二支点3
‑2‑
1与滑块3
‑2‑
2螺纹连接,滑块3
‑2‑
2的横截面形状为圆形,且滑块3
‑2‑
2可沿着套筒3

2的轴线方向滑动。
[0025]支架4包括测杆4

1,测杆4

1的纵截面为“L”形,且测杆4

1长度方向的中心处与支架4铰接,测杆4

1的一端设置有测点4

2,测杆4

1的另一端与千分表2的测头相抵。第二支点3
‑2‑
1和测点4

2的纵截面为直角梯形。
[0026]本实施方式中第一支点3

1能够在测量平台3的滑槽长度方向进行滑动,且第一支点3

1与测点4

2在轴承内圈5的圆周方向上呈90
°
布置。
[0027]具体实施方式二:结合图1、图2和图4说明本实施方式,本实施方式第二支点3
‑2‑
1与测点4

2在轴承内圈5的内圆周面同一母线上最小距离为2mm。如此设置,当第二支点3
‑2‑
1和测点4

2抵靠在轴承内圈5内圆周面的同一母线上时,本实施方式最小能够测量幅高为3mm的轴承内圈5。其它组成和连接方式与具体实施方式一相同。
[0028]具体实施方式三:结合图1、图2和图4说明本实施方式,本实施方式的滑块3
‑2‑
2沿套筒3

2的轴线方向上最大的滑动距离为50mm。如此设置,当第二支点3
‑2‑
1和测点4

2抵靠在轴承内圈5内圆周面的同一母线上时,本实施方式最大能够测量幅高为50mm的轴承内圈5。其它组成和连接方式与具体实施方式一或二相同。
[0029]具体实施方式四:结合图1、图2和图4说明本实施方式,本实施方式的套筒3

2的内径与滑块3
‑2‑
2的外径间隙为0.1~0.15mm。如此设置,滑块3
‑2‑
2的外圆周面与套筒3

2的内圆周面通过间隙配合的方式滑动连接,确保滑块3
‑2‑
2沿套筒本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于轴承内圈端面对内孔垂直度检测的测量装置,包括基座(1)和千分表(2),千分表(2)安装在基座(1)的一侧,基座(1)的另一侧固接有测量平台(3),测量平台(3)的滑槽内设置有第一支点(3

1),其特征在于:还包括垂直设置在测量平台(3)表面的套筒(3

2)和固接在基座(1)内部的支架(4);所述套筒(3

2)包括第二支点(3
‑2‑
1)和滑块(3
‑2‑
2),所述第二支点(3
‑2‑
1)与滑块(3
‑2‑
2)螺纹连接,所述滑块(3
‑2‑
2)的横截面形状为圆形,且滑块(3
‑2‑
2)可沿着套筒(3

2)的轴线方向滑动;所述支架(4)包括测杆(4

1),所述测杆(4

1)的纵截面为“L”形,且测杆(4

1)长度方向的中心处与支架(4)铰接,测杆(4

1)的一...

【专利技术属性】
技术研发人员:宫凤然孙慧霖初光强陈孝林张长之王欢
申请(专利权)人:中国航发哈尔滨轴承有限公司
类型:发明
国别省市:

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