本实用新型专利技术公开一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其包括发射光工位、测试工位和接收光工位；于发射光工位设置有宽光谱激光光源和光源光纤；于测试工位设置有测试放置机构，测试放置机构包括测试平台，贯穿测试平台设置有第一通光孔，测试平台上设置有45度测试放置座；于接收光工位设置有接收光纤；45度测试放置座包括定位安装部和产品放置斜面平台，贯穿产品放置斜面平台设置有第二通光孔；光源光纤的发射端、第一通光孔、第二通光孔、接收光纤的接收端处于同一中轴线构成激光测量路径；待测产品的法线与所述激光测量路径呈45度的夹角。本实用新型专利技术实现45度分光测试，降低因入射光角度偏差大而存在测量误差，降低光路中光量损耗。量损耗。量损耗。
【技术实现步骤摘要】
一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置
[0001]本技术涉及光谱仪
，具体涉及一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置。
技术介绍
[0002]目前，光通讯所用的核心滤光片需要进行高精度的45度分光测试，为了提高测量精准度，必须严格要求激光测量路径的精准度、以及在测量时滤光片与测量工作平台之间的贴合程度，以降低人为因素或装置偏差等问题而导致的测量误差。并且现有的测试装置中滤光片定位治具为独立结构，即不同度数的测试治具匹配一个独立的测试平台，若要进行不同度数的测试需求，则需更换相应度数的独立测试平台，每次更换难以保证光源与测试平台中通光孔的同心度精准度，更换操作繁杂，装置成本高。
技术实现思路
[0003]为了克服上述技术问题，本技术公开了一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置。
[0004]本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：
[0005]一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其包括依次设置的发射光工位、测试工位和接收光工位；
[0006]于所述发射光工位设置有光源机构，所述光源机构包括宽光谱激光光源和光源光纤；
[0007]于所述测试工位设置有测试放置机构，所述测试放置机构包括测试平台，贯穿所述测试平台设置有第一通光孔，所述测试平台上对应所述第一通光孔设置有45度测试放置座；
[0008]于所述接收光工位设置有包括光谱仪和光功率计的仪器，所述包括光谱仪和光功率计的仪器包括接收光纤；
[0009]所述45度测试放置座包括一体成型的定位安装部和产品放置斜面平台，所述定位安装部安装于所述测试平台上，贯穿所述产品放置斜面平台设置有第二通光孔；
[0010]所述光源光纤的发射端、所述第一通光孔、所述第二通光孔、所述接收光纤的接收端处于同一中轴线构成激光测量路径；
[0011]置于所述产品放置斜面平台上的待测产品的法线与所述激光测量路径呈45度的夹角。
[0012]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述光源机构还包括用于调整所述光源光纤旋转角度的第一旋转调整组件、用于调整所述光源光纤X向位置的第一X向调整组件、用于调整所述光源光纤Y向位置的第一Y向调整组件、及用于调整所述光源光纤Z向位置的第一Z向调整组件。
[0013]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述包括光谱仪和光功率计的仪
器还包括用于调整所述接收光纤旋转角度的第二旋转调整组件、用于调整所述接收光纤X向位置的第二X向调整组件、用于调整所述接收光纤Y向位置的第二Y向调整组件、及用于调整所述接收光纤Z向位置的第二Z向调整组件。
[0014]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述定位安装部的下端面设置有第一安装限位适配座，所述测试平台的上端面设置有第二安装限位适配座，所述第一安装限位适配座相适配地安装于所述第二安装限位适配座中。
[0015]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述第一通光孔和所述第二通光孔的孔径均为0.5mm。
[0016]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述产品放置斜面平台与所述第一通光孔的同心度在0.03mm之内。
[0017]上述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其中所述测试平台与所述产品放置斜面平台的公差在0.05mm之内。
[0018]本技术的有益效果为：本技术采用所述光源光纤传光发射出几乎平行的激光束，沿所述激光测量路径通过所述第一通光孔、所述第二通光孔照射至所述接收光纤，以实现对置于所述45度测试放置座上的待测产品进行45度分光测试，极大程度地降低因入射光角度偏差过大而存在较大的测量误差，提高产品放置平稳性和测量精准度，降低光路中的光量损耗；其中，由于所述光源光纤的发射端、所述第一通光孔、所述第二通光孔、所述接收光纤的接收端处于同一中轴线，确保激光束在测量校准时精准通过所述第一通光孔和所述第二通光孔对齐待测产品，进一步提高入射光与待测产品的垂直度；并且所述45度测试放置座与所述测试平台设计为分离式结构，可根据实际测量需求，自由选择更换或安装所需的所述45度测试放置座，以提高装置的适用性。
附图说明
[0019]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0020]图1为本技术的结构正视示意图；
[0021]图2为本技术中测试放置机构的正视示意图。
具体实施方式
[0022]下面通过具体实施例对本技术作进一步说明，以使本技术的技术方案更易于理解、掌握，而非对本技术进行限制。
[0023]实施例：参见图1至图2，本实施例提供的一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其包括依次设置的发射光工位、测试工位和接收光工位；
[0024]于所述发射光工位设置有光源机构，所述光源机构包括宽光谱激光光源和光源光纤11；
[0025]于所述测试工位设置有测试放置机构2，所述测试放置机构2包括测试平台21，贯穿所述测试平台21设置有第一通光孔22，所述测试平台21上对应所述第一通光孔22设置有45度测试放置座24；
[0026]于所述接收光工位设置有包括光谱仪和光功率计的仪器，所述包括光谱仪和光功率计的仪器包括接收光纤31；
[0027]所述45度测试放置座24包括一体成型的定位安装部和产品放置斜面平台25，所述定位安装部安装于所述测试平台上21，贯穿所述产品放置斜面平台25设置有第二通光孔23；具体地，可根据实际测量需求，自由设计所述产品放置斜面平台25的尺寸，以适用于承载不同尺寸的待测产品进行45度分光测试；
[0028]所述光源光纤11的发射端、所述第一通光孔22、所述第二通光孔23、所述接收光纤31的接收端处于同一中轴线构成激光测量路径；
[0029]置于所述产品放置斜面平台25上的待测产品的法线与所述激光测量路径呈45度的夹角。
[0030]具体地，采用所述光源光纤11传光发射出几乎平行的激光束，沿所述激光测量路径通过所述第一通光孔22、所述第二通光孔23照射至所述接收光纤31，以实现对置于所述45度测试放置座24上的待测产品进行45度分光测试，极大程度地降低因入射光角度偏差过大而存在较大的测量误差，提高产品放置平稳性和测量精准度，降低光路中的光量损耗；其中，由于所述光源光纤11的发射端、所述第一通光孔22、所述第二通光孔23、所述接收光纤31的接收端处于同一中轴线，确保激光束在测量校准时精准通过所述第一通光孔22和所述第二通光孔23对齐待测产品，进一步提高入射光与待测产品的垂直度；并且所述45度测试放置座24与所述测试平台21设计为分离式结构，可根据实际测量需求，自由选择更换或安装所需的所述45度测试放置座24，以提高装置的适用性。
[0031]较佳地，所述光源机构还包括用于调整所述光源光纤11旋转角度的第一旋转调整组件12、用于调整所述光源光纤11X向位置的第一X向调整组件13、用于调整所述光源光纤11Y向位置的第一Y向调本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其特征在于，其包括依次设置的发射光工位、测试工位和接收光工位；于所述发射光工位设置有光源机构，所述光源机构包括宽光谱激光光源和光源光纤；于所述测试工位设置有测试放置机构，所述测试放置机构包括测试平台，贯穿所述测试平台设置有第一通光孔，所述测试平台上对应所述第一通光孔设置有45度测试放置座；于所述接收光工位设置有包括光谱仪和光功率计的仪器，所述包括光谱仪和光功率计的仪器包括接收光纤；所述45度测试放置座包括一体成型的定位安装部和产品放置斜面平台，所述定位安装部安装于所述测试平台上，贯穿所述产品放置斜面平台设置有第二通光孔；所述光源光纤的发射端、所述第一通光孔、所述第二通光孔、所述接收光纤的接收端处于同一中轴线构成激光测量路径；置于所述产品放置斜面平台上的待测产品的法线与所述激光测量路径呈45度的夹角。2.根据权利要求1所述的光谱仪应用于滤光片45度测试装置，其特征在于，所述光源机构还包括用于调整所述光源光纤旋转角度的第一旋转调整组件、用于调整所述光源光纤X向位置的第一X向调整组件、用于调整所述光源光纤Y向位置的第一Y向调整组...
【专利技术属性】
技术研发人员：周荣铿，
申请(专利权)人：贵州铜仁旭晶光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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