一种用于光收发模块低温测试的温变箱及防凝霜系统技术方案

本发明专利技术适用于光收发模块测试技术领域，提供一种用于光收发模块低温测试的温变箱及防凝霜系统，所述系统包括：温变箱、循环水箱、温度控制主机、空气压缩器、空气干燥过滤装置，其中所述空气压缩器、空气干燥过滤装置和温变箱的进气口通过管道依次连接，所述循环水箱连接至两端的水管接头，所述温度控制主机连接至两个半导体温控台的制冷板。本系统具有低噪音、结构简单、通用化高、实用性强的特点，可解决产生凝霜凝露的问题，设备结构简单、易安装、后期维护成本低。维护成本低。维护成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光收发模块低温测试的温变箱及防凝霜系统


[0001]本专利技术属于光收发模块测试
，尤其涉及一种用于光收发模块低温测试的温变箱及防凝霜系统。

技术介绍

[0002]目前，光收发模块的温度测试，需要在高温、低温以及常温的环境下进行测试，其中采用半导体制冷平台进行低温测试，该半导体制冷平台具有降温速度快、体积小以及控温精准的优点。光收发模块的低温测试温度一般在0℃
‑
40℃之间，不同模块测试温度有所不同。被测试的光收发模块放入半导体制冷平台后，半导体制冷平台可以快速将被测模块降至所需温度从而启动测试。因半导体制冷平台整体处于普通环境中，在零下低温下，空气中的水汽将会在制冷平台内部的变温区表面形成凝露和凝霜并包裹住变温区。制冷平台自身很容易形成冰层凝露凝霜，使得测试台绝缘性降低；凝露凝霜的长期积累，会使制冷平台自身生锈，减少了使用寿命；也容易引起带电的元器件短路以及水汽会对测试台产生一定的腐蚀，因此就埋下了一些安全隐患。对于光收发模块自身来说，会影响到其在低温环境下测试的指标准确度，不仅降低了测试可靠性、也降低了产品自本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光收发模块低温测试的温变箱，包括箱体，其特征在于，所述箱体内从下至上依次为下层半导体温控台、光收发模块承载台、上层半导体温控台，所述箱体内还安装有用于驱动上层半导体温控台上下移动的升降机构，两个半导体温控台两端均连接有水管接头，所述光收发模块承载台设于下层半导体温控台制冷板的制冷端，所述上层半导体温控台制冷板的制冷端朝向所述光收发模块承载台设置，所述箱体上还开有进气口。2.如权利要求1所述用于光收发模块低温测试的温变箱，其特征在于，所述光收发模块承载台上开设有若干测试位和预冷位。3.如权利要求1所述用于光收发模块低温测试的温变箱，其特征在于，所述下层半导体温控台通过下板安装在箱体底部，所述上层半导体温控台通过上板安装至所述升...

【专利技术属性】
技术研发人员：王羽欣，卢永雄，张德晶，何俊，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：