传感器老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:37058114 阅读:50 留言:0更新日期:2023-03-29 19:34
本实用新型专利技术公开了传感器老化测试装置,包括测试柜,测试柜的顶端固定安装有显示器,测试柜的一侧固定安装有线路架,线路架的内部固定安装有若干个安装杆,若干个安装杆的表面均固定安装有若干个测量模块,线路架的一侧的两端均固定安装有扩展接线盒,本实用新型专利技术传感器老化测试装置,该测试装置采集精度高、稳定性好、主要解决变送器批量生产过程中,对产品进行老化时的数据监测与采集,对产品高精度校准提供参数依据,通过对变送器进行老化测试,可大大延长变送器的使用寿命,减少了因变送器自身问题造成的故障现象,确保变送器的稳定运行,进一步提高变送器测量精度和长期稳定性和可靠性。可靠性。可靠性。

【技术实现步骤摘要】
传感器老化测试装置


[0001]本技术涉及传感器测试
,具体为传感器老化测试装置。

技术介绍

[0002]压力传感器、变送器属于精密电子测量产品,内部电子元器件的温漂对产品的性能指标和稳定性,影响很大,为获得高精度测量结果和产品一致性,需要对产品进行老化处理,依据老化时的测量结果进行温度补偿,老化测量结果的精度决定了产品最终精度与特性,老化测试装置其原理及作用是通过给电子元器件或电子设备施加某种热的、电的、机械的或者多种结合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,使它们内部的潜在故障加速暴露出来,然后进行电气参数测量,筛选剔除那些失效或变值的元器件,尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。
[0003]但是,传统的老化测试装置存在以下缺点:
[0004](1)传统的老化测试装置基于高温老化试验箱的静态老化,然在高温储存老化的基础上为传感器加了静态电流,但还是不能还原传感器的真实工作状态,同时由于在老化过程中不能监控传感器的状态,容易使传感器产生损坏;
[0005](2)传统的老化测试装置通过对传感器加工及其组装工艺过程进行老化本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.传感器老化测试装置,包括测试柜(7),其特征在于:所述测试柜(7)的顶端固定安装有显示器(4),所述测试柜(7)的一侧固定安装有线路架(1),所述线路架(1)的内部固定安装有若干个安装杆(8),若干个所述安装杆(8)的表面均固定安装有若干个测量模块(3),所述线路架(1)的一侧的两端均固定安装有扩展接线盒(2),若干个所述测量模块(3)均包括数据采集单元电路(301)、选通开关(302)、信号放大单元(303)、滤波单元(304)、AD转换芯片(305)、显示电路(306)、输出电路(307)、主芯片(308)、通讯芯片(309)和前端自动量程转换单元(310)。2.根据权利要求1所述的传感器老化测试装置,其特征在于:所述数据采集单元电路(301)的一侧通过导线与选通开关(302)的一侧连接,所述选通开关(302)的另一侧通过导线与信号放大单元(303)的一侧连接,所述信号放大单元(303)的另一侧通过导...

【专利技术属性】
技术研发人员:张会军
申请(专利权)人:天水逢泰科技有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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