有机EL基板的检查方法及有机EL显示装置制造方法及图纸

技术编号:3696231 阅读:184 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
课题为,为了将多个有机EL元件排列成矩阵状对构成像素的有机EL基板上每个像素的电流进行测定,而需要较长时间。有机EL基板的检查方法,包括:第1步骤,用来获得流过下述有机EL基板上与选择信号线所连接开关元件群的第1群电流值;第2步骤,用来获得流过下述有机EL基板上与数据信号线所连接开关元件群的第2群电流值;第3步骤,用于根据由第1、第2各个步骤所得到每个群脉冲信号的电流值,对包括有机EL元件的各开关元件所流过的电流进行运算,该有机EL基板在绝缘基板上将由开关元件所选择进行发光的有机EL元件排列成多组矩阵状。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对形成于有机EL基板上的多个开关元件各个特性进行检查的检查方法,以及具备对各开关元件特性偏差进行校正的校正装置之有机EL显示装置。
技术介绍
有机EL显示装置用来使下述有机EL基板上由各开关元件所选择的有机EL元件发光加以显示,作为开关元件一般使用薄膜晶体管,上述有机EL基板在绝缘基板上将具有选择端子和数据端子的开关元件以及有机EL元件排列成多组矩阵状,并且具备将按行方向所排列的开关元件选择端子共同连接的多条选择用信号线,以及将按列方向所排列的开关元件数据端子共同连接且对选择信号线所交差排列的多条数据信号线。虽然作为该薄膜晶体管的半导体材料采用非晶硅和多晶硅,但是由非晶硅所制造出的薄膜晶体管其特性偏差缓和且显示偏差也分散于画面整体,与此相对利用激射光对非晶硅进行局部加热所制造出的多晶硅,则有以像素为单位产生特性偏差这样的趋势。若该开关元件特性产生偏差则产生有机EL元件的亮度偏差,其结果为显示质量产生偏差,因此使开关元件的特性得到稳定是重要的。但是,由于开关元件的数量随着画面尺寸大型化而大幅增加,因而难以使全部开关元件的特性成为良好状态。在专利文献1中公示出,通过电流本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有机EL基板的检查方法,该方法包括:上述有机EL基板,在绝缘基板上将具有选择端子和数据端子的开关元件,和由该开关元件所选择并供应数据的有机EL元件排列成多组矩阵状,包括:将按行方向所排列的开关元件 选择用端子共同连接的多条选择信号线;将按列方向所排列的开关元件数据供应用端子共同连接并对上述选择信号线所交差排列的多条数据信号线;施加与应向所选择行的有机EL元件输出的影像对应的电压使之发光的多条共同控制线,第1步骤 ,用来在向下述有机EL基板上所有数据信号线供应一定电平的...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:小野晋也小林芳直
申请(专利权)人:奇美电子股份有限公司京都陶瓷株式会社
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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