本实用新型专利技术一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座，所述的检测移动座上设置有检测主体，所述的检测主体内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体上端面设置的检测转盘连接，所述的检测转盘上开设有安装孔，安装孔通过螺栓安装有安装板，所述的安装板上通过叠放的安装块安装有光束发射器，叠放的安装块相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块固定在安装板上。本实用新型专利技术的目的是提供一种探测器模架的检测装置，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度。确保检测的精度。确保检测的精度。
【技术实现步骤摘要】
一种探测器模架的检测装置
[0001]本技术涉及中国散裂中子源探测器应用领域，尤其涉及一种探测器模架的检测装置。
技术介绍
[0002]中国散裂中子源探测器包括闪烁体探测器，现存闪烁体探测器由多个探测器模架组成，探测器模架由多个探测器模块组成，每个模块都装有很多波移光纤及反馈波移光纤是否接收到光信号的电子器件，在具体安装时，容易出现漏装部分波移光纤的情况，且玻璃光纤需要折弯成特定形状，波移光纤也可能出现折断或者导光率不足的问题，进而会影响到探测器模架在中国散列中子源探测中的应用，需要进行检测，由于探测器模架上的玻璃光纤数量庞大，且为弧形，很难实现完全的检测，因此亟需设计一种可以实现探测器模架上所有波移光纤全面检测的检测装置。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是提供一种探测器模架的检测装置，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度。
[0004]为了实现以上目的，本技术采用的技术方案为：一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座，所述的检测移动座上设置有检测主体，所述的检测主体内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体上端面设置的检测转盘连接，所述的检测转盘上开设有安装孔，安装孔通过螺栓安装有安装板，所述的安装板上通过叠放的安装块安装有光束发射器，叠放的安装块相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块固定在安装板上。
[0005]优选的，所述的检测主体的上端面还设置有检测限位块，所述的检测限位块内开设有用于限制检测转盘转动的检测限位孔。
[0006]优选的，所述的检测限位块的检测限位孔内套接有环形的刻度盘，所述的刻度盘与检测转盘套接配合，且刻度盘固定在检测主体的上端面。
[0007]优选的，所述的安装块的数量不少于三块，且相邻的安装块还安装有测距器，且测距器的测距起点与光束发射器的光束发射点处于同一竖直直线上，检测平台上还设置有与测距器配合并贴在探测器模架后侧板上的定位板。
[0008]本技术的技术效果为：通过检测装置的结构设计，能够使光束发射器处于检测转盘的中心，进而确保光束发射器的发射点始终处于圆心位置，确保检测的精度；测距器的设计，能够确定好光束发射器与探测器模架后侧板的间距，进而方便精准确定好光束发射器的发射点位置；检测限位块和检测刻度盘的设计，可以对检测转盘的转动进行限位，避免出现偏心情况，且检测刻度盘的设计，既能够反馈转动的幅度，同时还能够配合一块直尺对光束发射器的安装位置进行限定。
附图说明
[0009]图1为应用本申请的检测装置进行检测的立体示意图。
[0010]图2为应用本申请的检测装置进行检测的平面示意图。
[0011]图3为本申请检测装置的立体示意图。
[0012]图4为检测结构的立体示意图。
[0013]图中所示文字标注表示为：1、检测平台；2、探测器模架；3、检测装置；4、定位板；11、检测移动座；12、检测主体；13、检测限位块；14、检测转盘；15、安装孔；16、安装板；17、安装块；18、光束发射器；19、测距器；20、刻度盘。
具体实施方式
[0014]为了使本领域技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图对本技术进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本技术的保护范围有任何的限制作用。
[0015]如图3
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4所示，本技术的具体方案：一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座11，所述的检测移动座11上设置有检测主体12，所述的检测主体12内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体12上端面设置的检测转盘14连接，所述的检测转盘14上开设有安装孔15，安装孔15通过螺栓安装有安装板16，所述的安装板16上通过叠放的安装块17安装有光束发射器18，叠放的安装块17相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块17固定在安装板16上，所述的检测主体12的上端面还设置有检测限位块13，所述的检测限位块13内开设有用于限制检测转盘14转动的检测限位孔，所述的检测限位块13的检测限位孔内套接有环形的刻度盘20，所述的刻度盘20与检测转盘14套接配合，且刻度盘20固定在检测主体12的上端面，所述的安装块17的数量不少于三块，且相邻的安装块17还安装有测距器19，且测距器19的测距起点与光束发射器18的光束发射点处于同一竖直直线上，检测平台1上还设置有与测距器19配合并贴在探测器模架后侧板上的定位板4。
[0016]使用本申请的检测装置对探测器模架进行检测的具体方法为：
[0017]步骤一、将光束发射器18和测距器19安装在叠放的相邻安装块17上，并使测距器19测距起点与光束发射器18的光束发射点处于同一竖直直线上；并使光束发射器的发射点处于检测转盘14的转动中心线上（要达到上述效果，可以在进行安装时，配合一块竖直的平板，结合刻度线20即可对测距器19和激光发射器18进行定位）；
[0018]步骤二、将待检测的探测器模架放置到检测平台上，并使探测器模架的后侧板贴住定位板4，通过测距器19测量其与定位板4之间的间距，在测距的过程中调整检测装置的初始位置，在测距器测量的间距为2152.05mm时停止调整检测装置与检测平台的间距，然后使光束发射器发射光速，之后使整个检测装置相对于检测平台1平行移动，直至光束发射器发射的光束处于探测器模架的右侧面；如此即可确定好检测装置相对于检测平台上的探测器模架的初始位置；
[0019]步骤三、使转动装置带动检测转盘14匀速转动，且每次转动的幅度为0.01度，转动总角度不小于18度，进而使检测转盘14上固定安装的安装板转动，如此即可带动光速发射器进行转动，在转动的过程中，刻度盘20和检测限位块13可以对检测转盘14的转动进行限
位，如此可以确保光速发射器的转动中心不会发偏移，确保光速发射器的发出的光束初始点始终不变，随着转动的进行，光束发射器发射的光束依次扫过探测器模架上的波移光纤，直至光束发射器发射的光束超出探测器模架，根据所有的波移光纤对应的电子器件是否产生信号来判断探测器模架的好坏，如所有的电子器件均产生信号，则证明探测器模架质量好，反之，则证明出现波移光纤漏装或损坏。
[0020]需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
[0021]本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本实用新本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种探测器模架的检测装置，包括检测移动座（11），其特征在于，所述的检测移动座（11）上设置有检测主体（12），所述的检测主体（12）内设置有检转动精度为0.01度的转动装置，所述的转动装置与检测主体（12）上端面设置的检测转盘（14）连接，所述的检测转盘（14）上开设有安装孔（15），安装孔（15）通过螺栓安装有安装板（16），所述的安装板（16）上通过叠放的安装块（17）安装有光束发射器（18），叠放的安装块（17）相邻的面均开设有弧形口，且叠放的安装块通过螺栓锁紧，最下层的安装块（17）固定在安装板（16）上。2.根据权利要求1所述的一种探测器模架的检测装置，其特征在于，所述的检测主体（12）的上端面还设置有检测限...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏亚东，
申请(专利权)人：东莞市东莞理工科技创新研究院，
类型：新型
国别省市：
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