三维形状测量系统及机床系统技术方案

一种三维形状测量系统(12)，包括图像拾取单元(50)，存储设备(40)和测量控制器(30)。存储设备(40)对于对象(100)的材料和表面特性的多个组合中的每一者，将用于测量的成像中所需的图像拾取条件存储为条件信息(42)。测量控制器(30)控制对图像拾取单元(50)的驱动。测量控制器(30)识别对象(100)的材料和表面特性，基于条件信息(42)指定与识别的对象(100)的材料和的表面特性对应的图像拾取条件，使得图像拾取单元(50)在指定的图像拾取条件下执行用于测量的成像，并且基于获得的用于测量的图像(60)测量对象(100)的形状。(60)测量对象(100)的形状。(60)测量对象(100)的形状。

【技术实现步骤摘要】
三维形状测量系统及机床系统
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年9月27日提交的日本专利申请第2021
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156958号和于2022年1月17日提交的日本专利申请第2022
‑
005238号的优先权，所述日本专利申请的每一件通过引用以其整体(包括说明书、权利要求书、附图和摘要)并入本文。


[0003]本说明书公开了基于通过拍摄对象图像获得的图像数据来测量对象的三维形状的三维形状测量系统，以及包括该三维形状测量系统的机床系统。

技术介绍

[0004]最近，已经提出了基于通过对对象进行成像而获得的图像来测量对象的三维形状的技术。例如，专利文献1公开了一种加工设备，其包括：光照射单元，其被构造为用线光照射对象；以及图像拾取单元，其被构造为拍摄由对象反射的线光的图像。在专利文献1中公开的机床基于所捕获的线光的图像来测量对象表面的三维形状。
[0005]引用列表
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：JP 2019
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维形状测量系统，包括：图像拾取单元，其被构造为具有对对象进行成像的至少一个相机；存储设备，其对于所述对象的材料和表面特性的多个组合中的每一者，将用于测量的成像中所需的图像拾取条件存储为条件信息，其中在所述用于测量的成像中，对所述对象进行成像以测量所述对象的形状；和测量控制器，其控制对所述图像拾取单元的驱动，其中，所述测量控制器识别所述对象的材料和表面特性，基于所述条件信息指定与识别的所述对象的材料和表面特性对应的图像拾取条件，使所述图像拾取单元在指定的所述图像拾取条件下执行所述用于测量的成像，并且基于获得的所述用于测量的图像来测量所述对象的形状。2.根据权利要求1所述的三维形状测量系统，其特征在于，所述测量控制器使所述图像拾取单元在所述用于测量的成像之前对所述对象进行成像，并且基于由此获得的初级图像来识别所述对象的材料和表面特性中的至少一者。3.根据权利要求2所述的三维形状测量系统，其特征在于，所述存储设备还存储学习模型，所述学习模型接收作为输入的初级图像并输出所述对象的材料和表面特性中的至少一者，并且所述测量控制器基于所述学习模型来识别所述对象的所述材料和所述表面特性中的至少一者。4.根据权利要求1至3中任一项所述的三维形状测量系统，其特征在于，所述图像拾取单元设置在机床中，以将作为所述对象的、由所述机床对其施加机械加工的工件进行成像，并且所述测量控制器基于所述工件的加工程序和所述工件的加工图中的至少任一者来识别所述对象的材料和表面特性中的至少一者。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：广田重元，片冈章人，浅野恵吾，前田将宏，
申请(专利权)人：大隈株式会社，
类型：发明
国别省市：