一种动态老炼试验系统及其控制方法技术方案

本发明专利技术属于老炼测试技术领域，公开了一种动态老炼试验系统及其控制方法，包括用于为芯片下载老炼程序的程序下载模块，用于配置器件I/O口进行数据通信的通讯模块，用于利用老炼板对待试验器件进行固定的老炼板模块，用于利用老炼机台上位机发送并行激励，当器件工作后会输出0和1即低电平和高电平，通过老化板底部回检信号传输到老炼机台上位机的上位机模块，用于利用示波器显示输出信号，判断器件是否正在进行动态老炼的显示模块。本发明专利技术能够实现器件动态老炼试验，设计出能够实现达到动态老炼试验的老炼PCB板，用于集成电路的老炼试验检测，按照设计的老炼板对器件进行了动态老炼试验，解决了器件无动态老炼检测能力的问题。解决了器件无动态老炼检测能力的问题。解决了器件无动态老炼检测能力的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种动态老炼试验系统及其控制方法


[0001]本专利技术属于老炼测试
，尤其涉及一种动态老炼试验系统及其控制方法。

技术介绍

[0002]目前，老炼试验是一种能够将产品早期故障剔除的试验技术，它是元器件筛选中的重要项目，是工程上用来剔除早期失效产品，提高系统可靠性的主要方法。一般来讲，老炼过程通过工作环境应力和电气性能应力两方面同时作用，促使一些产品所具有的潜在缺陷提前暴露出来，剔除不合格品。将经过老炼筛选的器件用到电子设备上，能减少故障，提高整机质量和可靠性，进而节约整机研制和维修费用。
[0003]随着军用电子产品和设备复杂程度的提高，使用范围的日益广泛，对电子产品和设备的可靠性的要求也越来越高。但实际中由于制造工艺、流程、材料等生产过程控制原因，使得元器件在生产的过程中不可避免的留下缺陷，使器件的可靠性水平达不到设计的要求，随时可能因为各种原因出现故障。现有技术没有此器件的动态老炼能力或者按照器件详细规范只进行简单的静态老炼试验，静态老炼是指只给电路电源端提供电压，信号输入引脚不提供老炼向量，这时内部晶体管基本没有翻转。静态老炼试验中，芯片接上电源和地，其它输入管脚并联接入电阻并和电源端相连，使电路内部晶体管基本实现反偏。静态老炼的主要功能是在高温环境中诱发与杂志污染有关的失效机制，使电路在稳定偏压下，内部杂志加速迁移到器件表面。动态老炼时，电路除接上电源和地，在输入管脚加上适当老炼向量，使电路内部实现节点翻转，动态老炼能够实现对器件内部节点、电介质、导电通路的电气特性全面考察，与静态老炼相比，更能有效地激发电路的潜在缺陷。所以静态老炼达不到动态老炼的效果。
[0004]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：现有技术中只能对电子产品和设备进行简单的静态老炼试验，在高温环境中诱发与杂志污染有关的失效机制，使电路在稳定偏压下，内部杂志加速迁移到器件表面，无法实现对器件内部节点、电介质、导电通路的电气特性全面考察，不能有效激发电路的潜在缺陷，达不到动态老炼的效果。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种动态老炼试验系统及其控制方法。
[0006]本专利技术是这样实现的，一种动态老炼试验系统包括：
[0007]程序下载模块，用于为芯片下载老炼程序；
[0008]通讯模块，用于配置器件I/O口进行数据通信；
[0009]老炼板模块，用于利用老炼板对待试验器件进行固定；
[0010]上位机模块，用于利用老炼机台上位机发送并行激励，当器件工作后会输出0和1即低电平和高电平，通过老化板底部回检信号传输到老炼机台上位机；
[0011]显示模块，与上位机模块连接，用于利用示波器显示输出信号，判断器件是否正在进行动态老炼。
[0012]进一步，所述老炼板设置有输出信号回检单元，用于对输出信号的监测。
[0013]进一步，所述老炼板采用复杂可编程逻辑器件，采用EEPROM或FASTFLASH编程技术。
[0014]进一步，所述老炼板模块中的老炼板利用固定夹具对待试验器件进行固定。
[0015]进一步，所述老炼板的VCC管脚接至VCC、GND管脚接至GND，bankB、D、F配置为输出分别接2KΩ电阻至GND，其中1管脚接300Ω电阻后接红色LED灯，作为输出指示；
[0016]bankA、C、E配置为输入分别接2KΩ电阻至数字通道，OE、CLR使能管脚分别接2KΩ电阻至数字通道。
[0017]进一步，所述老炼机台上位机与老练机的连接接口包括64路数字通道、4路模拟通道、64路回见同道、3个电源、全部程控且可编程。
[0018]本专利技术的另一目的在于提供一种动态老炼试验系统的控制方法，所述动态老炼试验系统的控制方法包括：
[0019]首先利用程序下载模块给芯片下载老炼程序，再通过bankA、C、E配置为输入分别接2KΩ电阻至数字通道，OE、CLR使能管脚分别接2KΩ电阻至数字通道，bankB、D、F配置为输出分别接2KΩ电阻至GND，其中1管脚接300Ω电阻后接红色LED灯，使用ELEA
‑
V老炼机台上位机提供电压电源并发送相应的并行激励信号，当器件工作后会输出0和1即低电平和高电平，通过老化板底部回检输出信号传输到老炼机台上位机，老炼机台上位机把输出信号使用示波器显示出来，通过输出高低电平信号判断器件是否正在进行动态老炼。
[0020]结合上述的技术方案和解决的技术问题，请从以下几方面分析本专利技术所要保护的技术方案所具备的优点及积极效果为：
[0021]第一、针对上述现有技术存在的技术问题以及解决该问题的难度，紧密结合本专利技术的所要保护的技术方案以及研发过程中结果和数据等，详细、深刻地分析本专利技术技术方案如何解决的技术问题，解决问题之后带来的一些具备创造性的技术效果。具体描述如下：
[0022]本专利技术能够实现器件动态老炼试验，设计出能够实现达到动态老炼试验的老炼PCB板，应用于集成电路的老炼试验检测工作。按照设计的老炼板对器件进行了动态老炼试验，解决了器件无动态老炼检测能力，解决了复杂可编程逻辑器件
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CPLD不能动态老炼的缺陷，解决了现有CPLD芯片老炼试验方法对于器件内部节点、电介质、导电通路的电气特性全面考察完全达不到的老炼试验的问题。
[0023]第二，把技术方案看做一个整体或者从产品的角度，本专利技术所要保护的技术方案具备的技术效果和优点，具体描述如下：
[0024]本专利技术解决了大规模器件无法动态老炼的难题，进而提高整机质量和可靠性，节约整机研制和维修费用，器件上板输入并行激励信号后，可以直观看到是否实现动态老炼输出结果。
[0025]第三，作为本专利技术的权利要求的创造性辅助证据，还体现在以下几个重要方面：
[0026](1)本专利技术的技术方案转化后的预期收益和商业价值为：
[0027]经过动态老炼筛选的器件用到电子设备上，能减少故障，提高整机质量和可靠性，进而节约整机研制和维修费用。
[0028](2)本专利技术的技术方案解决了人们一直渴望解决、但始终未能获得成功的技术难题：
[0029]本专利技术能够实现器件动态老炼试验，设计出能够实现达到动态老炼试验的老炼PCB板，应用于集成电路的老炼试验检测工作。按照设计的老炼板对器件进行了动态老炼试验，解决了器件无动态老炼检测能力，解决了复杂可编程逻辑器件
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CPLD不能动态老炼的缺陷，解决了现有CPLD芯片老炼试验方法对于器件内部节点、电介质、导电通路的电气特性全面考察完全达不到的老炼试验的问题。
附图说明
[0030]图1是本专利技术实施例提供的动态老炼试验系统的原理框图；
[0031]图2是本专利技术实施例提供的XCR3256XL
‑
10TQG144I老炼板的示意图；
[0032]图3是本专利技术实施例提供的XCR3256XL
‑
10TQG144I的电路原理图；
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态老炼试验系统，其特征在于，所述动态老炼试验系统包括：程序下载模块，用于为芯片下载老炼程序；通讯模块，用于配置器件I/O口进行数据通信；老炼板模块，用于利用老炼板对待试验器件进行固定；上位机模块，用于利用老炼机台上位机发送并行激励，当器件工作后会输出0和1即低电平和高电平，通过老化板底部回检信号传输到老炼机台上位机；显示模块，与上位机模块连接，用于利用示波器显示输出信号，判断器件是否正在进行动态老炼。2.如权利要求1所述的动态老炼试验系统，其特征在于，所述老炼板设置有输出信号回检单元，用于对输出信号的监测。3.如权利要求1所述的动态老炼试验系统，其特征在于，所述老炼板采用复杂可编程逻辑器件，采用EEPROM或FASTFLASH编程技术。4.如权利要求1所述的动态老炼试验系统，其特征在于，所述老炼板模块中的老炼板利用固定夹具对待试验器件进行固定。5.如权利要求1所述的动态老炼试验系统，其特征在于，所述老炼板的VCC管脚接至VCC、GND管脚接至GND，bankB、D、F配置为输出分别接2KΩ电阻至GND，其中1管脚接300Ω电阻后接红色LED灯，作为输出指示；bankA、C、E配置为输入分别接2KΩ电阻至数字通道，OE、CLR使能管脚分别接2KΩ电阻至数字通道。6.如权利要求1所述的动态老炼试验系统，其特征在于，所述老炼机台上位机与老练机的连接接口包括64路数...

【专利技术属性】
技术研发人员：张金伟，陆孜健，韩碧涛，刘伟桢，康海斌，
申请(专利权)人：北京京瀚禹电子工程技术有限公司西安分公司，
类型：发明
国别省市：