物理量测量装置制造方法及图纸

提供即使被测量流体含有微细的水滴等液滴也能够进行成分测量的物理量测量装置。在物理量测量装置中，在副流路(7)的入口开口部(5)设有流入方向限制部(13)，该流入方向限制部(13)配置有相对于主流路(1)的流动方向具有预定的倾斜角θ的引导片(12)，该流入方向限制部(13)的倾斜角θ在与主流路(1)的流动方向的关系中为比90

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】物理量测量装置


[0001]本公开涉及一种将流动的使用流体的一部分提样并测量流体所含有的成分的浓度等物理量的物理量测量装置。

技术介绍

[0002]作为以往技术的测定流体的成分的测量装置，已知将在超声波流量计的流量测量部流动的流体提样的成分测量部一并设置于流量测量部的测量装置(例如，参照专利文献1)。
[0003]图8是表示以往技术的超声波流量计的成分测量部的测量流路的结构的局部剖视图。
[0004]在该流量计中，测量流路100的主流路101被分隔板102分割为多层而形成多层流路103。在该多层流路103部一并设置测量流体的成分的副流路104。为了使在主流路101流动的流体向该副流路104流入，在多层流路103部的入口侧配置向主流路101突出的突出部105而局部地缩小流路截面。副流路104形成为利用该构造的喷射器效果从多层流路103a的上游侧的流出口106引导流体而使流体从流入口(未图示)流入。
[0005]并且，在该副流路104中，利用红外线测定气体成分。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1：国际公开第2018/185034号

技术实现思路

[0009]然而，在以往技术的结构中，在向测量流体的成分的副流路104引导主流路101的流体时，当在主流路101流动的流体含有微细的水滴等液滴的情况下，存在该液滴向副流路104进入而对成分测量造成不良影响这样的问题。此外，为了发挥喷射器效果，产生对在主流路101流动的流体造成影响的压力损耗。但是，若减小该压力损耗，则存在无法获得足以使流体向副流路104流入的吸引力这样的问题。
[0010]本公开能够提供以下测量装置：大幅抑制水滴等液滴向测量流体所含有的成分的浓度等特性的副流路进入，并且，在减小在主流路产生的流体的流动的紊乱的状态下，在副流路中，高精度地进行流体所含有的成分的浓度测量。
[0011]本公开的物理量测量装置包括：主流路，其供被测量流体流动；入口开口部和出口开口部，其设于主流路的流路壁；副流路，其将入口开口部和出口开口部连接；流入方向限制部，其设于入口开口部；腔室部，其设于副流路；一对超声波发送接收器，其配置于腔室部；温度传感器，其检测被测量流体的温度；以及信号处理部，其接收来自一对超声波发送接收器的信号和来自温度传感器的信号并计算被测量流体的成分浓度。流入方向限制部构成为配置有相对于主流路的流动方向具有预定的倾斜角的引导片。预定的倾斜角在与在主流路流动的流体的流动方向的关系中为比90
°
大的值。腔室部的截面积具有比入口开口部
的有效截面积大的截面积。在这样构成的物理量测量装置中，即使在被测量流体含有微细的水滴等液滴的情况下，也能够大幅抑制水滴等液滴的进入而将实质上不含有液滴的流体向副流路供给。由此，能够大幅减小水滴等的影响而提高流体所含有的成分的浓度测量等的测量精度。此外，在设于副流路的腔室部中，实现流体的流入流速的降低，因此能够减小在主流路产生的流体的流动的紊乱。由此，在副流路中，能够在流体的流动的紊乱较少的状态下实施针对被测量流体的测量。此外，该物理量测量装置成为在将在主流路流动的流体向副流路引导时不缩小主流路的截面积的结构，因此对在主流路流动的流体不产生特别的压力损耗。
[0012]此外，本公开的物理量测量装置包括：主流路，其供被测量流体流动；入口开口部和出口开口部，其设于主流路的流路壁；副流路，其将入口开口部和出口开口部连接；流入方向限制部，其设于入口开口部；以及成分浓度测量部，其配置于副流路。所述流入方向限制部构成为配置有相对于在主流路流动的流体的流动方向具有预定的倾斜角的引导片。预定的倾斜角在与在主流路流动的流体的流动方向的关系中为比90
°
大的值，并且，引导片间的间隔h与主流路的高度H的关系为H＞h。在这样构成的物理量测量装置中，即使在被测量流体含有微细的水滴等液滴的情况下，也能够大幅抑制水滴等液滴的进入而将实质上不含有液滴的流体向副流路供给。由此，能够大幅减小液滴等的影响而提高流体所含有的成分的浓度测量等的测量精度。此外，通过利用百叶窗状的引导片分割流体的流动，能够减小在主流路产生的流体的流动的紊乱。由此，在副流路中，能够在流体的流动的紊乱较少的状态下实施针对被测量流体的测量。此外，该物理量测量装置成为在将在主流路流动的流体向副流路引导时不缩小主流路的截面积的结构，因此对在主流路流动的流体不产生特别的压力损耗。
[0013]本公开的物理量测量装置构成为，在入口开口部设有流入方向限制部，该流入方向限制部配置有相对于主流路的流动方向具有预定的倾斜角的引导片，该引导片的倾斜角在与在主流路流动的流体的流动方向的关系中成为比90
°
大的值。因而，在该物理量测量装置中，即使在被测量流体含有微细的水滴等液滴的情况下，也能够大幅抑制水滴等液滴的进入而将实质上不含有液滴的流体向副流路供给。由此，能够大幅减小液滴等的影响而提高流体所含有的成分的浓度测量等的测量精度。此外，在设于副流路的腔室部中，实现流体的流入流速的降低，因此能够减小在主流路产生的流体的流动的紊乱。由此，在副流路中，能够在流体的流动的紊乱较少的状态下实施针对被测量流体的测量。此外，成为在将在主流路流动的流体向副流路引导时不缩小主流路的截面积的结构，因此对在主流路流动的流体不产生特别的压力损耗。
[0014]此外，通过利用百叶窗状的引导片分割流体的流动，能够减小在主流路产生的流体的流动的紊乱。由此，在副流路中，能够在流体的流动的紊乱较少的状态下实施针对被测量流体的测量。此外，成为在将在主流路流动的流体向副流路引导时不缩小主流路的截面积的结构，因此对在主流路流动的流体不产生特别的压力损耗。
附图说明
[0015]图1是表示实施方式1的物理量测量装置的结构的一例的剖视图。
[0016]图2是图1的A
‑
A线剖视图。
[0017]图3是表示实施方式2的物理量测量装置的结构的一例的外观立体图。
[0018]图4是表示实施方式2的物理量测量装置的结构要素的一例的分解组装图。
[0019]图5是表示实施方式3的物理量测量装置的结构的一例的剖视图。
[0020]图6是图5的A
‑
A线剖视图。
[0021]图7是表示图5的A
‑
A线截面的其他形状的图。
[0022]图8是表示以往技术的超声波流量计的成分测量部的测量流路的结构的局部剖视图。
具体实施方式
[0023]以下，参照附图，说明本专利技术的实施方式。
[0024]但是，有时省略过于详细的说明。例如，有时省略已经熟知的事项的详细说明或针对实质上相同的结构的重复说明。
[0025]另外，附图和以下的说明是为了使本领域技术人员充分地理解本公开而提供的，并非意图由此限定权利要求书所记载的主题。
[0026](实施方式1)
[0027]使用图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种物理量测量装置，其中，该物理量测量装置包括：主流路，其供被测量流体流动；入口开口部和出口开口部，其设于所述主流路的流路壁；副流路，其将所述入口开口部和所述出口开口部连接；流入方向限制部，其设于所述入口开口部；腔室部，其设于所述副流路；一对超声波发送接收器，其配置于所述腔室部；温度传感器，其检测所述被测量流体的温度；以及信号处理部，其接收来自所述一对超声波发送接收器的信号和来自所述温度传感器的信号并计算所述被测量流体的成分浓度，所述流入方向限制部构成为配置有相对于所述主流路的流动方向具有预定的倾斜角的引导片，所述预定的倾斜角在与在所述主流路流动的所述流体的流动方向的关系中为比90
°
大的值，所述腔室部的截面积具有比所述入口开口部的有效截面积大的截面积。2.根据权利要求1所述的物理量测量装置，其中，所述主流路贯通主流路壳体块而形成，将所述入口开口部和所述出口开口部连接的所述副流路在副流路壳体块内收纳有副流路形成块而形成，在所述副流路形成块一体地形成有所述流入方向限制部，在所述主流路壳体块组装有收纳所述副流路形成块的所述副流路壳体块。3.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤真人，名和基之，三好麻子，松田正誉，中林裕治，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：