一种集成电路老化测试插座制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路老化测试插座。本实用新型专利技术，包括测试组件，测试组件的表面设置有测试底座，所述测试组件的表面设置有防尘装置，所述防尘装置包括矩形板，所述矩形板的表面与测试组件的表面固定连接，所述矩形板的表面固定连有连接块，所述连接块的表面固定连接有转轴，所述转轴的圆弧面转动连接有连接框，所述连接框的截面呈“U”形，所述连接框远离矩形板的一侧表面固定连接有防尘罩，防尘罩的侧面固定连接有固定杆，所述固定杆的截面呈“L”形，解决了现有技术中存在放置状态下的测试插座会受到灰尘的附着侵害，影响其正常使用功能和寿命的问题。影响其正常使用功能和寿命的问题。影响其正常使用功能和寿命的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路老化测试插座


[0001]本技术涉及集成电路
，尤其涉及一种集成电路老化测试插座。

技术介绍

[0002]集成电路是电路小型化的方式，其在应用最为广泛的使半导体工业，在集成电路的使用过程中为了确保其正常的使用功能，会对集成电路的各个方面进行测试，其中对其老化方面的测试就涉及到测试插座的使用。
[0003]测试插座的对集成电路测试时，一般是将集成电路插设在测试插座上，使集成电路的连接与插座中的测试端相连接，从而完成测试，专利技术人在实际使用过程中发现，测试插座的测试端是裸露在外的，不使用的长期久置在空气中会使空气中的灰尘落入测试端口，从而附着在测试端口的零部件上，使内壁零部件受到损坏，影响测试插座的使用寿命，为了应对上述问题，使用者通常在不使用测试插座时，会将其放置进工具箱中，从而使灰尘不易若如测试端口，对内部零部件造成损伤，进而保证了测试插座的正常使用。
[0004]但在实际使操作过程中发现，放置在工具箱中的方式确实可以对测试插座起到一定的防尘效果，但因工具箱中的工具多且杂乱，所以放置在其中的插座会与其他工具产生碰到导致损坏，且从工具上也会附着灰尘杂质，也可能附着到测试插座的测试端，导致影响其正常的使用功能。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在放置状态下的测试插座会受到灰尘的附着侵害，影响其正常使用功能和寿命的缺点，而提出的一种集成电路老化测试插座。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种集成电路老化测试插座，包括测试组件，测试组件的表面设置有测试底座，所述测试组件的表面设置有防尘装置，所述防尘装置包括矩形板，所述矩形板的表面与测试组件的表面固定连接，所述矩形板的表面固定连有连接块，所述连接块的表面固定连接有转轴，所述转轴的圆弧面转动连接有连接框，所述连接框的截面呈“U”形，所述连接框远离矩形板的一侧表面固定连接有防尘罩。
[0007]上述部件所达到的效果为：当在测试插座不使用时，沿着转轴转动防尘罩使防尘罩与测试组件的测试口相贴合，从而使其在放置不使用时不易将灰尘落入其中，影响测试组件中内部零件的使用，从而在一定程度上保护了零部件的正常使用，同时也更好的进行储存，从而延长了测试插座的使用寿命。
[0008]优选的，所述防尘罩的侧面固定连接有固定杆，所述固定杆的截面呈“L”形，所述测试组件的侧面固定连接有固定块，所述固定块的表面开设有卡槽，所述固定杆的圆弧面与固定块的卡槽内壁相卡接。
[0009]上述部件所达到的效果为：通过固定杆卡接在卡槽中，使防尘罩在使用时可以稳定对测试组件的测试口进行遮蔽，不易晃动，从而更好的使灰尘不易进入测试组件的内壁。
[0010]优选的，所述固定块为橡胶块，所述固定块的卡槽截面呈圆弧形，所述卡槽的内壁与固定杆的圆弧面相适配。
[0011]上述部件所达到的效果为：通过圆弧形橡胶卡槽的设置，使固定杆更加稳定卡接，从而使防尘罩在使用时的稳定性等到进一步的增强，更好的使灰尘不易进入，使内部零件受到损坏。
[0012]优选的，所述防尘罩的表面靠近测试组件的一侧固定连接有密封垫，所述密封垫为橡胶垫。
[0013]上述部件所达到的效果为：通过防尘罩的设置，减小了防尘罩对测试组件的测试口进行时的缝隙，从而使灰尘更加不易进入内壁，从而使内部零部件得到更好的防护，延长了测试插座的试验寿命。
[0014]优选的，所述测试底座的表面靠近测试组件的一侧设置有固定装置，所述固定装置，所述固定装置包括安装座，所述安装座与测试底座的表面固定连接，所述安装座远离测试底座的一侧表面固定连接有支撑杆，所述支撑杆的圆弧面转动连接有连接板，所述连接板的表面螺纹连接有螺杆，所述螺杆靠近测试组件的一端固定连接有压板。
[0015]上述部件所达到的效果为：当将集成电路插设在测试组件上进行测试时，转动连接板使螺杆对准集成电路，然后转动螺杆，使压板与集成电路接触挤压，从而集成电路测试时不易产生晃动，可以更好的进行测试，得出更加精准的测试结果。
[0016]优选的，所述连接板的表面开设有转孔，所述转孔的内壁与支撑杆的圆弧面转动连接。
[0017]上述部件所达到的效果为：通过转孔实现支撑杆与连接板的转动，从而在将集成电路插设在测试组件上时不易被阻碍遮挡，从而提高了固定装置的便捷性和实用性。
[0018]优选的，所述螺杆的远离压板的一侧固定连接有旋钮，所述旋钮的圆弧面设有防滑条纹。
[0019]上述部件所达到的效果为：通过旋钮的设置，使螺杆更加便捷的转动使用，更好的对集成电路在测试时进行固定，从而更加精确的对集成电路的老化方面进行测试。
[0020]综上所述，本技术的有益效果为：
[0021]可以在测试插座不使用时，对其进行防护和方便储存，使久置状态下的测试插座的内部不易进入灰尘，从而内部零部件不易受到灰尘的侵害，影响其正常的试验功能，在一定程度上延长了测试插座的使用寿命。
附图说明
[0022]图1为本技术的立体结构示意图；
[0023]图2为本技术图1的侧面立体结构示意图；
[0024]图3为本技术防尘装置的立体结构示意图；
[0025]图4为本技术固定装置的立体结构示意图。
[0026]图例说明：1、测试组件；2、测试底座；3、防尘装置；31、矩形板；32、连接块；33、转轴；34、连接框；35、防尘罩；36、固定杆；37、固定块；38、卡槽；39、密封垫；4、固定装置；41、安装座；42、支撑杆；43、连接板；44、转孔；45、螺杆；46、压板；47、旋钮。
具体实施方式
[0027]参照图1所示，本技术提供一种技术方案：一种集成电路老化测试插座，包括测试组件1，测试组件1的表面设置有测试底座2，测试组件1的表面设置有防尘装置3，测试底座2的表面靠近测试组件1的一侧设置有固定装置4。
[0028]下面具体说一下其防尘装置3和固定装置4的具体设置和作用。
[0029]参照图2所示，本实施方案中：防尘装置3包括矩形板31，矩形板31的表面与测试组件1的表面固定连接，矩形板31的表面固定连有连接块32，连接块32的表面固定连接有转轴33，转轴33的圆弧面转动连接有连接框34，连接框34的截面呈“U”形，连接框34远离矩形板31的一侧表面固定连接有防尘罩35，当在测试插座不使用时，沿着转轴33转动防尘罩35使防尘罩35与测试组件1的测试口相贴合，从而使其在放置不使用时不易将灰尘落入其中，影响测试组件1中内部零件的使用，从而在一定程度上保护了零部件的正常使用，从而延长了测试插座的使用寿命，防尘罩35的侧面固定连接有固定杆36，固定杆36的截面呈“L”形，测试组件1的侧面固定连接有固定块37，固定块37的表面开设有卡槽38，固定杆36的圆弧面与固定块37的卡槽38内壁相卡接，通过固定杆36卡接在卡槽38中，使防尘罩35在使用时可以稳定对测试组件1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路老化测试插座，包括测试组件(1)，其特征在于：所述测试组件(1)的表面设置有测试底座(2)，所述测试组件(1)的表面设置有防尘装置(3)，所述防尘装置(3)包括矩形板(31)，所述矩形板(31)的表面与测试组件(1)的表面固定连接，所述矩形板(31)的表面固定连有连接块(32)，所述连接块(32)的表面固定连接有转轴(33)，所述转轴(33)的圆弧面转动连接有连接框(34)，所述连接框(34)的截面呈“U”形，所述连接框(34)远离矩形板(31)的一侧表面固定连接有防尘罩(35)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路老化测试插座，其特征在于：所述防尘罩(35)的侧面固定连接有固定杆(36)，所述固定杆(36)的截面呈“L”形，所述测试组件(1)的侧面固定连接有固定块(37)，所述固定块(37)的表面开设有卡槽(38)，所述固定杆(36)的圆弧面与固定块(37)的卡槽(38)内壁相卡接。3.根据权利要求2所述的一种集成电路老化测试插座，其特征在于：所述固定块(37)为橡胶块，所述固定块(37)的卡槽(38)截面呈圆弧形，所述卡槽(38)的内壁与固定杆(36)的圆...

【专利技术属性】
技术研发人员：卿琼，
申请(专利权)人：东莞市郡仁司电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：