一种显示面板的测试装置及其测试方法制造方法及图纸

技术编号:36898246 阅读:33 留言:0更新日期:2023-03-18 09:18
本发明专利技术提供一种显示面板的测试装置及其测试方法,工作台上设置点亮机构,用于点亮面板;遮光板滑动式地安装于工作台上,且位于面板的上方,遮光板上铺设多个格栅状紧密排列的遮光片;移片机构用于将遮光板上的部分遮光片移走,在遮光板上形成多个沿纵横方向间隔分布的测点,面板发射的光线穿过测点后形成光斑;测光机构用于测量面板的亮度均匀性,测光机构包括照度计、XY轴滑台和运算单元,XY轴滑台驱动照度计在XY坐标系平面内移动,运算单元用于存储测点上方的光强值,并且计算存储的各个光强值的均匀性。本装置可快速、准确地找到测点,提高了检测精度和效率。提高了检测精度和效率。提高了检测精度和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板的测试装置及其测试方法


[0001]本专利技术属于显示面板检测
,具体涉及一种显示面板的测试装置及其测试方法。

技术介绍

[0002]对显示面板进行光学性能的测试,是面板生产过程的重要环节。
[0003]例如公开号为CN110879135A的专利申请,公开了一种光学测试装置及光学测试方法。光学测试装置包括:导光组件,包括多个呈阵列分布且相互光阻隔设置的光通道,多个光通道包括第一光通道和第二光通道;探头组件,包括光学探头,第一光通道和第二光通道套设于对应的光学探头上;遮光罩,设置于导光组件远离探头组件的一侧,遮光罩具有侧壁和由侧壁围合形成的容纳空间,遮光罩背离导光组件一侧的侧壁上开设有透光口;光路变化组件,设置于遮光罩的容纳空间内,光路变化组件包括光向转换件,第二光通道对应设置有光向转换件。本专利技术公开的光学测试装置能够一次对至少两个方向的光学特性进行测试,能够提高对显示面板的光学测试效率。
[0004]面板测试装置需要先点亮面板,然后将检测仪在面板的各个测点上移动,进行光学检测。面板显示的亮度均匀性是面板加工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的测试装置,其特征在于,包括:工作台,所述工作台上设置点亮机构,用于点亮面板;遮光板,滑动式地安装于工作台上,且位于面板的上方,所述遮光板上铺设一层遮光层,所述遮光层包括多个格栅状紧密排列的遮光片;移片机构,用于将所述遮光板上的部分遮光片移走,在遮光板上形成多个沿纵横方向间隔分布的测点,所述面板发射的光线穿过所述测点后形成光斑;所述移片机构包括:移载终端,用于获取遮光板上的部分遮光片;Y轴移载组件,用于驱动所述移载终端沿Y轴方向移动,改变所述移载终端的Y轴坐标;X轴移载组件,用于驱动所述移载终端沿X轴方向移动,改变所述移载终端的X轴坐标;还包括测光机构,用于测量面板的亮度均匀性,所述测光机构包括:照度计,用于测量测点处光斑的光强;XY轴滑台,用于驱动所述照度计在XY坐标系平面内移动,使所述照度计运动至测点上方后检测面板;运算单元,用于存储测点上方的光强值,并且计算存储的各个光强值的均匀性。2.根据权利要求1所述的显示面板的测试装置,其特征在于,所述X轴移载组件包括X轴丝杠、X轴固定梁、X轴动梁;所述X轴丝杠固定于支架上,所述X轴丝杠为双向丝杠,所述所述X轴固定梁固定于支架上且位于X轴丝杠的中部,两根所述X轴动梁分别安装于所述X轴丝杠的两个滑块上,且对称地位于所述X轴固定梁的左右两侧;所述X轴固定梁和X轴动梁上均设有沿Y轴延伸的第一导向孔,所述移载终端可沿着所述第一导向孔滑动。3.根据权利要求2所述的显示面板的测试装置,其特征在于,所述Y轴移载组件包括Y轴丝杠、Y轴动梁;所述Y轴丝杠固定于支架上,所述Y轴丝杠也为双向丝杠;所述X轴丝杠在XY平面内的投影位于Y轴丝杠的中部,两根所述Y轴动梁分别安装于所述Y轴丝杠的两个滑块上,且对称地位于所述X轴丝杠的左右两侧;所述Y轴动梁上均设有沿X轴延伸的第二导向槽,所述第二导向槽与所述第一导向孔在XY平面内的投影相交,所述移载终端可沿着所述第二导向槽滑动。4.根据权利要求3所述的显示面板的测试装置,其特征在于,所述第二导向槽为T型槽,所述移载终端的顶部设有与所述T型槽匹配的T型块,所述T型块贯穿所述第一导向孔,且滑动式装配于所述T型槽内。5.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板的测试装置,其特征在于,所述测点的数量为9个,按三行三列分布;所述Y轴移载组件与X轴移载组件将所述移载终端按设定的测点坐标排列。6.根据权利要求5所述的显示面板的测试装置,其特征在于,所述移片机构还包括Z轴驱动件,用于驱动所述移载终端上下移动;所述移载终端可吸附所述遮光片;所述遮光片为磁铁片,所述移载终端为...

【专利技术属性】
技术研发人员:周海龙
申请(专利权)人:苏州龙盛测试设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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