【技术实现步骤摘要】
基于应答模式的光电扫描测量系统的坐标测量方法
[0001]本专利技术涉及空间大尺寸高精度三维测量领域，尤其涉及一种基于应答模式的大尺度空间光电扫描测量系统的测量方法。
技术介绍
[0002]在工业制造领域，高精度测量技术作为尖端制造业质量把控的核心检测环节，对工业制造发展的影响愈发重要。其中，高精密度的大空间尺度测量已经成为大型精密制造和装配的必需技术。以航空航天制造为主要代表，此类工业制造现场需要测量的尺寸大，而且多为分段加工进行装配。在对接和组装过程中，需要对各部分的空间坐标和位姿进行实时把控，为总装产品的质量提供保障。大尺寸空间精密测量已成为服务于航天航空等大型装备智能制造装配环节中的一项重要技术。大尺度空间光电扫描测量系统是基于光电扫描的新型三维坐标测量系统，借助多个发射站组网以构建大型测量场，结合数个光电接收器实现并行多任务测量。测量系统具有高静态精度，相比传统单站式串行单任务测量方式大大提升了测量效率。
[0003]随着现代工业的发展，工业产品的尺度越来越大，相应的，需要测量仪器的测量范围也需扩大。面对尺...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于应答模式的大尺度空间光电扫描测量系统的测量方法，其特征在于，所述方法包括：1)应答式发射站在每个测量周期起始时，通过导线传输同步信号到处理器，记录传输时间为t
po
；2)应答式发射站向测量空间中发射扫描激光，由中继应答单元捕获扫描光，中继应答单元处理扫描光信号并向空间发射应答激光，由发射站记录应答激光的接收时间t
pi
；3)构建应答式发射站几何测量模型，由传输时间t
po
，接收时间t
pi
和发射站参数得到扫描光平面的旋转角度，进而解算得到空间中点的坐标。2.根据权利要求1所述的一种基于应答模式的大尺度空间光电扫描测量系统的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：找出相邻两周期内，相位变化最小的两对扫描光信号，作为该站在该周期下的两个扫描光信号，具体为：1)计算本周期...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨凌辉，郭安瑞，杨朔，邓睿，邾继贵，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：
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