图像的校正方法及电子设备技术

本申请涉及光学测量技术领域，公开了一种图像的校正方法及电子设备，该图像的校正方法，包括：在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经待投射物体的表面调制的第一图像；对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，以得到校正后的第二图像，其中，第一图像与第二图像的亮度不同。通过在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经待投射物体的表面调制的第一图像，对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，得到校正后的第二图像，本申请能够解决由伽玛畸变引起的图像亮度问题，缩小相机采集到的图像的亮度误差，便于真实还原物体的颜色。便于真实还原物体的颜色。便于真实还原物体的颜色。

【技术实现步骤摘要】
图像的校正方法及电子设备


[0001]本申请实施方式涉及光学测量
，特别是涉及一种图像的校正方法及电子设备。

技术介绍

[0002]结构光是一组由投影仪和摄像头组成的系统结构，用投影仪投射特定的光信息到物体表面及背景后，由摄像头采集，根据物体造成的光信号的变化来计算物体的相关信息，进而还原整个三维空间。
[0003]然而由于相机和投影仪等硬件设备产生的非线性畸变即伽马畸变，会使经相机捕获的图像的亮度失真，从而导致结构光在进行三维还原的过程中无法真实还原物体的颜色。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种图像的校正方法及电子设备，以解决由伽玛畸变引起的图像亮度问题，缩小相机采集到的图像的亮度误差，便于真实还原物体的颜色。
[0005]本申请实施例提供以下技术方案：
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种图像的校正方法，包括：
[0007]在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经待投射物体的表面调制的第一图像；
[0008]对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，以得到校正后的第二图像，其中，第一图像与第二图像的亮度不同。
[0009]在一些实施例中，第一图像包括至少三幅正弦条纹光栅图像；
[0010]对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，包括：
[0011]对经待投射物体的表面调制的第一图像的亮度分布函数进行二项式展开，并对展开后的第一图像的亮度分布函数进行累加求和；
[0012]根据经过累加求和后的第一图像的亮度分布函数，计算得到伽马畸变平均强度；
[0013]根据伽马畸变平均强度、伽马畸变调制强度与伽马畸变包裹相位，确定伽马畸变校正函数；
[0014]通过伽马畸变校正函数对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正。
[0015]在一些实施例中，经待投射物体的表面调制的第一图像的亮度分布函数包括：
[0016][0017]其中，(x
c
,y
c
)为相机坐标系下像素点C的坐标，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，为伽马畸变包裹相位，N为正弦条纹光栅图像的个数，γ为组合伽马值。
[0018]在一些实施例中，展开后的第一图像的亮度分布函数包括：
[0019][0020]其中，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，γ为组合伽马值，为伽马畸变包裹相位，N为正弦条纹光栅图像的个数。
[0021]在一些实施例中，经过累加求和后的第一图像的亮度分布函数，包括：
[0022][0023]其中，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，γ为组合伽马值，Γ为伽马函数，N为正弦条纹光栅图像的个数。
[0024]在一些实施例中，伽马畸变平均强度包括：
[0025][0026]其中，为像素点C的伽马畸变平均强度，为组合伽马值，Γ为伽马函数，A
c
(x
c
,y
c
)为像素点C的伽马无畸变平均强度；
[0027]其中，伽马无畸变平均强度包括：
[0028][0029]其中，A
c
(x
c
,y
c
)为像素点C的伽马无畸变平均强度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数。
[0030]在一些实施例中，伽马畸变调制强度包括：
[0031][0032]其中，为像素点C的伽马畸变调制强度，为组合伽马值，Γ为伽马函数，B
c
(x
c
,y
c
)为像素点C的伽马无畸变调制强度；
[0033]其中，伽马无畸变调制强度包括：
[0034][0035]其中，B
c
(x
c
,y
c
)为像素点C的伽马无畸变调制强度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数。
[0036]在一些实施例中，伽马畸变包裹相位包括：
[0037][0038]其中，为伽马畸变包裹相位，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，N为正弦条纹光栅图像的个数。
[0039]在一些实施例中，伽马畸变校正函数包括：
[0040][0041]其中，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，为像素点C的伽马畸变平均强度，为像素点C的伽马畸变调制强度，为伽马畸变包裹相位，N为正弦条纹光栅图像的个数。
[0042]第二方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：
[0043]至少一个处理器；和
[0044]与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0045]存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行如第一方面的图像的校正方法。
[0046]第三方面，本申请实施例提供一种非易失性计算机可读存储介质，非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，计算机可执行指令用于使电子设备执行如第一方面的图像的校正方法。
[0047]本申请实施方式的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请实施方式提供一种图像的校正方法，包括：在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经待投射物体的表面调制的第一图像；对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，以得到校正后的第二图像，其中，第一图像与第二图像的亮度不同。通过在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经待投射物体的表面调制的第一图像，对经待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，得到校正后的第二图像，本申请能够解决由伽玛畸变引起的图像亮度问题，缩小相机采集到的图像的亮度误差，便于真实还原物体的颜色。
附图说明
[0048]一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
[0049]图1是本申请实施例提供的一种应用环境的示意图；
[0050]图2是本申请实施例提供的一种图像的校正方法的流程示意图；
[0051]图3是图2中的步骤S202的细化流程图；
[0052]图4是本申请实施例提供的一种伽马畸变平均强度的系数的函数图像；
[0053]图5是本申请实施例提供的一种伽马畸变调制强度的系数的函数图像；
[0054]图6是本申请实施例提供的一种图像的校正装置的结构示意图；
[0055]图7是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0056]为了便于理解本申请，下面结合附图和具体实施方式，对本申请进行更详细的说明。需本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像的校正方法，其特征在于，所述方法包括：在第一图像被投射至待投射物体的表面之后，获取经所述待投射物体的表面调制的第一图像；对经所述待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，以得到校正后的第二图像，其中，所述第一图像与所述第二图像的亮度不同。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一图像包括至少三幅正弦条纹光栅图像，所述对经所述待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正，包括：对经所述待投射物体的表面调制的第一图像的亮度分布函数进行二项式展开，并对展开后的所述第一图像的亮度分布函数进行累加求和；根据经过累加求和后的所述第一图像的亮度分布函数，计算得到伽马畸变平均强度；根据所述伽马畸变平均强度、伽马畸变调制强度与伽马畸变包裹相位，确定伽马畸变校正函数；通过所述伽马畸变校正函数对经所述待投射物体的表面调制的第一图像进行伽马校正。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述经所述待投射物体的表面调制的第一图像的亮度分布函数包括：其中，(x
c
,y
c
)为相机坐标系下像素点C的坐标，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，为伽马畸变包裹相位，N为正弦条纹光栅图像的个数，γ为组合伽马值。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述展开后的所述第一图像的亮度分布函数包括：其中，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，γ为组合伽马值，为伽马畸变包裹相位，N为正弦条纹光栅图像的个数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述经过累加求和后的所述第一图像的亮度分布函数，包括：其中，为第n幅正弦条纹光栅图像的像素点C的亮度，α为待投射物体的反射率，α
p
为调制常数，γ为组合伽马值，Γ为伽马函数，N为正弦条纹光栅图像的个数。
6.根据权利要求2
‑
3或5所述的方法，其特征在于，所述伽马...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾秉坤，
申请(专利权)人：深圳明锐理想科技有限公司，
类型：发明
国别省市：