一种热成像系统的清晰度测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种热成像系统的清晰度测试装置，包括底板、顶板、设在所述底板与所述顶板之间的支撑件，所述底板上设有加热板，所述顶板上设有可透出热量的测试图形镂空区域，所述加热板的加热温度通过温度控制器进行控制，所述清晰度测试装置通过所述测试图形镂空区域透出的所述加热板发热温度与所述顶板面温度所形成的可控温度差，进行热成像系统成像形成可供分析的测试图案，其图案符合ISO12233eSFR的清晰度测试标准。测试数据采集的图像分析由软件进行客观分析，从而客观评价热成像系统的清晰度和分辨力，无需主观参与，重复性更好，数据更加精确，成本更低。成本更低。成本更低。

【技术实现步骤摘要】
一种热成像系统的清晰度测试装置


[0001]本技术涉及相机自动化测量
，具体涉及一种热成像系统的清晰度测试装置。

技术介绍

[0002]随着热成像传感器的微型化和成本的大幅降低，热成像摄像头在民用领域的应用也越来越广泛。在设备研发和生产中也越来越多的需要低成本，高效率的成像质量测试方法。传统的热成像清晰度测试方法是使用平行光管加精确控制温度差的四杆靶来成像，通过调节不同的温差和更换单位尺寸中不同宽度的线对标靶，来观察在特定温差下，极限分辨力所对应的标靶线对数。一方面这种设备的成本极高，主要是军工或大型企业在使用，另一方面这种分析方法需要更换不同线对数的标靶，费时费力。由于还需要人眼来判断极限分辨力，引入了主观的误差。因此，需要一种能够客观分析热成像质量的系统测试装置。

技术实现思路

[0003]为了解决现有技术中存在的某种或某些技术问题，本申请的目的在于提供一种热成像系统的清晰度测试装置，测试数据采集的图像分析由软件进行客观分析，从而客观评价热成像系统的清晰度和分辨力，无需主观参与，重复性更好，数据更加精确，成本更低。
[0004]为解决上述现有的技术问题，本申请采用如下技术方案实现：
[0005]一种热成像系统的清晰度测试装置，包括底板、顶板、设在所述底板与所述顶板之间的支撑件，所述底板上设有加热板，所述顶板上设有可透出热量的测试图形镂空区域，所述加热板的加热温度通过温度控制器和温度传感器进行闭环控制，所述清晰度测试装置通过所述测试图形镂空区域透出的所述加热板发热温度与所述顶板面温度所形成的可控温度差，进行热成像系统成像形成可供分析的测试图案，其图案符合ISO 12233eSFR的清晰度测试标准。
[0006]优选的，所述测试图形镂空区域为可透出7～14um长波红外线热量的镂空结构。
[0007]优选的，所述加热板的上表面设有漫反身涂层，以实现长波红外线的均匀反射。
[0008]优选的，所述加热板与所述底板之间设有保温层。
[0009]优选的，所述顶板的底部设有隔热层。
[0010]优选的，所述支撑件采用四边形的侧板结构，所述侧板上设有若干风扇以及散热孔。
[0011]优选的，所述支撑件的四个侧面分别对称设有若干风扇以及若干散热孔。
[0012]相比现有技术，本技术的有益效果在于：
[0013]通过控制被加热板的表面温度升高到指定温度并与顶板的温度产生可控的温度差，并通过测试图形镂空区域形成可用于分析的图案，图案规则符合ISO12233国际标准，该标准规定了成像系统的清晰度eSFR测试方法，可使用软件进行分析清晰度。相对于通过使用平行光管加精确控制温度差的四杆靶来成像分析清晰度测试，成本更低，分析由软件进
行客观分析，无需主观参与，重复性更好，数据更加精确。
附图说明
[0014]图1为本技术的爆炸图；
[0015]图2为本技术的组合图；
[0016]图中：1、底板；2、保温层；3、加热板；4、漫反身涂层；5、支撑件；6、散热孔；7、测试图形镂空区域；8、顶板；9、隔热层；10、风扇。
具体实施方式
[0017]下面，结合附图以及具体实施方式，对本申请做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0018]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0019]本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0020]如图1和图2所示，一种热成像系统的清晰度测试装置，包括底板1、顶板8、设在所述底板1与所述顶板8之间的支撑件5，所述底板1上设有加热板3，所述顶板8上设有可透出热量的测试图形镂空区域7，所述加热板3的加热温度通过温度控制器和温度传感器进行闭环控制，所述清晰度测试装置通过所述测试图形镂空区域7透出的所述加热板3发热温度与所述顶板8面温度所形成的可控温度差，进行热成像系统成像形成可供分析的测试图案，其图案符合ISO12233eSFR的清晰度测试标准。
[0021]在实际使用过程中，摄像头对准清晰度测试装置的顶板8，然后通过温度控制器对加热板3的温度进行控制，当加热板3的温度身高后，被顶板8遮挡的区域会形成低温区，而通过测试图形镂空区域7所形成的区域则会变成高温区，从而使摄像头所拍摄的清晰度测试装置表面通过控制被加热板3的表面温度升高到指定温度并与顶板8的温度产生可控的温度差，并通过测试图形镂空区域7形成可用于分析的图案，图案规则符合ISO12233国际标准，该标准规定了成像系统的清晰度eSFR测试方法，可使用软件进行分析清晰度。相对于通过使用平行光管加精确控制温度差的四杆靶来成像分析清晰度测试，成本更低，分析由软件进行客观分析，无需主观参与，重复性更好，数据更加精确。
[0022]进一步的改进为，所述测试图形镂空区域7为可透出7～14um长波红外线热量的镂空结构，通过测试图形镂空区域7能够形成不同的可用于分析的图案，在通过软件进行分析清晰度时更加简单，例如测试图形镂空区域7采用方形孔时，形成的刃边可以用于分析清晰
度，而采用多个圆形孔时，则可用于分析畸变。
[0023]进一步的改进为，所述加热板3的上表面设有漫反身涂层4，以实现长波红外线的均匀反射。
[0024]通过漫反射涂层能够使加热板3的表面不会对光波产生镜面反射，从而使生成的图像是均匀的。
[0025]更进一步地改进为，所述加热板3与所述底板1之间设有保温层2；所述顶板8的底部设有隔热层9。
[0026]通过保温层2能是底板1保持一个交底的温度，安全性更好，同时，也能够使加热板3的保温效果更好，同时，在顶板8的底部具有一层隔热层9，通过隔热层9能够使顶板8本身不易受热，使其在采集图像时与测试图形镂空区域7透出的加热板3温度之间的温差更加明显。
[0027]更进一步的改进为，所述支撑件5采用四边形的侧板结构，所述侧板上设有若干风扇10以及散热孔6；所述支撑件5的四个侧面分别对称设有若干风扇10以及若干散热孔6。
[0028]通过支撑件5上的风扇10和散热孔6能够将加热板3散发的热量通过空气向外排出，从而使顶板8保持交底的温度，避免顶板8出现快速加热的情况，尤其是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热成像系统的清晰度测试装置，其特征在于：包括底板(1)、顶板(8)、设在所述底板(1)与所述顶板(8)之间的支撑件(5)，所述底板(1)上设有加热板(3)，所述顶板(8)上设有可透出热量的测试图形镂空区域(7)，所述加热板(3)的加热温度通过温度控制器和温度传感器进行闭环控制，所述清晰度测试装置通过所述测试图形镂空区域(7)透出的所述加热板(3)发热温度与所述顶板(8)面温度所形成的可控温度差，进行热成像系统成像形成可供分析的测试图案，其图案符合ISO12233eSFR的清晰度测试标准。2.根据权利要求1所述的一种热成像系统的清晰度测试装置，其特征在于：所述测试图形镂空区域(7)为可透出7～14um长波红外线热量的镂空结构。3.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓宁，陈浩波，
申请(专利权)人：嘉兴正印光学科技有限公司，
类型：新型
国别省市：