【技术实现步骤摘要】
一种硅压阻压力传感器自动补偿微调设备及方法
[0001]本专利技术属于仪器仪表制造
,涉及一种硅压阻压力传感器自动补偿微调设备及方法。
技术介绍
[0002]硅压阻压力芯体是硅压阻式压力传感器的重要感压部件,通常形式为由四个力敏电阻组成的惠斯通电桥。硅压阻压力芯体需要补偿后才能实现工程应用的原因主要为以下2点:1)惠斯通电桥上的电阻要在相同环境下阻值表现相同,才能保证在无压力条件时,电桥输出为0。事实上由于生产工艺的限制,力敏电阻的表面掺杂浓度会有误差,导致很难寻得四个完全相同的力敏电阻,基于这种情况出现的输出偏移,称为零点漂移。2)由于力敏电阻属于半导体材料,其阻值除与外部压力呈线性关系外,还会受温度影响会产生温度漂移,同样由于生产工艺限制,力敏电阻的温漂程度也有区别。
[0003]为克服以上原因导致的硅压组压力芯体精度不够问题,《一种硅压阻压力传感器温度补偿电路》(CN202220745706.0)等专利或论文给出了补偿电路的设计方法,《一种硅压阻温度补偿评估方法》(CN201410667309.6)给出了 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,包括主控制器(1)、元器件参数检测模块、补偿电阻等效模块和传感器精度测试模块;主控制器1用于控制元器件参数检测模块、补偿电阻等效模块和传感器精度测试模块的设备参数,和用于读取补偿电阻等效模块和元器件参数检测模块的测量值;元器件参数检测模块用于批量完成待选电阻的参数检测;补偿电阻等效模块用于等效主控制器(1)输出的等效电阻值;传感器精度测试模块用于传感器精度测试和提供测试环境。2.根据权利要求1所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,元器件参数检测模块包括相互电连接万用表Ⅱ(9)和程控开关(10);万用表Ⅱ(9)电连接主控制器(1)。3.根据权利要求2所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,批量完成待选电阻的参数检测的过程如下:利用万用表Ⅱ(9)测量程控开关(10)内放置的若干待选元器件参数,存入主控制器(1)中。4.根据权利要求2所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,所述的程控开关(10)具有手自转换键、手动切换键和若干待选元器件安装位,每个安装位配有指示灯,通过手动或自动切换完成程控开关各位置通断,实现元器件参数的测量。5.根据权利要求1所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,所述的补偿电阻等效模块包括包括焊盘夹具(5)、程控恒流源(6)、程控变阻器(7);焊盘夹具(5)上配有两组弹簧顶针和测试线缆;焊盘夹具(5)通过弹簧顶针与传感器待补偿电阻位连接,通过测试线缆分别与程控恒流源(6)、程控变阻器(7)连接;程控恒流源(6)、程控变阻器(7)均电连接主控制器(1)。6.根据权利要求5所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,补偿电阻等效模块的工作过程如下:主控制器(1)向程控变阻器(7)发出补偿参数R1,在程控变阻器(7)调节的过程中主控制器(1)收到程控恒流源(6)回传的电压值U1和电流值I1,当U1/I1与R1相等时,补偿电阻等效模块完成C1参数的等效工作。7.根据权利要求1所述的硅压阻压力传感器自动补偿微调设备,其特征在于,所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡煜,易少凡,肖文帅,
申请(专利权)人:武汉航空仪表有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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