多缺陷合并方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及缺陷检测技术领域，具体而言，涉及一种多缺陷合并方法、装置、计算机设备及存储介质，一定程度上可以解决多缺陷合并处理效率低的问题。待检测图像的各初始候选缺陷区域根据预设缺陷规则，实现初始相邻距离数据的确定；基于初始相邻距离数据和预设组距，可确定相邻距离直方图；基于相邻距离直方图，可确定目标相邻距离数据；进一步，根据目标相邻距离数据的各目标相邻距离值构建结构元，初始候选缺陷区域通过结构元的形态学膨胀，可确定目标候选缺陷区域；基于各目标候选缺陷区域的连通性合并，可实现多缺陷合并区域的确定；通过直方图分析缩减数据量，以及膨胀后的目标候选缺陷区域实现多缺陷区域的合并，改善多缺陷合并的处理效率。并的处理效率。并的处理效率。

【技术实现步骤摘要】
多缺陷合并方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本申请涉及缺陷检测
，具体而言，涉及一种多缺陷合并方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在工业缺陷检测领域，缺陷可从数量上划分为单缺陷和多缺陷；其中，单缺陷为单个区域满足特征规格后会被检出为缺陷，多缺陷为一定相邻距离内，存在符合特征规格的多个缺陷。图1示出了一种缺陷检测图像，如图1所示，A处是多缺陷、B处是单缺陷，B处与A处相邻距离太大，因此B处不能和A处的缺陷合并成多缺陷。
[0003]在工业缺陷检测应用中，主要通过遍历各候选缺陷区域，确定各候选缺陷区域与其他所有候选缺陷区域之间的距离，将距离小于预设相邻距离的其他候选缺陷区域与该候选缺陷区域合并到一起，形成多缺陷。
[0004]然而，上述多缺陷合并的过程是一种穷举遍历，导致多缺陷合并的处理效率低。

技术实现思路

[0005]为了解决相关多缺陷合并处理效率低的问题，本申请提供了一种多缺陷合并方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0006]本申请的实施例是这样实现的：
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多缺陷合并方法，其特征在于，包括：确定初始相邻距离数据，所述初始相邻距离数据是从待检测图像的各初始候选缺陷区域根据预设缺陷规则确定的；基于所述初始相邻距离数据和预设组距，确定相邻距离直方图；基于所述相邻距离直方图，确定目标相邻距离数据；基于各目标候选缺陷区域的连通性合并，确定多缺陷合并区域，其中，所述目标候选缺陷区域是所述初始候选缺陷区域通过结构元的形态学膨胀确定的，所述结构元是根据所述目标相邻距离数据的各目标相邻距离值构建的。2.根据权利要求1所述的多缺陷合并方法，其特征在于，所述基于所述初始相邻距离数据和预设组距，确定相邻距离直方图，包括：基于所述初始相邻距离数据中的最大相邻距离值和最小相邻距离值的差值，确定所述初始相邻距离数据的最大距离间隔；基于所述最大距离间隔和所述预设组距，确定所述相邻距离直方图的容量；基于所述初始相邻距离数据、所述预设组距和所述相邻距离直方图的容量，确定所述相邻距离直方图。3.根据权利要求1所述的多缺陷合并方法，其特征在于，所述基于所述相邻距离直方图，确定目标相邻距离数据，包括：基于所述相邻距离直方图中各有效元素的索引值、所述预设组距和所述初始相邻距离数据中的小相邻距离值，确定目标相邻距离值；其中，所述有效元素为非零元素；基于各所述目标相邻距离值，确定目标相邻距离数据。4.根据权利要求1所述的多缺陷合并方法，其特征在于，所述初始候选缺陷区域、所述目标候选缺陷区域和所述多缺陷合并区域均为二值化的图像区域。5.根据权利要求1所述的多缺陷合并方法，其特征在于，所述基于各目标候选缺陷区域的连通性合并，确定多缺陷合并区域之前，还包括：基于所述预设缺陷规则，确定各所述初始候选缺陷区域的候选缺陷特征值映...

【专利技术属性】
技术研发人员：盖顺华，时广军，周钟海，姚毅，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：