一种集成多接口的测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成多接口的测试电路，包括扩展模块、以太网接口模块、GPI B接口模块和RS232接口模块，所述以太网接口模块、GPI B接口模块和RS232接口模块分别与所述扩展模块连接；通过设置扩展模块，能够将以太网接口模块、GPI B接口模块和RS232接口模块集成于测试电路上，从而实现一个测试电路集成多种接口，使得测试设备能够测试多种电子设备，进而提高使用体验。而提高使用体验。而提高使用体验。

【技术实现步骤摘要】
一种集成多接口的测试电路


[0001]本技术涉及设备测试
，尤其涉及一种集成多接口的测试电路。

技术介绍

[0002]随着人们的生活水平不断提升，人们对电子设备的质量要求也越来越高。为了满足人们对电子设备的质量要求，就要加强电子设备的测试，通过严格测试，来实现电子设备质量的不断提高。有的设备测试过程只重视设备产量而忽略了设备质量，导致生产过程中出现了许多的不良品，这样不仅影响生产成本，而且还影响了企业的形象。
[0003]现有技术中，通常由测试人员使用测试设备对待测试电子设备进行测试，从而实现电子设备的质量检测，然而，现有的测试设备中的测试电路一般都是只集成一种接口，使得一种测试设备只能测试一种相对应的电子设备，导致使用体验比较差。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术提出一种集成多接口的测试电路，可以解决现有测试电路所存在的只集成一种接口所导致的使用体验比较差的缺陷。
[0005]本技术的技术方案是这样实现的：
[0006]一种集成多接口的测试电路，包括扩展模块、以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别与所述扩展模块连接。
[0007]作为所述集成多接口的测试电路的进一步可选方案，所述扩展模块包括GL3520芯片、USB输入电路和USB输出电路，所述USB输出电路与所述GL3520芯片连接，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别通过所述USB输入电路与所述GL3520芯片连接。
[0008]作为所述集成多接口的测试电路的进一步可选方案，所述以太网接口模块包括RTL8152芯片及其外围电路。
[0009]作为所述集成多接口的测试电路的进一步可选方案，所述GPIB接口模块包括NAT7210芯片及其外围电路。
[0010]作为所述集成多接口的测试电路的进一步可选方案，所述RS232接口模块包括CH342F芯片和Max3245芯片，所述CH342F芯片分别与所述USB输入电路和Max3245芯片连接。
[0011]本技术的有益效果是：通过设置扩展模块，能够将以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块集成于测试电路上，从而实现一个测试电路集成多种接口，使得测试设备能够测试多种电子设备，进而提高使用体验。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅
是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本技术一种集成多接口的测试电路中GL3520芯片的电路示意图；
[0014]图2为本技术一种集成多接口的测试电路中USB输入电路的电路示意图；
[0015]图3为本技术一种集成多接口的测试电路中USB输出电路的电路示意图；
[0016]图4为本技术一种集成多接口的测试电路中以太网接口模块的电路示意图；
[0017]图5为本技术一种集成多接口的测试电路中GPIB接口模块的电路示意图；
[0018]图6为本技术一种集成多接口的测试电路中CH342F芯片的电路示意图；
[0019]图7为本技术一种集成多接口的测试电路中Max3245芯片的电路示意图。
具体实施方式
[0020]下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]参考图1
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7，一种集成多接口的测试电路，包括扩展模块、以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别与所述扩展模块连接。
[0022]具体的，通过以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别实现不同接口的电子设备测试，并将测试结果发送至扩展模块中，扩展模块输出至上位机中，从而实现测试的效果。
[0023]在本实施例中，通过设置扩展模块，能够将以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块集成于测试电路上，从而实现一个测试电路集成多种接口，使得测试设备能够测试多种电子设备，进而提高使用体验。
[0024]优选的，所述扩展模块包括GL3520芯片、USB输入电路和USB输出电路，所述USB输出电路与所述GL3520芯片连接，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别通过所述USB输入电路与所述GL3520芯片连接。
[0025]在本实施例中，所述USB输入电路为三路，一路与以太网接口模块，另一路与GPIB接口模块，还有一路与RS232接口模块连接。
[0026]优选的，所述以太网接口模块包括RTL8152芯片及其外围电路。
[0027]优选的，所述GPIB接口模块包括NAT7210芯片及其外围电路。
[0028]优选的，所述RS232接口模块包括CH342F芯片和Max3245芯片，所述CH342F芯片分别与所述USB输入电路和Max3245芯片连接。
[0029]以上所述仅为本技术的较佳实施方式而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成多接口的测试电路，其特征在于，包括扩展模块、以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别与所述扩展模块连接；其中，所述扩展模块包括GL3520芯片、USB输入电路和USB输出电路，所述USB输出电路与所述GL3520芯片连接，所述以太网接口模块、GPIB接口模块和RS232接口模块分别通过所述USB输入电路与所述GL3520芯片连接。2.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭新宇，
申请(专利权)人：广州市天奕信息技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：