一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置，该方法包括：建立温度传感器的加速寿命试验模型；获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；将相关参数代入加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过加速因子计算试验的循环次数；根据循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，通过失效阈值对比获取目标温度传感器使用寿命的验证结果；本发明专利技术方法通过建立加速寿命试验模型，计算得到加速因子，进而求出试验的循环次数；在对比温度传感器的性能指标之后可以快速验证温度传感器的使用寿命，避免了常规试验时间过长，试验成本过高，效率低下的问题，有助于保证轨道车辆的安全运行。辆的安全运行。辆的安全运行。

【技术实现步骤摘要】
一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置


[0001]本专利技术涉及传感器寿命验证
，特别涉及一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置。

技术介绍

[0002]保证机车的安全准点运行以及稳定高铁线路的整体运营秩序是十分重要的一项工作。但是在轨道车辆的运行过程中，常常可能因为Pt100温度传感器自身的质量问题而使得整个轨道车辆的温度检测系统停止工作或超出经验值，导致轨道车辆的降速行驶甚至停车检查等状态，从而造成了巨大的经济损失和负面影响。考虑到每辆轨道车辆上需安装几百个此类温度传感器，因此需要能快速判断验证该温度传感器的使用寿命的方法技术。
[0003]在故障的薄膜铂电阻温度传感器返厂维修后发现，不论是一代、二代或者三代产品，大部分故障件的故障原因都是电阻值不合格，外力拉扯(芯线断开)、裸露部位涂胶不到位、过程防护不到位、封装工艺操作不到位、芯片本身性能问题、耐压性能不达标，铁氟龙吹缩不到位、元件引脚焊接不良。
[0004]薄膜铂电阻温度传感器在正常工作压力下的使用寿命较长，如果开展常规应力试验，则试验时间较长，试验成本过高，生产商难以承受，因此需要开展加速寿命试验，确定试验循环次数，来快速验证薄膜铂电阻温度传感器的使用寿命。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提供至少解决上述部分技术问题的一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置，该方法通过建立加速寿命试验模型，计算得到加速因子，进而求出试验的循环次数；在对比温度传感器的性能指标之后可以快速验证温度传感器的使用寿命。<br/>[0006]为实现上述目的，本专利技术采取的技术方案为：
[0007]第一方面，本专利技术提供一种温度传感器使用寿命快速验证方法，包括以下步骤：
[0008]建立温度传感器的加速寿命试验模型；
[0009]获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；
[0010]将所述相关参数代入所述加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过所述加速因子计算试验的循环次数；
[0011]根据所述循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，获取目标温度传感器使用寿命的验证结果。
[0012]进一步地，所述建立温度传感器的加速寿命试验模型，所述加速寿命试验模型为：
[0013][0014]其中：N为温度传感器的失效循环数；f为循环频率；ΔT为温度传感器的温度变化范围；A为常数；β、a为常量；电子元器件E
A
＝044Ev；K为波尔兹曼常数8.623
×
10
‑5eV/k；T
max1
为实际寿命循环中最高温度；T
max2
为加速寿命温度循环试验中最高温度；
[0015]通过式(1)可以得到加速因子的求解函数为：
[0016][0017]其中：A
F
为加速因子；N
f1
为实际寿命循环次数；N
f2
为加速寿命试验次数；ΔT1为实际温度变化范围；ΔT2为试验温度变化范围；β取2；a取f1为实际循环频率；f2为试验循环频率；T
max1
为实际寿命循环中最高温度；T
max2
为加速寿命温度循环试验中最高温度。
[0018]进一步地，所述获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数，所述相关参数包括：
[0019]实际寿命循环中极限温度、实际使用工况和实际寿命循环次数。
[0020]进一步地，，所述对目标温度传感器的状态和性能进行检测，检测内容具体包括；
[0021]元件引脚和焊点的状态检测，允差、绝缘电阻和耐压的性能检测。
[0022]进一步地，所述元件引脚和焊点的状态检测，检测方法为：使用X射线进行拍照检测。
[0023]第二方面，本专利技术实施例还提供一种温度传感器使用寿命快速验证装置，该装置包括：
[0024]模型构建模块，用于建立温度传感器的加速寿命试验模型；
[0025]参数获取模块，用于获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；
[0026]试验计算模块，用于将所述相关参数代入所述加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过所述加速因子计算试验的循环次数；
[0027]检测验证模块，用于根据所述循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，获取目标温度传感器使用寿命的验证结果。
[0028]第三方面，本专利技术实施例还提供一种存储装置，其上存储有计算设备可读的一个或多个程序，所述一个或多个程序包括指令，所述指令当由计算设备执行时，使得所述计算设备执行上述的温度传感器使用寿命快速验证方法。
[0029]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
[0030]本专利技术实施例提供的一种温度传感器使用寿命快速验证方法及装置，方法包括：建立温度传感器的加速寿命试验模型；获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；将相关参数代入加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过加速因子计算试验的循环次数；根据循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，进而通过比对获取目标温度传感器使用寿命的验证结果。该方法通过建立温度传感器的加速寿命试验模型，计算得到加速因子，进而求出试验的循环次数；在对比温度传感器的性能指标之后可以快速验证温度传感器的使用寿命，避免了常规试验时间过长，试验成本过高，人力浪费，效率低下的问题，有助于保证轨道车辆的安全运行。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0032]图1为本专利技术实施例提供的温度传感器使用寿命快速验证方法的流程图。
[0033]图2为本专利技术实施例提供的温度传感器使用寿命快速验证方法的原理图。
[0034]图3为本专利技术实施例提供的温度循环寿命试验前后X光照片示意图。
[0035]图4为本专利技术实施例提供的温度传感器使用寿命快速验证装置的框图。
具体实施方式
[0036]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0037]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0038]应注本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度传感器使用寿命快速验证方法，其特征在于，包括以下步骤：建立温度传感器的加速寿命试验模型；获取目标温度传感器实际使用环境的相关参数；将所述相关参数代入所述加速寿命试验模型中计算得到加速因子，通过所述加速因子计算试验的循环次数；根据所述循环次数对目标温度传感器进行温度循环试验，试验后对目标温度传感器的结构和性能进行检测，获取目标温度传感器使用寿命的验证结果。2.根据权利要求1所述的一种温度传感器使用寿命快速验证方法，其特征在于，所述建立温度传感器的加速寿命试验模型，所述加速寿命试验模型为：其中：N为温度传感器的失效循环数；f为循环频率；ΔT为温度传感器的温度变化范围；A为常数；β、a为常量；电子元器件E
A
＝044Ev；K为波尔兹曼常数8.623
×
10
‑5eV/k；T
max1
为实际寿命循环中最高温度；T
max2
为加速寿命温度循环试验中最高温度；通过式(1)可以得到加速因子的求解函数为：其中：A
F
为加速因子；N
f1
为实际寿命循环次数；N
f2
为加速寿命试验次数；ΔT1为实际温度变化范围；ΔT2为试验温度变化范围；β取2；a取f1为实际循环频率；f2为试验循环频率；T
max1
为实际寿命循环中最高温度；T

【专利技术属性】
技术研发人员：孙权，冯静，
申请(专利权)人：湖南银杏可靠性技术研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：