一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路，包括电源模块、过零取样模块和过零检测模块，所述电源模块包括变压器TR1、整流桥BR1和整流桥BR2，所述变压器TR1的引脚2与火线L相连接，且变压器TR1的引脚1与零线N相连接，变压器TR1的引脚3与整流桥BR2的引脚1电性连接，整流桥BR2的引脚3与变压器TR1的引脚4电性连接。本实用新型专利技术可以提供更为陡峭、灵敏和稳定的过零波形，可以适应含有直流成分大电压过零信号的检测，由于采用贴片电阻，体积小，易于小型化，便于制成过零触发模块，另外该电路设计简单，实用性强，性能可靠。性能可靠。性能可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路


[0001]本技术涉及晶闸管投切开关
，尤其涉及一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路。

技术介绍

[0002]过零触发检测电路主要用于使用晶闸管作为开关器件的投切开关，投切开关在晶闸管两端电压为零时接通晶闸管，这种投切开关业界又称之为晶闸管投切电容型投切开关(简称TSC)，常规的晶闸管投切开关的过零检测电路如图1所示，该常规的晶闸管投切开关的过零检测电路存在如下的诸多弊端：
[0003]1.为减少体积，限流电阻常使用贴片电阻，贴片电阻受到体积限制，贴片电阻所能承受的功率往往十分有限，这就需要提高阻值，由此而产生的后果是电流较小，降低了光耦检测的灵敏度；
[0004]2.光耦导通时间较长，即光耦电流由“0”变为导通电流这个渐变过程较长，导致光耦特性边缘时间差异明显。
[0005]基于以上情形，我们提出了一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路。
[0007]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0008]一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路，包括电源模块、过零取样模块和过零检测模块，所述电源模块包括变压器TR1、整流桥BR1和整流桥BR2，所述变压器TR1的引脚2与火线L相连接，且变压器TR1的引脚1与零线N相连接，变压器TR1的引脚3与整流桥BR2的引脚1电性连接，整流桥BR2的引脚3与变压器TR1的引脚4电性连接，整流桥BR2的引脚2电性连接有电容C3的正极、电容C4的一端和高电平VC2，整流桥BR2的引脚4分别与电容C3的负极和电容C4的另一端电性连接，并接信号地2，变压器TR1的引脚5与整流桥BR1的引脚1电性连接，整流桥BR1的引脚3与变压器TR1的引脚6电性连接，整流桥BR1的引脚2电性连接有电容C1的正极、电容C2的一端和高电平VC1，整流桥BR1的引脚4分别与电容C1的负极和电容C2的另一端电性连接，并接信号地1；
[0009]投切开关晶闸管SCR1和投切开关晶闸管SCR2共同组成一个投切开关晶闸管反并联模块，投切开关晶闸管反并联模块的引脚K2电性连接所述过零取样模块的火线L、电阻R1的一端和电容C7的一端，并接信号地2，电容C7的另一端电性连接有电阻R1的另一端和电阻R2的一端，电阻R2的另一端电性连接有电阻R3的一端，电阻R3的另一端电性连接有电阻R4的一端，电阻R4的另一端电性连接有电阻R5的一端，电阻R5的另一端电性连接有电阻R6的一端和电容C5的一端，电容C5的另一端电性连接有电阻R6的另一端、投切开关晶闸管反并联模块的引脚K1和滤波电抗器L的一端，并接信号地1，滤波电抗器L的另一端电性连接有无
功补偿电容器C；
[0010]所述过零检测模块包括电阻R7和电阻R8，电阻R7的一端与电容C7的另一端电性连接，电阻R7的另一端电性连接有极间保护二极管D2的负极和达林顿三极管Q2的基极，极间保护二极管D2的正极与达林顿三极管Q2的发射极电性连接，并接信号地2，达林顿三极管Q2的集电极电性连接有光耦合器OP2的引脚2，光耦合器OP2的引脚1电性连接有电阻R11的一端，电阻R11的另一端电性连接有电容C8的一端和高电平VC2，且电容C8的另一端接信号地2，光耦合器OP2的引脚3电性连接有电阻R12的一端和光耦输出端口T2，电阻R12的另一端电性连接有5V电源，光耦合器OP2的引脚4接地，电阻R8的一端与电容C5的一端电性连接，电阻R8的另一端电性连接有极间保护二极管D1的负极和达林顿三极管Q1的基极，极间保护二极管D1的正极与达林顿三极管Q1的发射极电性连接，并接信号地1，达林顿三极管Q1的集电极电性连接有光耦合器OP1的引脚2，光耦合器OP1的引脚1电性连接有电阻R9的一端，电阻R9的另一端电性连接有电容C6的一端和高电平VC1，且电容C6的另一端接信号地1，光耦合器OP1的引脚3电性连接有电阻R10的一端和光耦输出端口T1，电阻R10的另一端电性连接有5V电源，光耦合器OP1的引脚4接地。
[0011]优选的，所述电阻R1与火线L相连接的一端为负，且电阻R1的另一端为正。
[0012]优选的，所述电阻R6与电阻R5相连的一端为正，且电阻R6的另一端为负。
[0013]优选的，所述电容C3和电容C1均为电解电容。
[0014]优选的，所述电阻R1
‑
电阻R6均为贴片电阻，所述电阻R10和电阻R12均为上拉电阻，电容C6和电容C8均为去耦电容。
[0015]优选的，所述光耦输出端口T1和光耦输出端口T2电性连接有同一个单片式MPU。
[0016]本技术中，所述一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路可以提供更为陡峭、灵敏和稳定的过零波形，可以适应含有直流成分大电压过零信号的检测，由于采用贴片电阻，体积小，易于小型化，便于制成过零触发模块，另外该电路设计简单，实用性强，性能可靠。
附图说明
[0017]图1为现有的一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路的电路图；
[0018]图2为本技术提出的一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路的电路图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]参照图2，一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路，包括电源模块、过零取样模块和过零检测模块，电源模块包括变压器TR1、整流桥BR1和整流桥BR2，变压器TR1的引脚2与火线L相连接，且变压器TR1的引脚1与零线N相连接，变压器TR1的引脚3与整流桥BR2的引脚1电性连接，整流桥BR2的引脚3与变压器TR1的引脚4电性连接，整流桥BR2的引脚2电性连接有电容C3的正极、电容C4的一端和高电平VC2，整流桥BR2的引脚4分别与电容C3的负极和电容C4的另一端电性连接，并接信号地2，电容C3为电解电容，变压器TR1的引脚5与整流桥
BR1的引脚1电性连接，整流桥BR1的引脚3与变压器TR1的引脚6电性连接，整流桥BR1的引脚2电性连接有电容C1的正极、电容C2的一端和高电平VC1，整流桥BR1的引脚4分别与电容C1的负极和电容C2的另一端电性连接，并接信号地1，电容C1为电解电容；
[0021]投切开关晶闸管SCR1和投切开关晶闸管SCR2共同组成一个投切开关晶闸管反并联模块，投切开关晶闸管反并联模块的引脚K2电性连接所述过零取样模块的火线L、电阻R1的一端和电容C7的一端，并接信号地2，电容C7的另一端电性连接有电阻R1的另一端和电阻R2的一端，电阻R1与火线L相连接的一端为负，且电阻R1的另一端为正，电阻R2的另一端电性连接有电阻R3的一端，电阻R3的另一端电性连接有电阻R4的一端，电阻R4的另一端电性连接有电阻R5的一端本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于晶闸管投切开关的过零检测电路，包括电源模块、过零取样模块和过零检测模块，其特征在于，所述电源模块包括变压器TR1、整流桥BR1和整流桥BR2，所述变压器TR1的引脚2与火线L相连接，且变压器TR1的引脚1与零线N相连接，变压器TR1的引脚3与整流桥BR2的引脚1电性连接，整流桥BR2的引脚3与变压器TR1的引脚4电性连接，整流桥BR2的引脚2电性连接有电容C3的正极、电容C4的一端和高电平VC2，整流桥BR2的引脚4分别与电容C3的负极和电容C4的另一端电性连接，并接信号地2，变压器TR1的引脚5与整流桥BR1的引脚1电性连接，整流桥BR1的引脚3与变压器TR1的引脚6电性连接，整流桥BR1的引脚2电性连接有电容C1的正极、电容C2的一端和高电平VC1，整流桥BR1的引脚4分别与电容C1的负极和电容C2的另一端电性连接，并接信号地1；投切开关晶闸管SCR1和投切开关晶闸管SCR2共同组成一个投切开关晶闸管反并联模块，投切开关晶闸管反并联模块的引脚K2电性连接有所述过零取样模块的火线L、电阻R1的一端和电容C7的一端，并设置为信号地2，电容C7的另一端电性连接有电阻R1的另一端和电阻R2的一端，电阻R2的另一端电性连接有电阻R3的一端，电阻R3的另一端电性连接有电阻R4的一端，电阻R4的另一端电性连接有电阻R5的一端，电阻R5的另一端电性连接有电阻R6的一端和电容C5的一端，电容C5的另一端电性连接有电阻R6的另一端、投切开关晶闸管反并联模块的引脚K1和滤波电抗器L的一端，并设置为信号地1，滤波电抗器L的另一端电性连接有无功补偿电容器C；所述过零检测模块包括电阻R7和电阻R8，电阻R7的一端与电容C7的另一端电性连接，电阻R7的另一端电性连接有极间保护二极管D2的负极和达林顿三极管Q2的基极，极间保护二极管D2的正极与达林顿三极管Q2的发射极电性连接，并接信号地2，达...

【专利技术属性】
技术研发人员：李润飞，李更生，
申请(专利权)人：厦门泰瑞达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：