一种采用平面扫描的多频段自由空间测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种采用平面扫描的多频段自由空间测试系统及测试方法。包括底座、待测试材料支架和控制系统，所述底座沿水平方向上平行设置有一组自动滑轨，所述自动滑轨上滑动连接有移动平台；所述待测试材料支架固定安装于底座上；一对光斑聚焦透镜天线，所述光斑聚焦透镜天线与激光距离传感器平行设置，且所述光斑聚焦透镜天线通过移动平台连接于自动滑轨上；所述控制系统包括矢量网络分析仪和控制计算机，所述矢量网络分析仪与所述控制计算机通过传输线与所述光斑聚焦透镜天线相连接；本发明专利技术能够自动校准焦距，实现对焦平面的自动标定，有效提高材料性能的测试精度，具有高精度、高自动化等优点。高自动化等优点。高自动化等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种采用平面扫描的多频段自由空间测试系统及方法


[0001]本专利技术涉及无线通信
，尤其涉及对待测材料的介电常数测量时，一种可增加对待测材料的电磁参数精准度的自动校准焦距的多频段自由空间测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]随着微波技术的不断发展，微波介质材料已经被广泛应用到微波通信、雷达导航等多个领域。针对不同领域的应用，介质材料电磁参数起到了指导性的作用。而能实现对待测材料的电磁参数的精准测量，通常采用自由空间法对其测量，自由空间法是一种开场电磁特性参数测试技术，属于传输/反射法的一种。此方法最早由Cullen A L利用菲涅尔公式推出的自由空间测量材料电磁参数理引出。自由空间法对样品的要求较低，只需足够大的一块双面平行的平板，原因在于可以减小外界环境的绕射及其表面不平滑带来的漫反射。
[0003]现有技术中的自由空间测量系统，由于其自由空间法是开场域测试，外界对测试结果准确度的影响比较大。并且其每个装置之间的焦距固定，测量时需要人工去调试不同的距离时的焦距，浪费时间的同时测量精准不稳定，并且测试系统不同器件间的间距较本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于，包括底座，所述底座沿水平方向上平行设置有一组自动滑轨，所述自动滑轨上滑动连接有移动平台，所述移动平台上安装有激光距离传感器;待测试材料支架，所述待测试材料支架固定安装于底座上，所述待测试材料支架上安装有待测样品，所述待测试材料支架上连接有呈L形样品夹具，且所述样品夹具上相隔一定的距离设置有多个安装孔位，所述待测样品通过安装孔位与所述待测试材料支架固定连接;一对光斑聚焦透镜天线，所述光斑聚焦透镜天线与所述激光距离传感器平行设置，且所述光斑聚焦透镜天线位于所述待测试材料支架的两侧，所述光斑聚焦透镜天线与所述移动平台之间连接有可伸缩天线支撑杆，所述光斑聚焦透镜天线通过所述移动平台连接于所述自动滑轨上;控制系统，所述控制系统包括矢量网络分析仪和控制计算机，所述矢量网络分析仪与所述控制计算机电性连接，所述矢量网络分析仪与所述控制计算机通过传输线与所述光斑聚焦透镜天线相连接。2.根据权利要求1所述的采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于，所述底座的两端连接有伺服电机，所述伺服电机输出轴之间联动连接有丝杠，所述丝杠上套设有导向块，所述伺服电机与所述丝杠之间设置有联轴器。3.根据权利要求1所述的采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于，所述待测试材料支架包括导轨和固定支架，所述导轨固定安装于底座的中间处，所述导轨与所述固定支架相互垂直设置，且所述固定支架与所述导轨滑动连接。4.根据权利要求1所述的采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于，所述固定支架上的一侧设置有调节器，所述调节器上安装有旋转旋钮，所述样品夹具与所述调节器固定连接，所述样品夹具可沿所述待测试材料支架上进行上下左右移动。5.根据权利要求1所述的采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于，所述光斑聚焦透镜天线包括发射天线和接收天线，所述发射天线、接收天线和待测样品的中心沿底座从左到右同轴排布。6.根据权利要求5所述的采用平面扫描的多频段自由空间测试系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑明希，卢子欢，陈耿鹏，曾淇，许嘉豪，梁家军，黄冠龙，
申请(专利权)人：佛山蓝谱达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：