一种QSFP有源光缆测试治具制造技术

技术编号:37021890 阅读:13 留言:0更新日期:2023-03-25 18:55
本实用新型专利技术涉及光缆测试技术领域,具体涉及一种QSFP有源光缆测试治具,包括调温面板、感温块、支撑块和第一凸起,调温面板与感温块连接,感温块的边缘与支撑块和第一凸起连接,调温面板用于调节测试治具的温度,并保持恒温,通过感温块对第一凸起的温度进行调节,支撑块位于第一凸起的侧边,支撑块用于放置QSFP有源光缆测试板,第一凸起相对支撑块凸起,凸起高度为QSFP有源光缆测试板厚度,QSFP有源光缆测试板上设置有与第一凸起大小一致的缺口,感温块只需要能够给第一凸起恒温的大小,因此整个测试治具所占测试人员测试台面较小,只需将第一凸起嵌入QSFP有源光缆测试板的缺口,再将QSFP有源光缆插入QSFP有源光缆测试板就可以进行高温或低温测试,操作方便。操作方便。操作方便。

【技术实现步骤摘要】
一种QSFP有源光缆测试治具


[0001]本技术涉及光缆测试
,具体涉及一种QSFP有源光缆测试治具。

技术介绍

[0002]在有源光缆的高速发展下,QSFP有源光缆所应用的领域、环境越来越广,因此对QSFP有源光缆的质量有了新的要求,包括高温和低温环境下的稳定使用,而这些QSFP有源光缆在研发测试阶段就需要对各种环境下的误码率进行准确的测试,以对产品参数有准确的了解。
[0003]目前,测试QSFP有源光缆处于高温或低温时的误码率时,需要将光缆连同测试板一起放入高温箱或低温箱,一方面,专业的高温箱和低温箱价格昂贵,且体积大,所消耗的功率也大,会进一步的增大企业成本,另一方面,但是目前高温箱或低温箱是对光缆连同测试板进行整体的加热或降温,而测试板的芯片及电路不适应高温或低温环境,在高温或低温环境下所测试的数据容易出现偏差,因此亟需一种只对光缆部分进行直接调温且低功耗小型化的QSFP有源光缆测试治具。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于:针对目前QSFP有源光缆无法方便快捷的测试高温或低温时的误码率的问题,设计一种QSFP有源光缆测试治具,通过凸起将温度直接传递于QSFP有源光缆。
[0005]为了实现上述技术目的,本技术提供了以下技术方案:
[0006]一种QSFP有源光缆测试治具,包括调温面板、感温块、支撑块和第一凸起,
[0007]所述调温面板与所述感温块连接,所述感温块的边缘与所述支撑块和所述第一凸起连接,所述调温面板用于调节测试治具的温度,并保持恒温,通过所述感温块对所述第一凸起的温度进行调节,
[0008]所述支撑块位于所述第一凸起的侧边,所述支撑块用于放置QSFP有源光缆测试板,所述第一凸起相对所述支撑块凸起,凸起高度为所述QSFP有源光缆测试板的厚度,
[0009]所述QSFP有源光缆测试板上设置有与所述第一凸起大小一致的缺口,QSFP有源光缆插入所述QSFP有源光缆测试板,所述第一凸起嵌入所述QSFP有源光缆测试板的缺口与QSFP有源光缆直接接触。
[0010]进一步的,所述第一凸起与QSFP有源光缆的接触面还包括填充层,所述填充层质地柔软,用于所述第一凸起与QSFP有源光缆接触后填充接触面的空隙。
[0011]进一步的,所述第一凸起内部设置第一空腔,所述第一空腔用于填充液氮使所述第一凸起降温。
[0012]进一步的,所述感温块设置有第二空腔,所述第二空腔用于放置待测试的QSFP有源光缆。
[0013]进一步的,所述第二空腔入口向内部方向的高度逐渐降低,在所述第二空腔的内
部形成凹陷。
[0014]进一步的,所述支撑块在所述QSFP有源光缆测试板的电源接口处设置有第一凹陷,所述第一凹陷避免所述QSFP有源光缆测试板的电源接口与所述支撑块直接接触。
[0015]进一步的,所述感温块为正方体形状,所述QSFP有源光缆测试板为圆盘形状,所述感温块的边长等于所述QSFP有源光缆测试板的直径。
[0016]进一步的,所述支撑块支撑QSFP有源光缆插入所述QSFP有源光缆测试板的一侧,所述感温块上还设置有多个隔温棒,所述隔温棒与所述支撑块高度一致,用于与所述支撑块一同放置所述QSFP有源光缆测试板。
[0017]进一步的,所述感温块上设置有多个限位块,所述限位块位于所述QSFP有源光缆测试板的边缘。
[0018]进一步的,所述支撑块上设置有定位孔,所述定位孔用于将所述QSFP有源光缆测试板所述支撑块固定连接。
[0019]与现有技术相比,本技术的有益效果:
[0020]1、目前,测试QSFP有源光缆处于高温或低温时的误码率时,需要将光缆连同测试板一起放入高温箱或低温箱,当高温箱或低温箱回对测试板也进行加热或降温,而本申请所公开的技术方案通过所述第一凸起嵌入所述QSFP有源光缆测试板的缺口与QSFP有源光缆直接接触,所述第一凸起只与QSFP有源光缆测试板的缺口处有小部分接触,与测试板其他部分包括芯片及电路等部件均无直接接触,可保持测试板的正常运行,所述第一凸起与QSFP有源光缆的接头大小一致,所述感温块只需要能够给所述第一凸起恒温的大小,因此整个测试治具相对需要将整个QSFP有源光缆测试板和QSFP有源光缆装入的高温箱或低温箱会小很多,所占测试人员测试台面较小,测试人员只需将所述第一凸起嵌入QSFP有源光缆测试板的缺口,再将QSFP有源光缆插入QSFP有源光缆测试板就可以进行高温或低温测试,操作方便;
[0021]2、物体之间无缝隙直接接触传递温度的效果最好,可以最大限度的避免温度向空气流失,因此在所述第一凸起与QSFP有源光缆的接触面还设置了填充层,所述填充层质地柔软,在受到QSFP有源光缆按压后产生形变,将接触面之间的缝隙填满,传递温度效果好。进一步的,所述填充层为粘性材质,产生形变后还可以将QSFP有源光缆与所述第一凸起粘连,使连接稳固;
[0022]3、所述调温面板难以将温度降至零度以下,因此本申请所公开的技术方案中,通过在所述第一凸起内部设置第一空腔,通过在所述第一空腔用于填充液氮使所述第一凸起降温,进而测试QSFP有源光缆的低温误码率;
[0023]4、在QSFP有源光缆测试治具开始工作后,会对多条QSFP有源光缆,而测试过程中会保持温度恒定,减低频繁的升温降温所带来的能量损耗,因此在所述感温块设置第二空腔,所述第二空腔用于放置待测试的QSFP有源光缆,使QSFP有源光缆在测试前进行温度过度,避免QSFP有源光缆从常温状态下直接接触高温或低温的所述第一凸起,造成QSFP有源光缆损坏,同时,进过温度过度的QSFP有源光缆可以更快的到达所要求的测试温度,缩短测试时间,提高测试效率。进一步的,将所述第二空腔设置为入口高于内部,可以使QSFP有源光缆放置在所述第二空腔的内部,QSFP有源光缆放置在所述第二空腔后向内部移动,避免掉落;
[0024]5、为了所述QSFP有源光缆测试板的进一步的稳定运行和安全,所述支撑块在所述QSFP有源光缆测试板的电源接口处设置有第一凹陷,避免电源接口与测试治具的直接接触,确保测试的稳定运行;
[0025]6、所述感温块的边长与所述QSFP有源光缆测试板直径相同,所述QSFP有源光缆测试板放置在所述感温块内部,保证对QSFP有源光缆的恒温测试,进一步的所述QSFP有源光缆测试板底部有各种功能模块和芯片,这些功能模块和芯片也不适宜与高温或低温物体直接接触,因此所述支撑块支撑QSFP有源光缆插入所述QSFP有源光缆测试板的一侧,对于悬空的部分,设置多个隔温棒,所述支撑块和所述隔温棒均避开功能模块和芯片,使QSFP有源光缆测试板稳定运行;
[0026]7、所述感温块的边长与所述QSFP有源光缆测试板直径相同,因此可以在所述感温块四个直角处设置限位块,将所述QSFP有源光缆测试板限制在所述感温块内,在进行测试操作时也可以保持稳定,同时方便取放,进一步的在支撑块上设置有定位孔,所述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种QSFP有源光缆测试治具,其特征在于:包括调温面板、感温块(2)、支撑块(3)和第一凸起(4),所述调温面板与所述感温块(2)连接,所述感温块(2)的边缘与所述支撑块(3)和所述第一凸起(4)连接,所述调温面板用于调节测试治具的温度,并保持恒温,通过所述感温块(2)对所述第一凸起(4)的温度进行调节,所述支撑块(3)位于所述第一凸起(4)的侧边,所述支撑块(3)用于放置QSFP有源光缆测试板(1),所述第一凸起(4)相对所述支撑块(3)凸起,凸起高度为所述QSFP有源光缆测试板(1)的厚度,所述QSFP有源光缆测试板(1)上设置有与所述第一凸起(4)大小一致的缺口,QSFP有源光缆插入所述QSFP有源光缆测试板(1),所述第一凸起(4)嵌入所述QSFP有源光缆测试板(1)的缺口与QSFP有源光缆直接接触。2.如权利要求1所述的一种QSFP有源光缆测试治具,其特征在于:所述第一凸起(4)与QSFP有源光缆的接触面还包括填充层(5),所述填充层(5)质地柔软,用于所述第一凸起(4)与QSFP有源光缆接触后填充接触面的空隙。3.如权利要求2所述的一种QSFP有源光缆测试治具,其特征在于:所述第一凸起(4)内部设置第一空腔(6),所述第一空腔(6)用于填充液氮使所述第一凸起(4)降温。4.如权利要求1所述的一种QSFP有源光缆测试治具,其特征在于:所述感温块(2)设置有第二空腔(7),所述第二空腔(7)用于放置待测试的QSFP有源光缆。5....

【专利技术属性】
技术研发人员:陈海民
申请(专利权)人:深圳市睿海光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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