本发明专利技术属于航空电子测试技术领域，公开了一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试系统及方法，所述系统包括：上位机、测试装置和被测ARINC659总线SIP芯片，使用时将被测ARINC659总线SIP芯片通过芯片工装安装在测试装置上，上位机与测试装置的串口相连接；测试装置包含：主控制模块、芯片工装、通信模块、三次电源模块；能大大提高ARINC659总线SIP芯片的测试效率和应用范围。效率和应用范围。效率和应用范围。
【技术实现步骤摘要】
一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试装置及方法
[0001]本专利技术属于航空电子测试
，尤其涉及一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试装置及方法。
技术介绍
[0002]ARINC659总线是一种基于时间表驱动的总线型多节点串行通信总线，该总线由霍尼韦尔公司提出。ARINC659总线具有高冗余度和高可靠的特点，具有高吞吐量、数据传输确定和严格的故障隔离等特性，是一个在总线传输时间上和存储空间上均具有鲁棒性和高容错性的高完整性背板总线。该总线已广泛被应用在航空、航天等领域。
[0003]ARINC659协议SIP芯片是为了减小模块尺寸、重量和功耗(SWaP)，基于ARINC659总线协议，开发的一款实现了总线物理层、数据链路层功能的SIP芯片。本专利技术测试的芯片为自研流片的ARINC659协议SIP芯片，该芯片满足ARINC659总线协议标准，提高了产品质量，降低了使用门槛。随着使用量逐年增大，为了满足小批量生产交付测试，元器件二次筛选等相关试验需求，通用测试工装由于其测试覆盖率低、测试流程复杂，无法满足批量化芯片测试要求，因此需要开发一套方便、快捷、测试效率高的自动化测试环境。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的：提供一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试装置及方法，可满足小批量生产交付测试、生产交付、二次筛选和相关试验等需求，能大大提高ARINC659总线SIP芯片的测试效率和应用范围。
[0005]本专利技术的技术方案：为了实现上述专利技术目的，本专利技术采用如下技术方案予以实现。
[0006]技术方案一：
[0007]一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试系统，所述系统包括：上位机、测试装置和被测ARINC659总线SIP芯片，使用时将被测ARINC659总线SIP芯片通过芯片工装安装在测试装置上，上位机与测试装置的串口相连接；
[0008]测试装置包含：主控制模块、芯片工装、通信模块、三次电源模块；
[0009]主控制模块，用于接收来自上位机的测试指令，针对被测ARINC659总线SIP芯片功能项，进行SIP芯片全功能测试；
[0010]芯片工装，用于安装并紧固被测ARINC659总线SIP芯片；
[0011]通信模块，用于完成测试装置和上位机之间的信息交互；
[0012]三次电源模块，用于产生测试装置需要的所有三次电源；
[0013]所有被测ARINC659总线SIP芯片均挂载在同一个ARINC659总线上，主控制模块通过不同的片选信号与每个被测ARINC659总线SIP芯片分别进行交联。
[0014]本专利技术技术方案一的特点和进一步的改进为：
[0015](1)所述主控模块包含时钟模块、复位发生器、HOST地址数据控制总线模块、槽位ID产生模块、离散信号产生处理模块、中断信号模块、MTM维护模块、串口协议层模块；
[0016]时钟模块，用于处理被测ARINC659总线SIP芯片的心跳测试信号；
[0017]复位发生器，用于产生复位信号；
[0018]HOST地址数据控制总线模块，内含被测ARINC659总线SIP芯片控制IP，通过该模块完成对数据存储空间读写操作，协议层所有寄存器的访问和测试，外接离散信号测试；
[0019]槽位ID产生模块，产生被测ARINC659总线SIP芯片的ID离散量信息；
[0020]离散信号产生处理模块，产生和接收外接离散信号；
[0021]中断信号模块，用于处理被测ARINC659总线SIP芯片的中断信号；
[0022]MTM维护模块，用于被测ARINC659总线SIP芯片内部ARINC659的测试表程序的加载；
[0023]串口协议层模块，用于实现与上位机信息交互的串口通信协议。
[0024]技术方案二：
[0025]一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试方法，所述方法基于技术方案一所述的测试系统实现，所述方法包括：
[0026]S1，测试装置向上位机发送测试主页面，包括32位ARINC659测试，所有被测ARINC659总线SIP芯片同时测试、选择测试，被测ARINC659总线SIP芯片表程序加载选项；
[0027]S2，测试人员首先选择被测ARINC659总线SIP芯片表程序加载选项，对被测ARINC659总线SIP芯片进行测试表程序的在线加载；
[0028]S3，表程序加载完成后，开始ARINC659功能测试，包括，ARINC659数据缓存器测试、ARINC659寄存器区测试、ARINC659总线测试、槽位号ID测试、离散信号测试、中断信号测试。
[0029]本专利技术技术方案二的特点和进一步的改进为：
[0030](1)S2中的表程序的在线加载，采用MTM维护模块进行被测ARINC659总线SIP芯片测试表程序在线加载，将测试表程序从上位机串口再经测试装置的MTM维护模块写入每个被测ARINC659总线SIP芯片的EEPROM中，被测ARINC659总线SIP芯片通过控制器读取存储器中的表程序版本，上位机也通过串口、MTM维护模块回读表程序进行读写校验，验证表程序的正确性。
[0031](2)S3中的ARINC659数据缓存器测试，通过主控制模块向被测ARINC659总线SIP芯片的所有数据存储空间依次写入测试数据，然后回读比较，如果写入和回读的一致，则ARINC659的地址数据控制总线和数据缓存区正确。
[0032](3)S3中的ARINC659SIP芯片寄存器区测试，通过被测ARINC659总线SIP芯片的HOST地址数据控制总线读取每一个指定的寄存器空间，如果和协议规定的一致则寄存器测试通过。
[0033](4)S3中的ARINC659SIP芯片总线测试，通过主控制模块根据表程序中规定窗口地址向被测ARINC659总线SIP芯片写入特定发送数据，通过表程序中发送接收窗口对被测ARINC659总线SIP芯片之间进行数据互传，然后在主控制模块中对发送的数据和接收的数据进行自动比较，如果数据一致则ARINC659总线测试通过。
[0034](5)S3中的槽位号ID测试、离散信号测试通过主控制模块产生并发送给每个被测ARINC659总线SIP芯片的槽位号和离散信号，通过主控制模块接收每个被测ARINC659总线SIP芯片的离散信号和中断信号，主控制模块通过读取被测ARINC659总线SIP芯片相应寄存器和主控制模块产生的信号进行比较，如果数据一致则ARINC659槽位号ID测试、离散信号
测试通过，如果可以接收到被测ARINC659总线SIP芯片的中断信号且中断信号周期与表程序规定时间一致则中断测试通过。
[0035]本专利技术基于自研测试装置，面向SIP芯片测试要求，设计了一种自动化测试装置及方法，可以完成同时对多片ARINC659总线SIP芯片功能完整性的自动化测试。该测试装置使用自制的芯片工装本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试装置，其特征在于，所述装置包括：上位机、测试装置和被测ARINC659总线SIP芯片，使用时将被测ARINC659总线SIP芯片通过芯片工装安装在测试装置上，上位机与测试装置的串口相连接；测试装置包含：主控制模块、芯片工装、通信模块、三次电源模块；主控制模块，用于接收来自上位机的测试指令，针对被测ARINC659总线SIP芯片功能项，进行SIP芯片全功能测试；芯片工装，用于安装并紧固被测ARINC659总线SIP芯片；通信模块，用于完成测试装置和上位机之间的信息交互；三次电源模块，用于产生测试装置需要的所有三次电源；所有被测ARINC659总线SIP芯片均挂载在同一个ARINC659总线上，主控制模块通过不同的片选信号与每个被测ARINC659总线SIP芯片分别进行交联。2.根据权利要求1所述的一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试装置，其特征在于，所述主控模块包含时钟模块、复位发生器、HOST地址数据控制总线模块、槽位ID产生模块、离散信号产生处理模块、中断信号模块、MTM维护模块、串口协议层模块；时钟模块，用于处理被测ARINC659总线SIP芯片的心跳测试信号；复位发生器，用于产生复位信号；HOST地址数据控制总线模块，内含被测ARINC659总线SIP芯片控制IP，通过该模块完成对数据存储空间读写操作，协议层所有寄存器的访问和测试，外接离散信号测试；槽位ID产生模块，产生被测ARINC659总线SIP芯片的ID离散量信息；离散信号产生处理模块，产生和接收外接离散信号；中断信号模块，用于处理被测ARINC659总线SIP芯片的中断信号；MTM维护模块，用于被测ARINC659总线SIP芯片内部ARINC659的测试表程序的加载；串口协议层模块，用于实现与上位机信息交互的串口通信协议。3.一种ARINC 659总线SIP芯片自动化测试方法，所述方法基于权利要求1－2任一种测试装置实现，其特征在于，所述方法包括：S1，测试装置向上位机发送测试主页面，包括32位ARINC659测试，所有被测ARINC659总线SIP芯片同时测试、选择测试，被测ARINC659总线SIP芯片表程序加载选项；S2，测试人员首先选择被测ARINC659总线SIP芯片表程序加载选项，对被测ARINC659总线SIP芯片进行测试表程序的在线加载；S3，表程序加载完成后，开始ARINC659功能测试，包括，ARINC659数据缓存器测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：温昊华，宋阳，马斌，王国琛，张轩瑞，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所，
类型：发明
国别省市：
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