应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置制造方法及图纸

一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，属于计算机技术领域。本申请针对计算芯片建立的性能测试模型中，包括计算芯片中的每个数据访问通路的性能测试线。在对应用进行测试时，根据应用的运行状况数据和计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，确定应用的运行性能信息，将应用的运行性能信息，与包含每个数据访问通路的性能测试线的性能测试模型进行比对，可以获取精度更高的测试结果，提高测试准确度和测试精度。提高测试准确度和测试精度。提高测试准确度和测试精度。

【技术实现步骤摘要】
应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置


[0001]本申请涉及计算机
，尤其涉及一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置。

技术介绍

[0002]目前，各类应用的使用越来越广泛，可以用于解决各行各业的实际问题。在实际使用过程中，对一些应用的性能(如数据处理速度、时延等)的要求较高。例如，在人工智能
，对包含神经网络模型的应用的数据处理速度等有非常严格的要求。因此，为了使应用具有更好的性能，需要对应用的性能进行测试，并依据测试结果对应用程序进行优化。
[0003]由于应用需要运行在计算芯片来进行数据处理，应用的性能实际上是指应用在计算芯片上运行时的性能，因此，往往需要结合计算芯片对应用的性能进行测试。
[0004]随着计算芯片的结构越来越复杂，目前的应用的性能测试方法，针对结构复杂的计算芯片，无法获得精度和准确度较高的测试结果。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，可以提高测试准确度和测试精度。
>[0006]第一方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用的性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取应用在计算芯片上运行的运行状况数据，以及在所述应用的运行过程中，所述计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，其中，所述计算芯片包括多个内存单元；所述数据访问通路表示内存单元之间的访问路径；根据所述运行状况数据和每个数据访问通路的内存访问量，确定所述应用的运行性能信息；根据所述应用的运行性能信息和针对所述计算芯片建立的性能测试模型，获得所述应用的测试结果，其中，所述性能测试模型包括每个数据访问通路的性能测试线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述运行状况数据包括应用的运行时间，以及在所述运行时间内计算芯片中的计算单元的计算量；所述应用的运行性能信息包括每个数据访问通路的分通路性能信息；所述根据所述运行状况数据和每个数据访问通路的内存访问量，确定所述应用的运行性能信息，包括：根据所述计算量和所述运行时间，确定在所述应用的运行过程中，所述计算芯片的运算能力参数；针对每个数据访问通路，根据所述计算量和每个数据访问通路的内存访问量，确定每个数据访问通路的操作强度；根据所述运算能力参数和每个数据访问通路的操作强度，生成每个数据访问通路的分通路性能信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述应用的运行性能信息还包括每个数据通路集合的集合性能信息；每个数据通路集合包括至少一个数据访问通路，其中，同一数据通路集合中的数据访问通路不能同时访问；所述根据所述运行状况数据和每个数据访问通路的内存访问量，确定所述应用的运行性能信息，还包括：针对每个数据通路集合，根据每个数据通路集合中的数据访问通路的内存访问量的和，以及所述计算量，确定每个数据通路集合的总体操作强度；根据所述运算能力参数和每个数据通路集合的总体操作强度，生成每个数据通路集合的集合性能信息。4.根据权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述应用的运行性能信息和针对所述计算芯片建立的性能测试模型，获得所述应用的测试结果，包括：确定所述应用的运行性能信息与所述性能测试模型中每个数据访问通路的性能测试线之间的对比结果，将所述对比结果作为所述应用的测试结果。5.根据权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述应用的运行性能信息和针对所述计算芯片建立的性能测试模型，获得所述应用的测试结果，包括：确定所述应用的运行性能信息与所述性能测试模型中每个数据访问通路的性能测试线之间的对比结果；根据所述对比结果，确定用于指明对所述应用进行优化的分析结果，并将所述分析结果作为所述应用的测试结果。6.根据权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，所述性能测试模型是根据所述计算芯片的计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽建立的，所述计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽是由测试数据对所述计算芯片
进行测试确定的。7.一种建立性能测试模型的方法，其特征在于，包括：基于获取的不同数据量的多个第一测试数据，确定计算芯片的计算单元的运算能力的峰值；针对所述计算芯片的每个数据访问通路，分别基于获取的不同数据量的多个第二测试数据，确定每个数据访问通路的峰值带宽，其中，所述计算芯片包括多个内存单元，每个数据访问通路表示所述内存单元之间的访问路径；根据每个数据访问通路的峰值带宽和所述计算单元的运算能力的峰值，建立性能测试模型，其中，所述性能测试模型包括每个数据访问通路的性能测试线。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述基于获取的不同数据量的多个第一测试数据，确定所述计算芯片的计算单元的运算能力的峰值，包括：基于所述多个第一测试数据，对所述计算芯片的计算单元进行多次测试；其中，每次测试的测试过程包括：根据所述计算单元处理输入的第一测试数据的计算量和计算时间的比值，确定所述计算单元的运算能力；将每次测试确定的计算单元的运算能力中的最大值，作为所述计算芯片的计算单元的运算能力的峰值。9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述计算芯片包括如下芯片中的任意一种：中央处理器CPU芯片、张量处理器TPU芯片、神经网络处理器NPU芯片、图形处理器GPU芯片、人工智能AI芯片。10.一种应用的性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：数据获取单元，用于获取应用在计算芯片上运行的运行状况数据，以及在所述应用的运行过程中，所述计算芯片的每个数据访问通路的内存访...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏富春，王永忠，吉亚云，欧阳忠清，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：