一种实现滤波处理的方法、装置、计算机存储介质及终端制造方法及图纸

本文公开一种实现滤波处理的方法、装置、计算机存储介质及终端，本发明专利技术实施例将滤除正弦干扰信号的周期拆分为时长相等的上半周期和下半周期后，根据上半周期各采样点的第二采样时间，确定下半周期采样点的第二采样时间，使处于相同排序位置的采样点的第一采样时间和第二采样时间的相位差值为周期的一半；对下半周期，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定该第二采样时间对应的第二采样值；根据上半周期的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，实现了正弦干扰信号的滤除。干扰信号的滤除。干扰信号的滤除。

【技术实现步骤摘要】
一种实现滤波处理的方法、装置、计算机存储介质及终端


[0001]本文涉及但不限于信号处理技术，尤指一种实现滤波处理的方法、装置、计算机存储介质及终端。

技术介绍

[0002]软件滤波主要使用模数转换模块(ADC)对单周期内的输入信号进行多次均匀采样，对采样结果进行求平均后，采用均值滤波方法滤除正弦干扰信号。
[0003]假设均匀采样的时间间隔为T，正弦干扰信号的周期为P，为了实现滤波， T与P应满足以下条件：1、根据奈奎斯特采样定理P应大于2T；2、一个周期内采样次数N＝P/T的值越接近整数越好；3、连续N次均匀采样的总时长，应该刚好包含一个完整的周期P。上述滤波处理：N的值不是整数时，会有部分干扰信号无法滤除；以集散控制系统(DCS)卡件为例，DCS卡件使用的 ADC只能采用固定的采样间隔T为0.78125毫秒(ms)，而50赫兹(Hz) 工频干扰(正弦干扰信号)的周期P为20ms；通过计算可以得出一个周期内进行的采样次数N＝P/T＝25.6，所以一般设置一个周期内的采样次数N＝26(26 个连续采样间隔总时间为20.3125ms)；在使用固定的采样间隔时，前半周期与后半周期相同排序位置的采样点(对前半周期的采样点按照预设策略排序，对后半周期的采样点采用相同策略排序，相同排序位置至按照预设策略排序后，排序信息相同的采样点，例如前半周期采样点排序为1～13、后半周期也按照1～13的编号进行排序，前半周期的1号排序和后半周期的1号排序为相同排序位置)，采样时间的相位差值并不等于π，所以进行均值滤波后，部分干扰量无法滤除。
[0004]综上，上述均值滤波方法无法有效滤除大部分频率的干扰；如何提升正弦干扰信号的滤除质量，成为一个有待解决的问题。

技术实现思路

[0005]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0006]本专利技术实施例提供一种实现滤波处理的方法、装置、计算机存储介质及终端，能够提升正弦干扰信号的滤除质量。
[0007]本专利技术实施例提供了一种实现滤波处理的方法，包括：
[0008]拆分滤除正弦干扰信号的周期为时长相等的上半周期和下半周期；
[0009]根据上半周期的第一采样时间确定下半周期的第二采样时间，以使处于相同排序位置的采样点的采样时间的差值为预设差值；
[0010]上半周期按照第一采样时间采样获得第一采样值后，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；
[0011]根据上半周期采样获得的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，滤除正弦干扰信号。
[0012]另一方面，本专利技术实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存
储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实现滤波处理的方法。
[0013]再一方面，本专利技术实施例还提供一种终端，包括：存储器和处理器，所述存储器中保存有计算机程序；其中，
[0014]处理器被配置为执行存储器中的计算机程序；
[0015]所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述实现滤波处理的方法。
[0016]还一方面，本专利技术实施例还提供一种实现滤波处理的装置，包括：拆分单元、确定时间单元、确定采样值单元和滤波处理单元；其中，
[0017]拆分单元设置为：拆分滤除正弦干扰信号的周期为时长相等的上半周期和下半周期；
[0018]确定时间单元设置为：根据上半周期的第一采样时间确定下半周期的第二采样时间，以使处于相同排序位置的采样点的采样时间的差值为预设差值；
[0019]确定采样值单元设置为：上半周期按照第一采样时间采样获得第一采样值后，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；
[0020]滤波处理单元设置为：根据上半周期采样获得的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，滤除正弦干扰信号。
[0021]本申请技术方案包括：拆分滤除正弦干扰信号的周期为时长相等的上半周期和下半周期；根据上半周期的第一采样时间确定下半周期的第二采样时间，以使处于相同排序位置的采样点的采样时间的差值为预设差值；上半周期按照第一采样时间采样获得第一采样值后，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；根据上半周期采样获得的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，滤除正弦干扰信号。本专利技术实施例将滤除正弦干扰信号的周期拆分为时长相等的上半周期和下半周期后，根据上半周期各采样点的第二采样时间，确定下半周期采样点的第二采样时间，使处于相同排序位置的采样点的第一采样时间和第二采样时间的相位差值为周期的一半；对下半周期，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定该第二采样时间对应的第二采样值；根据上半周期的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，实现了正弦干扰信号的滤除。
[0022]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0023]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0024]图1为本专利技术实施例实现滤波处理的方法的流程图；
[0025]图2为本专利技术实施例实现滤波处理的装置的结构框图。
具体实施方式
[0026]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术
的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
[0027]在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
[0028]图1为本专利技术实施例实现滤波处理的方法的流程图，如图1所示，包括：
[0029]步骤101、拆分滤除正弦干扰信号的周期为时长相等的上半周期和下半周期；
[0030]步骤102、根据上半周期的第一采样时间确定下半周期的第二采样时间，以使处于相同排序位置的采样点的采样时间的差值为预设差值；
[0031]步骤103、上半周期按照第一采样时间采样获得第一采样值后，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；
[0032]在一种示例性实例中，本专利技术实施例上半周期采用均值滤波方式采样获得第一采样值；在一种示例性实例中，本专利技术实施例中的第一采样时间可以根据均值滤波相关原理确定；
[0033]步骤104、根据上半周期采样获得的第一采样值和确定的下半周期的第二采本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种实现滤波处理的方法，包括：拆分滤除正弦干扰信号的周期为时长相等的上半周期和下半周期；根据上半周期的第一采样时间确定下半周期的第二采样时间，以使处于相同排序位置的采样点的采样时间的差值为预设差值；上半周期按照第一采样时间采样获得第一采样值后，根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；根据上半周期采样获得的第一采样值和确定的下半周期的第二采样值，滤除正弦干扰信号。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设差值等于所述周期的二分之一。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值，包括：对所述与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值进行曲线拟合处理，获得所述第二采样值。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据与第二采样时间最近的排序在前的两个以上采样时间的采样值确定各第二采样时间对应的第二采样值；，包括：对所述与第二采样时间最近的排序在前的N+1个采样时间的采样值进行N次插值滤波，获得所述第二采样值；其中，所述N大于或等于2。5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述滤除正弦干扰信号，包括：将所述上半周期的第一采样值和确定的所述下半周期的所述第二采样值进行均值计算处理，以滤除所述正弦干扰信号。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：田雨聪，吴华胜，杜百万，王军，刘婧天，丁娟，李娜，
申请(专利权)人：国能智深控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：