本实用新型专利技术提供有一种高精密探针用磨平装置，包括工作台，工作台的顶部固定连接有支撑架，支撑架的内腔活动设有能够上下运动的电机固定架，电机固定架上固定连接有驱动电机，驱动电机的输出轴贯穿电机固定架并连接有打磨轮，电机固定架的顶部设有高度调整构件，每个螺纹孔内均螺纹连接有与其相配合作业的夹紧螺钉，夹紧螺钉远离L型支架的一端上连接有底座，L型支架上设有用于对待磨平处理的探针进行定位的探针限位件。本实用新型专利技术提供了一种一次可同时对多根探针的端部进行磨平处理的磨平装置，相较于传统的一根一根的磨平处理方式无疑大大缩短了探针的磨平加工时间，提高了对探针的磨平效率，方便人们对数量较多的探针进行磨平加工处理。进行磨平加工处理。进行磨平加工处理。
【技术实现步骤摘要】
一种高精密探针用磨平装置
[0001]本技术涉及探针加工装置
，具体公开一种高精密探针用磨平装置。
技术介绍
[0002]探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。探针用于与印刷电路板(PCB)、组件和布线场的各种测试点进行接触。当在特殊的测试模块中使用时，探针可用于测试连接电缆系统。测试探头也可用于控制工程单元或作为充电接触。
[0003]当前人们通过磨平机在对探针的端部进行抹平处理时，一次只能对一根探针的端部进行磨平作业，工作效率低下，难以满足同时对数量较多的探针进行磨平加工处理的实际需求。
技术实现思路
[0004]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，本申请旨在提供一种高精密探针用磨平装置，包括工作台，工作台的顶部固定连接有支撑架，支撑架的内腔活动设有能够上下运动的电机固定架，电机固定架上固定连接有驱动电机，驱动电机的输出轴贯穿电机固定架并连接有打磨轮，电机固定架的顶部设有高度调整构件，工作台的顶部还固定连接有直线电机，直线电机的滑块上连接有安装底座，安装底座的后侧固定连接有L型支架，安装底座的侧壁与L型支架位置对应处对称贯穿开设有两个呈水平设置的螺纹孔，每个螺纹孔内均螺纹连接有与其相配合作业的夹紧螺钉，夹紧螺钉远离L型支架的一端上连接有底座，L型支架上设有用于对待磨平处理的探针进行定位的探针限位件。
[0005]优选的，高度调整构件包括转动连接于电机固定架顶部的调节螺纹杆，调节螺纹杆的顶端连接有水平旋棒，高度调整构件还包括一个固定连接于电机固定架顶部且呈竖直设置的导向滑杆。
[0006]优选的，支撑架内腔顶壁与调节螺纹杆位置对应处竖直开设有一个与其相互配合工作的螺纹竖孔，且调节螺纹杆的顶端穿过该螺纹竖孔并与水平旋棒相连接。
[0007]优选的，导向滑杆的顶端贯穿支撑架的顶部。
[0008]优选的，探针限位件包括与L型支架内腔尺寸相适配且活动插设于L型支架内部的条形座，条形座的顶部连接有底台，底台的顶部贴合有上夹板，底台的顶面均匀设有多个半搁置槽，上夹板的底面与每个半搁置槽位置对应处也开设有半搁置槽，上夹板上对称贯穿插设有两个固定螺钉，底台的顶面与两个固定螺钉位置对应处均竖直开设有与其相配合作业的纵置螺孔，且每个固定螺钉的底端分别螺纹连接至各自所对应的纵置螺孔内。
[0009]优选的，半搁置槽的长度尺寸小于底台的宽度尺寸，底台上的半搁置槽贯穿底台的前端面，上夹板上的半搁置槽贯穿上夹板的前端面。
[0010]有益效果：
[0011]1、本技术提供了一种一次可同时对多根探针的端部进行磨平处理的磨平装置，相较于传统的一根一根的磨平处理方式无疑大大缩短了探针的磨平加工时间，提高了
对探针的磨平效率，方便人们对数量较多的探针进行磨平加工处理。
[0012]2、将多根待磨平加工处理的探针分别放置在底台顶部的半搁置槽内部，再将上夹板盖在底台的顶部，使得探针的顶部落入至上夹板底部上的半搁置槽内，并且探针待磨平的端部由对应的半搁置槽内延伸出，随后操作人员通过旋进固定螺钉，使得上夹板对放置于底台顶部的半搁置槽内的探针进行下压夹紧处理，从而避免探针在磨平加工处理的过程中发生晃动，保障探针磨平加工处理的效果。
附图说明
[0013]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0014]图1为本技术整体结构示意图；
[0015]图2为本技术中安装底座的侧视结构示意图；
[0016]图3为本技术图1中A处的局部放大示意图。
[0017]图中：
[0018]1、工作台；2、支撑架；3、调节螺纹杆；4、电机固定架；5、驱动电机；6、打磨轮；7、导向滑杆；8、直线电机；9、安装底座；10、夹紧螺钉；11、底台；12、上夹板；13、固定螺钉；14、L型支架；15、条形座。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关专利技术，而非对该专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与专利技术相关的部分。
[0020]本技术实施例中的附图：图中不同种类的剖面线不是按照国标进行标注的，也不对元件的材料进行要求，是对图中元件的剖视图进行区分。
[0021]请参阅图1所示，一种高精密探针用磨平装置，包括工作台1，工作台1的顶部固定连接有支撑架2，支撑架2的内腔活动设有能够上下运动的电机固定架4，电机固定架4上固定连接有驱动电机5，驱动电机5的输出轴贯穿电机固定架4并连接有打磨轮6，电机固定架4的顶部设有高度调整构件，工作台1的顶部还固定连接有直线电机8，直线电机8的滑块上连接有安装底座9，安装底座9的后侧固定连接有L型支架14，安装底座9的侧壁与L型支架14位置对应处对称贯穿开设有两个呈水平设置的螺纹孔，每个螺纹孔内均螺纹连接有与其相配合作业的夹紧螺钉10，夹紧螺钉10远离L型支架14的一端上连接有底座，L型支架14上设有用于对待磨平处理的探针进行定位的探针限位件。
[0022]请参阅图1所示，其中，高度调整构件包括转动连接于电机固定架4顶部的调节螺纹杆3，调节螺纹杆3的顶端连接有水平旋棒，高度调整构件还包括一个固定连接于电机固定架4顶部且呈竖直设置的导向滑杆7。其中，支撑架2内腔顶壁与调节螺纹杆3位置对应处竖直开设有一个与其相互配合工作的螺纹竖孔，且调节螺纹杆3的顶端穿过该螺纹竖孔并与水平旋棒相连接。其中，导向滑杆7的顶端贯穿支撑架2的顶部。启动直线电机8后，通过直线电机8上的滑块带动探针移动至打磨轮6处，随后，操作人员通过水平旋棒打的调节螺纹杆3旋转，在支撑架2上的螺纹竖孔的配合作用下，调节螺纹杆3带动打磨轮6进行高度调整，
最后启动驱动电机5，使得驱动电机5带动打磨轮6高速旋转并对并排布置的多根探针的端部进行磨平处理。
[0023]请参阅图1至图3所示，其中，探针限位件包括与L型支架14内腔尺寸相适配且活动插设于L型支架14内部的条形座15，条形座15的顶部连接有底台11，底台11的顶部贴合有上夹板12，底台11的顶面均匀设有多个半搁置槽，上夹板12的底面与每个半搁置槽位置对应处也开设有半搁置槽，上夹板12上对称贯穿插设有两个固定螺钉13，底台11的顶面与两个固定螺钉13位置对应处均竖直开设有与其相配合作业的纵置螺孔，且每个固定螺钉13的底端分别螺纹连接至各自所对应的纵置螺孔内。其中，半搁置槽的长度尺寸小于底台11的宽度尺寸，底台11上的半搁置槽贯穿底台11的前端面，上夹板12上的半搁置槽贯穿上夹板12的前端面。将多根待磨平加工处理的探针分别放置在底台11顶部的半搁置槽内部，再将上夹板12盖在底台11的顶部，使得探针的顶部落入至上夹板12底部上的半搁置槽内，并且探针待磨平的端部由对应的半搁置槽内延伸出，随后操作人员通过旋进固定螺钉13，使得上夹板12对放置于底台11顶部的半搁置槽内的探针进行本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高精密探针用磨平装置，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的顶部固定连接有支撑架（2），所述支撑架（2）的内腔活动设有能够上下运动的电机固定架（4），所述电机固定架（4）上固定连接有驱动电机（5），所述驱动电机（5）的输出轴贯穿所述电机固定架（4）并连接有打磨轮（6），所述电机固定架（4）的顶部设有高度调整构件，所述工作台（1）的顶部还固定连接有直线电机（8），所述直线电机（8）的滑块上连接有安装底座（9），所述安装底座（9）的后侧固定连接有L型支架（14），所述安装底座（9）的侧壁与L型支架（14）位置对应处对称贯穿开设有两个呈水平设置的螺纹孔，每个螺纹孔内均螺纹连接有与其相配合作业的夹紧螺钉（10），所述夹紧螺钉（10）远离L型支架（14）的一端上连接有底座，所述L型支架（14）上设有用于对待磨平处理的探针进行定位的探针限位件。2.根据权利要求1所述的一种高精密探针用磨平装置，其特征在于：所述高度调整构件包括转动连接于电机固定架（4）顶部的调节螺纹杆（3），所述调节螺纹杆（3）的顶端连接有水平旋棒，所述高度调整构件还包括一个固定连接于电机固定架（4）顶部且呈竖直设置的导向滑杆（7）。3.根据权利要求2所述的一种高精密探针用磨平装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：田敏，
申请(专利权)人：湖南佳禾芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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