一种提高热电阻测量精度的电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种提高热电阻测量精度的电路，包括热电阻、信号调理电路、ADC采样电路、MCU处理器电路、热电阻激励电路参数选择电路、热电阻激励电路，热电阻的第一端与所述信号调理电路的一端连接，信号调理电路的另一端与ADC采样电路的一端连接，ADC采样电路的另一端与所述MCU处理器电路的第一端连接。本实用新型专利技术通过在热电阻激励电路中增加热电阻激励电路的选择参数，根据热电阻类型来选择合适的激励电路电流，当热电阻类型为较小电阻时，采用提高激励电流的方式来输出给调理电路的电压，从而保证热电阻测量电路在采集不同类型热电阻时的测量精度。热电阻时的测量精度。热电阻时的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种提高热电阻测量精度的电路


[0001]本技术涉及工业控制
，具体来说，涉及一种提高热电阻测量精度的电路。

技术介绍

[0002]热电阻是温度测量仪表中的常用测量组件，为保证温度测量的精度，需要确保热电阻采样模块达到设计要求的精度。
[0003]目前热电阻温度测量大量应用于工业领域，在DCS(Distributed Control System，分布式控制系统)、PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制)控制系统中一般都采用模拟量采样模块来采样热电阻信号，主流的方式是通过使用恒流源激励热电阻温度传感器，通过测量温度传感器上的电压来计算热电阻的电阻值，然后通过电阻值查询实际测得的温度。
[0004]而常见的热线组包括Cu10、Cu50、Cu100、PT10、PT100、PT1000等，需要测量的电阻值范围从1欧姆～4000欧姆，最小的量程Cu10的范围为1～20欧姆，最大的量程PT1000的范围为185欧姆～4000欧姆，如果要兼顾最大最小量程，需要依靠高精度、高放大倍数的ADC来本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高热电阻测量精度的电路，其特征在于，包括：热电阻(1)、信号调理电路(2)、ADC采样电路(3)、MCU处理器电路(4)、热电阻激励电路参数选择电路(5)、热电阻激励电路(6)；所述热电阻(1)的第一端与所述信号调理电路(2)的一端连接，所述信号调理电路(2)的另一端与所述ADC采样电路(3)的一端连接，所述ADC采样电路(3)的另一端与所述MCU处理器电路(4)的第一端连接，所述MCU处理器电路(4)的第二端与所述热电阻激励电路参数选择电路(5)的一端连接，所述热电阻激励电路参数选择电路(5)的另一端与所述热电阻激励电路(6)一端连接，所述热电阻激励电路(6)的另一端与所述热电阻(1)的第二端连接。2.根据权利要求1所述的一种提高热电阻测量精度的电路，其特征在于，所述信号调理电路(2)包括：共模电感L2、磁珠、电阻器、电容、接地线；所述共模电感L2的第一端与传感器端子SENSOR1的正极连接，所述共模电感L2的第二端与磁珠FB4一端连接，所述共模电感L2的第三端与磁珠FB3一端连接，所述共模电感L2的第四端与传感器端子SENSOR1的负极连接；所述磁珠FB4的另一端与电阻器R6一端连接，且所述磁珠FB3的另一端与电阻器R5连接；所述电阻器R6的另一端与电容C15、端子AIN1正极、电容C14连接及所述电阻器R5的另一端与电容C14、端子AIN1负极及电容C13连接；所述电容C13与所述电容C15的另一端均与所述接地线连接。3.根据权利要求2所述的一种提高热电阻测量精度的电路，其特征在于，所述ADC采样电路(3)包括：ADC芯片、电容器、电阻器；所述ADC芯片的第一端与电阻器R252连接，所述ADC芯片的第三端与电阻器R252另一端及接地线连接，所述ADC芯片的第四端与端子AIN1正极连接，所述ADC芯片的第五端与端子AIN1负极连接；所述ADC芯片的第六端与电容C154、电容C155及接地线连接，所述ADC芯片的第七端与电容C154、电容C155及接地线连接，所述ADC芯片的第八端与正五伏电源、所述电容C154另一端及所述电容C155另一端连接，所述ADC芯片的第九端与电阻器R250一端连接，所述ADC芯片的第十端与电阻器R248一端连接；所述电阻器R248的另一端端子L2C_CLK连接，所述电阻器R250的另一端与端子L2C_DAT连接。4.根据权利要求3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：丛俊杰，罗杨，
申请(专利权)人：北京普瑞思创智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：