SSD坏块打散实现方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种SSD坏块打散实现方法、装置、计算机设备及介质，方法包括：获取所有坏块在RAIDLine上的分布情况；根据分布情况将所有坏块中的至少部分坏块从原有的RAIDLine上重新分配至其它的RAIDLine上，以使分布有坏块的各RAIDLine的坏块数量保持一致，避免了SSD上坏块过于集中带来的性能波动问题，提升了SSD业务运行的稳定性。提升了SSD业务运行的稳定性。提升了SSD业务运行的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
SSD坏块打散实现方法、装置、计算机设备及介质


[0001]本专利技术涉及数据存储
，更具体地说是SSD坏块打散实现方法、装置、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]SSD产品由于存储介质的关系，存在比特位会发生反转的固有缺陷。除了使用误差校正码(ECC)技术来保证数据完整性外，SSD产品一般还是用独立磁盘冗余阵列(RAID)技术纠正ECC不可纠错误。RAID技术将SSD的存储空间划分为多条RAIDLine进行管理，RAIDLine上的坏块较多时，可并发处理的Die数量减少，SSD的读写性能会下降。现有SSD产品没有考虑到部分RAIDLine上的坏块过于集中时带来的性能波动问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供SSD坏块打散实现方法、装置、计算机设备及介质，旨在实现坏块在RAIDLine上的分布尽可能均匀，以提升SSD业务运行的稳定性。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]第一方面，SSD坏块打散实现方法，所述SSD的存储空间包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.SSD坏块打散实现方法，其特征在于，所述SSD的存储空间包括多条RAIDLine，多个所述坏块至少分布于部分的RAIDLine上，所述方法包括：获取所有坏块在RAIDLine上的分布情况；根据分布情况将所有坏块中的至少部分坏块从原有的RAIDLine上重新分配至其它的RAIDLine上，以使分布有坏块的各RAIDLine的坏块数量保持一致。2.根据权利要求1所述的SSD坏块打散实现方法，其特征在于，所述根据分布情况将所有坏块中的至少部分坏块从原有的RAIDLine上重新分配至其它的RAIDLine上，以使分布有坏块的各RAIDLine的坏块数量保持一致，包括：计算RAIDLine上的各坏块的偏移值；按照偏移值将各坏块从原有位置更新至新位置。3.根据权利要求2所述的SSD坏块打散实现方法，其特征在于，所述计算RAIDLine上的各坏块的偏移值，包括：创建以物理Die为索引的坏块表；为每一个Die中的坏块所在的物理Block添加下标；统计坏块表中坏块数最多的物理Block；计算坏块表中坏块数最多的物理Block与物理Die中坏块的下标差值，以得到距离集合；将距离集合与物理Die可选值的集合进行对比；判断物理Die可选值的集合中是否存在不属于距离集合中的值；若存在，则从不属于距离集合中的值中选取最大的值作为偏移值。4.根据权利要求3所述的SSD坏块打散实现方法，其特征在于，所述判断物理Die可选值的集合中是否存在不属于距离集合中的值之后，还包括：若不存在，则从距离集合中选取频率最低的值作为偏移值。5.SSD坏块打散实现装置，其特征在于，所述SSD的存储空间包括多条RAIDLine，多个所述坏块至少分布于部分的RAIDLine上，所述装置包括获取单元以及重新分配单元；所述获取单元，用于获取所有坏块在RAIDLine上的分布情况；所述重新分配单元，用于根据分布情况将所有坏块中的至少部分坏块...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭文锋，范浩东，卢富波，
申请(专利权)人：成都芯忆联信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：