层叠光学膜、光学膜的缺陷检查方法及层叠光学膜的制法技术

层叠光学膜的缺陷检查方法包括进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序、向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序、将在第一检查工序中检测出的缺陷(20)的信息以代码(40)的形式记录于层叠光学膜(10A)的记录工序、进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序、与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)以及在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应地对层叠光学膜(10B)进行标记的标记工序，在第二检查工序中，读取在记录工序中所记录的缺陷信息，不重复检测与该缺陷信息对应的缺陷(20)。重复检测与该缺陷信息对应的缺陷(20)。重复检测与该缺陷信息对应的缺陷(20)。

【技术实现步骤摘要】
层叠光学膜、光学膜的缺陷检查方法及层叠光学膜的制法
[0001]本申请是申请号为201680011973.2、申请日为2016年3月14日、专利技术名称为“层叠光学膜的缺陷检查方法、光学膜的缺陷检查方法以及层叠光学膜的制造方法”的专利技术专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及层叠光学膜的缺陷检查方法以及光学膜的缺陷检查方法，也涉及层叠光学膜的制造方法。

技术介绍

[0003]作为具有光学特性的光学膜，已知具有偏振特性的偏振板、具有双折射性的相位差板等。例如，作为偏振板，已知在作为光学膜主体的偏振片(Polyvinyl Alcohol：PVA(聚乙烯醇))的主面两侧贴合有TAC(Triacetyl Cellulose：三醋酸纤维素)膜的偏振板。作为相位差板，已知由光学膜主体单独构成的相位差板。也有时在这种光学膜贴合保护膜、或者贴合带有隔离膜的状态的粘合件而形成层叠光学膜。
[0004]在这种光学膜以及层叠光学膜中，若例如在上述贴合时在内部或表面混入异物、气泡，则有时产生光学缺陷。在专利文献1～2中公开了检查这种光学膜以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种层叠光学膜的缺陷检查方法，其是向光学膜贴合保护膜以及粘合件中的至少一方而得到层叠光学膜、并对所述层叠光学膜中的缺陷进行检查的方法，所述层叠光学膜的缺陷检查方法的特征在于，包括：进行所述光学膜的缺陷检查的第一检查工序；向所述光学膜贴合所述保护膜以及所述粘合件中的至少一方而生成所述层叠光学膜的工序；对在所述第一检查工序中检测出的缺陷信息进行记录的记录工序；进行所述层叠光学膜的缺陷检查的第二检查工序；以及与在所述第一检查工序中检测出的缺陷以及在所述第二检查工序中检测出的缺陷对应而对所述层叠光学膜进行标记的标记工序，在所述第二检查工序中，读取在所述记录工序中所记录的所述缺陷信息，不检测与该缺陷信息对应的缺陷。2.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方法，其中，所述第一检查工序中的缺陷检查方法与所述第二检查工序中的缺陷检查方法相同。3.根据权利要求1所述的层叠光学膜的缺陷检查方...

【专利技术属性】
技术研发人员：井村圭太，富永俊彦，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：