SSD长稳测试结果的统计方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及SSD长稳测试结果的统计方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：执行长稳测试；生成测试日志和信息；配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；判断检测结果是否符合预期；若检测结果不符合预期，则停止测试并告警。本发明专利技术可通过简单的配置测试检查项集合，来达到不同业务场景需要不同测试检查项的目的，不需要多次重新开发脚本，不需要维护多套检查脚本，节约了开发时间和维护成本，提高了测试开发及维护效率。提高了测试开发及维护效率。提高了测试开发及维护效率。

【技术实现步骤摘要】
SSD长稳测试结果的统计方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及SSD长稳测试结果的统计
，尤其是指SSD长稳测试结果的统计方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有SSD长稳测试结果的统计是通过shell开发编写一套测试脚本以及检查脚本，每套脚本仅适用于当前业务场景，多个场景需要多套测试脚本，无法使用同一套脚本根据场景需要动态调整检查项。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供SSD长稳测试结果的统计方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]第一方面，本实施例提供了一种SSD长稳测试结果的统计方法，包括以下步骤：
[0006]执行长稳测试；
[0007]生成测试日志和信息；
[0008]配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；
[0009]判断检测结果是否符合预期；
[0010]若检测结果不符合预期，则停止测试并告警。
[0011]其进一步技术方案为：所述长稳测试包括各类IO模型测试或单点用例模型测试。
[0012]其进一步技术方案为：所述测试日志和信息包括盘片常用状态信息、盘片告警信息、盘片系统日志及主机日志。
[0013]其进一步技术方案为：所述配置检查项指的是通过下拉列表进行选择配置检查项的内容或通过界面进行自定义配置检查项内容。
[0014]第二方面，本实施例提供了一种SSD长稳测试结果的统计装置，包括：执行单元、生成单元、配置检测单元、判断单元及停止单元；
[0015]所述执行单元，用于执行长稳测试；
[0016]所述生成单元，用于生成测试日志和信息；
[0017]所述配置检测单元，用于配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；
[0018]所述判断单元，用于判断检测结果是否符合预期；
[0019]所述停止单元，用于若检测结果不符合预期，则停止测试并告警。
[0020]其进一步技术方案为：所述长稳测试包括各类IO模型测试或单点用例模型测试。
[0021]其进一步技术方案为：所述测试日志和信息包括盘片常用状态信息、盘片告警信息、盘片系统日志及主机日志。
[0022]其进一步技术方案为：所述配置检查项指的是通过下拉列表进行选择检查项的内
容或通过界面进行自定义检查项内容。
[0023]第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的SSD长稳测试结果的统计方法。
[0024]第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的SSD长稳测试结果的统计方法。
[0025]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：可通过简单的配置测试检查项集合，来达到不同业务场景需要不同测试检查项的目的，不需要多次重新开发脚本，不需要维护多套检查脚本，节约了开发时间和维护成本，提高了测试开发及维护效率。
[0026]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为本专利技术实施例提供的SSD长稳测试结果的统计方法的流程示意图；
[0029]图2为本专利技术实施例提供的SSD长稳测试结果的统计装置的示意性框图；
[0030]图3为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0033]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0034]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0035]请参阅图1所示的具体实施例，本专利技术公开了一种SSD长稳测试结果的统计方法，包括以下步骤：
[0036]S1，执行长稳测试；
[0037]具体地，所述长稳测试包括各类IO模型测试或单点用例模型测试。可根据实际需要，选择执行不同的测试场景，以获得不同的测试日志和信息。
[0038]S2，生成测试日志和信息；
[0039]具体地，所述测试日志和信息包括盘片常用状态信息、盘片告警信息、盘片系统日志及主机日志等。
[0040]S3，配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；
[0041]具体地，所述配置检查项指的是通过下拉列表进行选择配置检查项的内容或通过界面进行自定义配置检查项内容。可根据测试场景/规格配置对应的测试检查项，包括但不限定于配置项钥匙，配置逻辑关系及配置项用途，用于定期巡检日志和记录的盘片状态信息，定期一般可为10
‑
50秒。
[0042]具体地，在配置检查项时，可通过下拉列表中逻辑符关联需要判断的内容，逻辑符包含：或，与，包含，不包含，等于，不等于，大于，小于，大于等于或小于等于。
[0043]S4，判断检测结果是否符合预期；若检测结果符合预期，则返回执行S3；
[0044]具体地，对盘片常用状态信息、盘片告警信息、盘片系统日志及主机日志的检测结果进行判断，若检测结果处于正常工作状态，则符合预期，返回执行S3步骤，继续等待下次巡检。
[0045]S5，若检测结果不符合预期，则停止测试并告警。
[0046]具体地，不符合预期则提供错误信息(即告警)，并停止长稳测试主脚本(运行IO模型的脚本)，便于用户实时了解测试情况，执行对应的操作，例如：修改配置项或更换SSD等。
[0047]本专利技术的测试脚本启动后，自动打印出测试过程日志并收集被测试盘片的状态本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.SSD长稳测试结果的统计方法，其特征在于，包括以下步骤：执行长稳测试；生成测试日志和信息；配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；判断检测结果是否符合预期；若检测结果不符合预期，则停止测试并告警。2.根据权利要求1所述的SSD长稳测试结果的统计方法，其特征在于，所述长稳测试包括各类IO模型测试或单点用例模型测试。3.根据权利要求1所述的SSD长稳测试结果的统计方法，其特征在于，所述测试日志和信息包括盘片常用状态信息、盘片告警信息、盘片系统日志及主机日志。4.根据权利要求1所述的SSD长稳测试结果的统计方法，其特征在于，所述配置检查项指的是通过下拉列表进行选择配置检查项的内容或通过界面进行自定义配置检查项内容。5.SSD长稳测试结果的统计装置，其特征在于，包括：执行单元、生成单元、配置检测单元、判断单元及停止单元；所述执行单元，用于执行长稳测试；所述生成单元，用于生成测试日志和信息；所述配置检测单元，用于配置检查项定期对测试日志和信息进行检测，以得到检测结果；所述判断单元，用于判断检测结果是否...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨墨，付荣耀，甘金涛，
申请(专利权)人：成都芯忆联信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：