用于测试至少一个插接元件的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于测试至少一个插接元件的装置，具有：可插入到插接元件中进行测试的测试元件；插接元件容纳部，用于布置插接元件(2)；测试元件容纳部，用于布置测试元件；其中插接元件容纳部和测试元件容纳部沿着测试轴可移动以进行插接；力传感器，其被设计为在沿着测试轴插接时确定力并将其作为力信号提供；装置具有补偿元件，用于补偿插接元件与测试元件之间的偏移；补偿元件沿至少一个空间轴线被构造为至少部分弹性的；测试元件容纳部与补偿元件以有效连接的方式被布置为，使测试元件沿着空间轴线可弹性地移动。本发明专利技术还涉及一种用于测试至少一个插接元件的方法以及制造用于测试至少一个插接元件的装置中的补偿元件的方法。件的方法。件的方法。

【技术实现步骤摘要】
用于测试至少一个插接元件的装置


[0001]本专利技术涉及一种用于测试插拔式连接(Steckverbindung)的至少一个插接元件(Steckelement)的装置。本专利技术还涉及一种用于测试插拔式连接的插接元件的方法。本专利技术还涉及到根据本专利技术的补偿元件在用于测试插拔式连接的插接元件的装置中的应用。此外，本专利技术还涉及根据本专利技术的补偿元件的制造，该补偿元件应用在用于测试插拔式连接的插接元件的装置中。

技术介绍

[0002]在许多应用中都用到插拔式连接。例如，插拔式连接在电气行业中被称为电插拔连接，用于将导电元件彼此连接和建立电接触。然而，插拔式连接在其它领域也是已知的，例如在管线构建中，其中两个管道通过插接在一起而彼此连接并实现连续的管线。插接元件在光学行业中也是已知的，例如用于连接光学线路。光学线路例如是所谓的光纤。
[0003]在电气行业中，两个插接元件之间的连接，即所谓的插拔式连接，通常是可逆的，其中插拔式连接由两个插接元件实现。第一插接元件通过结合(Zusammenf
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hren)与另一个插接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试至少一个插接元件(2)的装置(1)，具有：测试元件(6)，所述测试元件能够插入到所述插接元件(2)中进行测试；插接元件容纳部(4)，所述插接元件(2)布置在所述插接元件容纳部中；测试元件容纳部(3)，所述测试元件(6)布置在所述测试元件容纳部中，其中所述插接元件容纳部(4)和所述测试元件容纳部(3)被布置为能够沿着测试轴(Z)移动以进行插接；力传感器(5)，所述力传感器被设计为在沿着所述测试轴(Z)插接的过程中确定力(50)并将其作为力信号(51)提供；其特征在于，所述装置(1)具有补偿元件(7)，用于补偿所述插接元件(2)与所述测试元件(6)之间的偏移；所述补偿元件(7)沿至少一个空间轴线(X，Y)被构造为至少部分弹性的；所述测试元件容纳部(3)与所述补偿元件(7)以有效连接的方式被布置为，使所述测试元件(6)能够沿着所述空间轴线(X，Y)弹性地移动。2.根据权利要求1所述的装置(1)，其特征在于，所述测试元件(6)能够可逆固定地布置在所述测试元件容纳部(3)中；所述插接元件(2)能够可逆固定地布置在所述插接元件容纳部(4)中；并且所述测试元件(6)适于与所述插接元件(2)形成插拔式连接(64)。3.根据权利要求1或2所述的装置(1)，其特征在于，所述补偿元件(7)能够沿第一空间轴线(X)弹性地移动；所述第一空间轴线(X)基本上垂直于所述测试轴(Z)；或者所述补偿元件(7)能够沿第一空间轴线(X)和第二空间轴线(Y)弹性地移动；所述第一空间轴线(X)和所述第二空间轴线(Y)基本上垂直于所述测试轴(Z)；并且所述第一空间轴线(X)和所述第二空间轴线(Y)形成二维坐标系。4.根据权利要求3所述的装置(1)，其特征在于，所述第一空间轴线(X)和所述第二空间轴线(Y)形成45
°
至135
°
之间的角度，优选形成90
°
的角度。5.根据权利要求3或4所述的装置(1)，其特征在于，所述补偿元件(7)布置在所述测试元件容纳部(3)与主体(32)之间；所述补偿元件(7)沿所述测试轴(Z)的方向具有弹性常数(71)；所述补偿元件(7)沿第一轴线(X)的方向具有弹性常数(72)；所述补偿元件(7)沿所述第二轴线(Y)的方向具有弹性常数(73)；所述第一轴线(X)的弹性常数(72)比沿所述测试轴(Z)方向的弹性常数(71)低至少二十倍；并且所述第二轴线(Y)的弹性常数(73)比沿所述测试轴(Z)方向的弹性常数(71)低至少二十倍。6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置(1)，其特征在于，所述插接元件容纳部(4)容纳至少两个插接元件(2)；所述装置(1)具有准备机构(42)，用于沿至少一个垂直于所述测试轴(Z)的轴线(X，Y)移动所述插接元件容纳部(4)，所述准备机构(42)被设计为，将至少两个插接元件(2)中的任一个提供到所述测试轴(Z)上的位置(21)处；和/或所述测试元件容纳部(3)在更换库中容纳至少两个测试元件(6)，所述更换库被设计为，将所述至少两个测试元件(6)中的任一个提供到所述测试轴(Z)上的位置(61)处。7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置(1)，其特征在于，所述装置(1)具有调节机构(8)；所述调节机构(8)被设计为，在所述测试元件容纳部(3)与所述插接元件容纳部(4)之间沿着所述测试轴(Z)移动一距离(9)以进行插接；并且所述调节机构(8)被设计为，确定沿着所述测试轴(Z)移动的距离(9)并将其作为距离信号(91)提供。8.根据前述权利要求中任一项所述的装置(1)，其特征在于，所述补偿元件(7)具有带
有第一表面(74)的外部区域(11)；所述补偿元件(7)具有带有第二表面(75)的内部区域(12)；所述内部区域(12)通过至少一个弹性元件(13，15)与所述外部区域(11)连接；所述第一表面(74)被设计为与所述调节机构(8)连接；所述第二表面(75)被设计为与所述测试元件容纳部(4)连接；并且所述内...

【专利技术属性】
技术研发人员：R，
申请(专利权)人：基斯特勒控股公司，
类型：发明
国别省市：