一种开短路检测电路及其控制方法技术

本发明专利技术涉及电路技术领域，具体涉及一种开短路检测电路及其控制方法，电路包括：MCU、负载和检测电路；所述检测电路的输入端连接负载，所述检测电路的第一输出端连接MCU的短路检测引脚，所述检测电路的第二输出端连接MCU的开路检测引脚；所述MCU，用于当通过开路检测引脚检测到所述第一输出端输出的高电平时,确定所述负载为短路；当通过短路检测引脚检测到所述第二输出端输出的高电平时,确定所述负载为开路；本发明专利技术通过MCU对负载进行电平检测，从而快速确定负载的开路、断路异常状态，提升负载的开路、断路检测效率。断路检测效率。断路检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种开短路检测电路及其控制方法


[0001]本专利技术涉及电路
，具体涉及一种开短路检测电路及其控制方法。

技术介绍

[0002]在外接负载时，有可能因为某些安装失误、运输震动造成电源出现短路、开路风险。相关技术中，依靠人工测量电源的开短路故障，效率太低。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术提供一种开短路检测电路及其控制方法，能够通过MCU对负载进行电平检测，从而快速确定负载的开路、断路异常状态，提升负载的开路、断路检测效率。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：
[0005]一种开短路检测电路，包括：MCU、负载和检测电路；
[0006]所述检测电路的输入端连接负载，所述检测电路的第一输出端连接MCU的短路检测引脚，所述检测电路的第二输出端连接MCU的开路检测引脚；
[0007]所述MCU，用于当通过开路检测引脚检测到所述第一输出端输出的高电平时,确定所述负载为短路；当通过短路检测引脚检测到所述第二输出端输出的高电平时,确定所述负载为开路。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开短路检测电路，其特征在于，包括：MCU(100)、负载(200)和检测电路(300)；所述检测电路(300)的输入端连接负载(200)，所述检测电路(300)的第一输出端(301)连接MCU(100)的短路检测引脚(SHORT_DET)，所述检测电路(300)的第二输出端(302)连接MCU(100)的开路检测引脚(OPEN_DET)；所述MCU(100)，用于当通过开路检测引脚(OPEN_DET)检测到所述第一输出端(301)输出的高电平时,确定所述负载(200)为短路；当通过短路检测引脚(SHORT_DET)检测到所述第二输出端(302)输出的高电平时,确定所述负载(200)为开路。2.根据权利要求1所述的一种开短路检测电路，其特征在于，所述检测电路(300)包括：MOS管(M1)、第一分压电路(310)、第二分压电路(320)、开路输出电路(340)和短路输出电路(330)；所述MOS管(M1)的源极、所述第一分压电路(310)的输入端共同连接第一供电端(VCC)，所述第一分压电路(310)的输出端连接所述短路输出电路(330)的一端，所述短路输出电路(330)的另一端分别连接所述MOS管(M1)的栅极、所述第一输出端(301)；所述第一分压电路(310)的接地端、所述第二分压电路(320)的输入端共同连接第二供电端(VDD_DEV)，所述第二分压电路(320)的输出端连接所述MOS管(M1)的漏极，所述第二分压电路(320)的接地端连接所述开路输出电路(340)的一端，所述开路输出电路(340)的另一端连接所述第二输出端(302)。3.根据权利要求2所述的一种开短路检测电路，其特征在于，所述第一分压电路(310)包括：第一电阻(R1)和第二电阻(R2)，所述第一电阻(R1)的一端连接所述第一供电端(VCC)，所述第一电阻(R1)的另一端分别连接所述第二电阻(R2)的一端、所述短路输出电路(330)的一端，所述第二电阻(R2)的另一端连接所述第二供电端(VDD_DEV)。4.根据权利要求3所述的一种开短路检测电路，其特征在于，所述短路输出电路(330)包括：第一三极管(Q1)、第三电阻(R3)和第一二极管(D1)，所述第一三极管(Q1)的基极连接所述第一电阻(R1)的另一端，所述第一三极管(Q1)的发射极接地，所述第一三极管(Q1)的集电极分别连接所述MOS管(M1)的栅极、所述第一二极管(D1)的阴极，所述第一二极管(D1)的阳极分别连接所述第三电阻(R3)的一端和所述第一输出端(301)；所述第三电阻(R3)的另一端连接第三供电端(VDD_I...

【专利技术属性】
技术研发人员：区学津，
申请(专利权)人：广东天波信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：