显示面板的调试方法及调试装置制造方法及图纸

本申请提供了一种显示面板的调试方法及调试装置，该显示面板具有第一显示区和第二显示区，所述调试方法包括：从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为样品；对每个样品的第一显示区进行伽马调试以获得第一寄存器值表、以及对每个样品的第二显示区进行伽马调试以获得第二寄存器值表；基于至少部分样品的第一寄存器值表和第二寄存器值表获得第一系数矩阵表；其中，第一系数矩阵表用于存储不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第一系数；利用第一系数矩阵表对当前批次的其余显示面板的第二显示区进行调试。通过上述方式，本申请能够提高同一批次生产出来的显示面板的调试效率和调试效果。调试效果。调试效果。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的调试方法及调试装置


[0001]本申请属于显示
，具体涉及一种显示面板的调试方法及调试装置。

技术介绍

[0002]为了追求高的屏占比，全面屏显示面板应运而生。全面屏显示面板一般包含多个显示区，且其中一个显示区用于与屏下摄像头的位置对应。
[0003]但是，本申请的专利技术人在长期研究过程中发现，与屏下摄像头对应的显示区和其余位置处的显示区的伽马曲线不一致，与屏下摄像头对应的显示区需要单独的伽马曲线。因此，现有技术中会对生产出来的每个显示面板的与屏下摄像头对应的显示区进行亮度采集并进行单独的伽马调试。一方面，由于与屏下摄像头对应的显示区面积较小，亮度采集较为困难，导致一次伽马调试的结果准确度较低，多个显示区的一致性效果不佳。另一方面，在生产过程中，同一批次生产出来的显示面板的个数为大几千甚至上万，上述调试方法存在效率低、成本高的缺点。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种显示面板的调试方法以及调试装置，以提高同一批次生产出来的显示面板的调试效率，降低同一批次生产出来的显示面板的调试成本，且提高调试结果的准确度，以提升第一显示区和第二显示区的一致性。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的调试方法，所述显示面板具有第一显示区和第二显示区，所述调试方法包括：从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为样品；对每个所述样品的第一显示区进行伽马调试以获得第一寄存器值表、以及对每个所述样品的第二显示区进行伽马调试以获得第二寄存器值表；其中，所述第一寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述样品的第一显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；所述第二寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述样品的第二显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；且不同种类的发光子像素的发光颜色不同；基于至少部分所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得第一系数矩阵表；其中，所述第一系数矩阵表用于存储不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第一系数；利用所述第一系数矩阵表对当前批次的其余显示面板的第二显示区进行调试。每个第一系数与所述第一显示区和所述第二显示区内对应灰阶条件下该发光子像素的灰阶电压相关。优选的，所述第一系数与所述第二显示区和所述第一显示区中对应灰阶条件下对应种类的发光子像素的灰阶电压的比值相关。
[0006]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的调试装置，包括相互耦接的存储器和处理器，所述存储器和所述处理器相互配合以实现上述任一实施例中所述的调试方法。
[0007]区别于现有技术情况，本申请的有益效果是：本申请所提供的显示面板的调试方法中，会先从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为样品；然后对每个样品的第一显示
区进行伽马调试以获得第一寄存器值表、以及对每个样品的第二显示区进行伽马调试以获得第二寄存器值表；其中，第一寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给样品的第一显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；第二寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给样品的第二显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；且不同种类的发光子像素的发光颜色不同；接着基于至少部分样品的第一寄存器值表和第二寄存器值表获得第一系数矩阵表；其中，第一系数矩阵表中存储有不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第一系数，且每个第一系数与对应灰阶条件和对应种类的发光子像素的第一显示区和第二显示区的灰阶电压相关；利用第一系数矩阵表对当前批次的其余显示面板的第二显示区进行调试。即本申请中会先基于当前批次中的样品的第一显示区和第二显示区的伽马调试结果建立第一系数矩阵表，然后再利用该第一系数矩阵表调试当前批次的其余显示面板的第二显示区。可以看到，一方面，对于当前批次的其余显示面板而言，无需对其余显示面板的第二显示区进行单独的亮度采集和伽马调试，以降低亮度采集所带来的误差，提升第一显示区和第二显示区的显示效果一致性；且该调试方法可以减少调试时间，增加产能。另一方面，本申请中建立的第一系数矩阵表中是不同灰阶不同颜色下均对应有相应的第一系数，与一些利用拟合公式来建立样品的第一显示区和第二显示区之间的相关关系相比，其与实际情况的偏差较小，可以使得第一显示区和第二显示区的伽马调试效果和精度较好。
附图说明
[0008]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
[0009]图1为本申请显示面板的调试方法一实施方式的流程示意图；
[0010]图2为显示面板一实施方式的结构示意图；
[0011]图3为图1中步骤S103
‑
步骤S104之间一实施方式的流程示意图；
[0012]图4为图1中步骤S104对应的一实施方式的结构示意图；
[0013]图5为本申请显示面板的调试装置一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
[0014]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0015]请参阅图1，图1为本申请显示面板的调试方法一实施方式的流程示意图，该调试方法包括：
[0016]S101：从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为样品。
[0017]具体地，一般而言，产线上生产出来的同一批次的显示面板的型号相同，且相互之间性能差异性较小。如图2所示，图2为显示面板一实施方式的结构示意图。每个显示面板20
可以具有第一显示区200和第二显示区202。可选地，第二显示区202的透光率大于第一显示区200的透光率；例如，第二显示区202为与屏下摄像头对应的显示区，第一显示区200为与屏下摄像头非对应的显示区。
[0018]此外，在执行上述步骤S101时，可以按照一定抽样比例从当前批次生产出来的多个显示面板中随机抽取出一个或多个显示面板作为样品，且该抽样比例可以根据实际需求进行设定。
[0019]S102：对每个样品的第一显示区进行伽马调试以获得第一寄存器值表、以及对每个样品的第二显示区进行伽马调试以获得第二寄存器值表；其中，第一寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给样品的第一显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；第二寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给样品的第二显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；且不同种类的发光子像素的发光颜色不同。
[0020]具体地，一般而言，寄存器值可以理解为一个代码，一个寄存器值对应一个灰阶电压，不同灰阶电压对应的寄存器值不同。且可选地，寄存器值与灰阶电压之间呈线性关系，以降低本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的调试方法，其特征在于，所述显示面板具有第一显示区和第二显示区，所述调试方法包括：从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为样品；对每个所述样品的第一显示区进行伽马调试以获得第一寄存器值表、以及对每个所述样品的第二显示区进行伽马调试以获得第二寄存器值表；其中，所述第一寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述样品的第一显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；所述第二寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述样品的第二显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；且不同种类的发光子像素的发光颜色不同；基于至少部分所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得第一系数矩阵表；其中，所述第一系数矩阵表用于存储不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第一系数；利用所述第一系数矩阵表对当前批次的其余显示面板的第二显示区进行调试。2.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述样品的个数为多个，所述基于至少部分所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得第一系数矩阵表的步骤，包括：基于每个所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得相应的第二系数矩阵表；其中，所述第二系数矩阵表用于存储不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第二系数；基于多个所述第二系数矩阵表获得所述第一系数矩阵表；其中，所述第一系数与对应灰阶条件和对应种类的发光子像素的多个所述第二系数相关；优选地，所述第一系数为对应灰阶条件和对应种类的发光子像素的多个所述第二系数的均值。3.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述样品的个数为多个，所述基于至少部分所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得第一系数矩阵表的步骤，包括：基于每个所述样品的所述第一寄存器值表和所述第二寄存器值表获得相应的第二系数矩阵表；其中，所述第二系数矩阵表用于存储不同灰阶条件下每种发光子像素对应的第二系数；从多个所述样品中获得显示预设图像时显示参数差异最小的样品，并将显示参数差异最小的所述样品的第二系数矩阵表作为所述第一系数矩阵表；其中，所述显示参数包括颜色和/或亮度中至少一个。4.根据权利要求1所述的调试方法，其特征在于，所述利用所述第一系数矩阵表对当前批次的其余显示面板的第二显示区进行调试的步骤之前，还包括：从当前批次中抽取出至少一个显示面板作为测试品；对所述测试品的第一显示区进行伽马调试以获得第三寄存器值表；其中，所述第三寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述测试品的第一显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值；基于所述第三寄存器值表和所述第一系数矩阵表获得所述测试品的第二显示区的第
四寄存器值表；其中，所述第四寄存器值表用于存储不同灰阶条件下提供给所述测试品的第二显示区中每种发光子像素的灰阶电压所对应的寄存器值，且所述第四寄存器值表中的寄存器值由对应灰阶条件和对应种类的发光子像素在第三寄存器值表中的寄存器值以及在第一系数矩阵表中的第一系数决定；基于所述第三寄存器值表和所述第四寄存器值表使相应...

【专利技术属性】
技术研发人员：楼均辉，任春辉，何泽尚，葛林，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：