消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法和装置，属于显示屏领域。本发明专利技术通过不同的间隔点亮方式，空间上增加像素点显示的间隔数量，采集不同间距点亮条件下的像素点亮度，通过比较，获得不同间距像素点之间的串扰变化趋势，从而推导出最佳采集间隔。当间隔距离小于最佳间隔，像素点的串光干扰无法忽略，当间隔距离大于最佳间隔，为了遍历每个待采集像素，采集遍数需成倍提高，采集效率成倍下降。本发明专利技术避免了各种杂散光串光干扰、提高了采集数据的准确性；采用最佳间隔方案，高效测量LED显示屏幕像素点亮度数据。针对于具有块状差异的COB显示屏也可准确采集亮度数据，提高显示屏校正均匀性。提高显示屏校正均匀性。提高显示屏校正均匀性。

【技术实现步骤摘要】
消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法和装置


[0001]本专利技术涉及显示屏领域，特别是指一种消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法和装置。

技术介绍

[0002]近年来，随着LED显示屏Mini
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LED和Micro
‑
LED技术发展一日千里，分辨率越来越高，诸如4K、8K乃至分辨率更高的屏幕都在逐渐出现。相应地，LED像素间距也越来越小，常规显示屏已经是P1.25、P0.95占据大量市场，更小间距的P0.6、P0.4等显示屏更是未来行业发展的主流。
[0003]更小间距的显示屏发展面临着一个非常严峻的问题，那就是相邻像素之间的串光干扰现象。所谓串光现象，就是指拍摄单颗像素时，周遭临近像素发出的光会同时叠加在前者发出的光上，使得单颗像素采集的数据变得不再准确。随着产品的愈发成熟，对LED显示屏校正的准确性也提高了要求，行业标准也提高了均匀性的要求，无法容忍细微的偏差，COB块状差异较之点差异对校正精度的要求更是明显提高。对于LED显示屏校正来说，解决LED像素之间串光影响采集精度问题迫在眉睫。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法，其特征在于，包括：步骤S100：采集待测LED显示屏选定的矩形区域内的所有像素点均点亮时的所有像素点的亮度值，并计算平均值，得到亮度均值L0；步骤S200：采集所述矩形区域内的像素点按照间隔一个像素点的方式点亮时的所有像素点的亮度值，并计算平均值，得到亮度均值L1；步骤S300：依次增加间隔的像素点的个数，以此类推，得到一系列亮度均值L
t
；t为间隔的像素点的个数，t＝1,2,
…
,n，n为设定的最大间隔像素点个数；其中，每个像素点均以同样的亮度点亮；步骤S400：依次计算相邻两个亮度均值的差值Δt，其中，Δt＝L
t+1
‑
L
t
；步骤S500：获取当Δt/L
t
小于ε时的t的最小值，其中ε为趋近于0的正数；步骤S600：按照间隔t个像素点的方式采集待测LED显示屏所有像素点的亮度值。2.根据权利要求1所述的消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法，其特征在于，S200包括：S201：将待测LED显示屏的像素点按照间隔一个像素点的方式以同样的所述设定亮度点亮，采集选定的矩形区域内点亮的像素点的亮度值；S202：更换点亮的像素点，重复S201，直至采集到选定的矩形区域内的所有像素点的亮度值，并计算平均值，得到亮度均值L1。3.根据权利要求1或2所述的消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法，其特征在于，通过亮度计、色度计、成像亮度计或者成像色度计采集像素点的亮度值。4.根据权利要求1或2所述的消除串光干扰的显示屏像素点亮度测量方法，ε的取值小于千分之一。5.一种消除串光干扰的显示屏像素点亮度测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈听，尚壮壮，
申请(专利权)人：颜色空间北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：