【技术实现步骤摘要】
一种红外测温方法、装置及电子设备、存储介质
[0001]本申请涉及红外测温
,尤其涉及一种红外测温方法、装置及电子设备、存储介质。
技术介绍
[0002]温度高于绝对零度的物体,都会产生红外热辐射,温度越高,热辐射能量就越大。基于此,通常采用红外测温设备测量待测目标的热辐射能量的大小,进而获取待测目标的温度。
[0003]相关技术中,在使用红外测温设备进行温度检测时,考虑到待测目标的属性参数(例如发射率或发射率坡度等)会影响到温度检测的结果,因此,需要在测温时根据经验合理预设待测目标的目标属性参数,并结合预设的目标属性参数进行测温,以提高红外测温的准确度。但是这种方式过于依赖经验,因此测温的准确度较低。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种红外测温方法、装置及电子设备、存储介质,可以提高红外测温的准确度。
[0005]第一方面,本申请实施例提供一种红外测温方法,该方法包括:基于预设的目标属性参数、对待测目标进行红外检测得到的输出响应,以及第一预设关系,确定待测目标的初始温度值; ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种红外测温方法,其特征在于,所述方法包括:基于预设的目标属性参数、对待测目标进行红外检测得到的输出响应,以及第一预设关系,确定所述待测目标的初始温度值;其中,所述第一预设关系用于表征输出响应、目标属性参数与待测目标的温度值之间的关系;基于所述初始温度值对应的目标属性参数、所述输出响应,以及所述第一预设关系,得到重新确定的第一温度值;基于重新确定的温度值对应的目标属性参数、所述输出响应,以及所述第一预设关系,得到重新确定的第二温度值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标属性参数用于表征所述待测目标的属性特征;所述目标属性参数包括:所述待测目标的发射率,和/或所述待测目标的发射率坡度。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述初始温度值对应的目标属性参数,和/或,所述重新确定的温度值对应的目标属性参数,是基于第二预设关系确定的;其中,所述第二预设关系用于表征待测目标的温度值与目标属性参数的对应关系。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在所述第二温度值与所述重新确定的温度值的差值在预设范围内时,将所述第二温度值确定为目标温度值。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述重新确定的温度值包括所述第一温度值;所述重新确定的温度值对应的目标属性参数包括第一温度值对应的目标属性参数。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述重新确定的温度值包括上一次重新确定的第二温度值;所述重新确定的温度值对应的目标属性参数包括上一次重新确定的第二温度值对应的目标属性参数。7.一种红外测温装置,其特征在于,包括:第一温度确定模块,用于基于预设的目标属性参数、对待测目标进行红外检测得到的输出响应,以及第一预设关系,确定所述待测目标的初始温度值;其中,所述第一预设关系用于表征输...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴辉阳,陈松林,唐杰,
申请(专利权)人:杭州微影软件有限公司,
类型:发明
国别省市:
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