本发明专利技术提供了一种食品检测用研磨装置,包括壳体、转动设在壳体内的支撑柱、设置在支撑柱上的研磨机构和设置在壳体顶部的上盖;壳体的内部设有位于上方的研磨腔和位于下方的设备腔,支撑柱转动设置在研磨腔的底部,设备腔内设有用于驱动支撑柱转动的第一电机;研磨机构包括连接杆、调节杆、研磨头和调节组件;连接杆固定在支撑柱的侧壁上,调节杆插设在连接杆的内部,且调节杆的一端伸出连接杆之外并连接研磨头,支撑柱的内部设有用于带动调节杆在连接杆内部伸缩的调节组件。该装置能够根据样品的颗粒大小逐步将样品碾碎,从而避免研磨头在转动时受到的阻力大导致内壁电器发热损坏,同时还避免了温度升高对检测结果的影响。时还避免了温度升高对检测结果的影响。时还避免了温度升高对检测结果的影响。
【技术实现步骤摘要】
一种食品检测用研磨装置
[0001]本专利技术涉及食品检测设备领域,尤其是涉及一种食品检测用研磨装置。
技术介绍
[0002]食品检测的一个关键步骤是样品的制备,我们需要将块状或颗粒状的食品按照相应检验方法的要求,首先制备成均匀的粉末状后,再进行样品前处理、样品检测等环节。因此食品样品的研磨过程就非常重要,直接影响着后续检验环节中样品的均匀性和代表性及检测结果的准确性。
[0003]目前,市场上一些研磨机在对体积大的颗粒如黄豆进行研磨时,研磨辊转动时研磨辊与黄豆直接撞击来使黄豆等大颗粒物体破碎,导致研磨辊的转动阻力大,研磨机温度升高快,长时间工作影响研磨机的使用寿命,甚至导致研磨机电器发热烧坏。而且,研磨机温度升高以后,会传热给被研磨的食品样品,样品温度升高可能会破坏自身中的营养成分或者其他物质,导致后续理化指标(比如水分、蛋白质等)、卫生指标(比如农药残留、兽药残留、霉菌毒素等)、食品添加剂等指标的检测结果受到影响,影响检测结果的准确性。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本专利技术旨在提出一种食品检测用研磨装置,以解决上述问题。
[0005]为达到上述目的,本专利技术的技术方案是这样实现的:
[0006]一种食品检测用研磨装置,包括壳体、转动设在壳体内的支撑柱、设置在支撑柱上的研磨机构和设置在壳体顶部的上盖;壳体的内部设有位于上方的研磨腔和位于下方的设备腔,支撑柱转动设置在研磨腔的底部,设备腔内设有用于驱动支撑柱转动的第一电机;研磨机构包括连接杆、调节杆、研磨头和调节组件;连接杆固定在支撑柱的侧壁上,调节杆插设在连接杆的内部,且调节杆的一端伸出连接杆之外并连接研磨头,支撑柱的内部设有用于带动调节杆在连接杆内部伸缩的调节组件。
[0007]进一步,所述连接杆为2个,且对称设置在支撑柱上,2个连接杆内部均插设有调节杆;调节组件包括传动丝杆、传动齿轮、主动齿轮和第二电机,传动齿轮转动设置在支撑柱的内部,传动丝杆固定插设在传动齿轮的中部,且传动丝杆的两端分别插设在2个调节杆的内部,传动丝杆与调节杆螺接;主动齿轮转动设置在支撑柱的内部,且主动齿轮与传动齿轮相互啮合,主动齿轮由第二电机驱动转动。
[0008]进一步,调节杆的侧壁上设有限位块,连接杆的内侧壁上设有沿其长度方向延伸的限位槽,限位块滑动设置在限位槽内。
[0009]进一步,支撑柱的底部设有第一转动环,研磨腔的底部设有插设第一转动环并供第一转动环转动的第一转动槽。
[0010]进一步,第一电机的输出轴转动设置在研磨腔的底部,研磨腔的底部还设有2个间隔设置的导电环,导电环与输出轴同轴心,导电环通过导线与电源连接;支撑柱的底部设有分别对应2个导电环的导电块,导电块与导电环接触实现导电,2个导电块分别通过导线与
调节组件电连接。
[0011]进一步,导电环的顶部设有用于插设导电块的环形插槽。
[0012]进一步,调节杆的端部还设有容纳槽,容纳槽内设有第三电机,研磨头与第三电机连接,第三电机通过导线与导电块连接。
[0013]进一步,调节杆的端部设有第二转动槽,研磨头上设有第二转动环,第二转动环转动设置在第二转动槽内。
[0014]进一步,支撑柱与第一电机为可拆卸连接,支撑柱底部的中部固定设有转轴,转轴插设在第一电机的输出轴内,输出轴内设有用于固定转轴的固定组件。
[0015]进一步,固定组件包括弹簧、压板和卡块;卡块为2个,且分别对称设置在转轴的侧壁上;输出轴的内侧壁上设有供卡块插入的竖直导向槽、与竖直导向槽连通的水平导向槽以及与水平导向槽连通的卡槽,卡槽平行于竖直导向槽;输出轴内还设有压板,压板通过弹簧与输出轴内部连接。
[0016]相对于现有技术,本专利技术所述的食品检测用研磨装置具有以下优势:
[0017]本专利技术所述的食品检测用研磨装置的支撑柱上设有连接杆,连接杆内插设有调节杆,研磨头设置在调节杆上,调节杆通过控制其在连接杆内伸缩,从而可以调节研磨头与壳体内侧壁之间的距离。使用之前,调节杆缩在连接杆内,将待检测物品倒入研磨机壳体内部,并使待检测物品分至研磨装置壳体边缘,通过第一电机带动支撑柱转动,支撑柱带动研磨头在研磨机壳体内壁转动,同时调节组件控制研磨头逐步靠近研磨机壳体内壁,使得研磨头刚转动时,研磨头与检测物的间距大,从而使得研磨头转动时的阻力小,随着研磨不断进行,调节组件不断缩小研磨头与壳体内壁的间距,研磨头将此间距下的检测物进行逐步挤压,检测物在研磨头和壳体内壁的配合下逐渐被碾碎,从而避免研磨头在转动时受到的阻力大导致内壁电器发热损坏。而且,调节杆能够在连接杆内往复进出,实现对检测物的往复研磨,提高了研磨的效果。
附图说明
[0018]构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:
[0019]图1为本专利技术实施例所述的食品检测用研磨装置的结构示意图;
[0020]图2为本专利技术实施例所述的食品检测用研磨装置的主视剖视示意图;
[0021]图3为本专利技术实施例所述的支撑柱的俯视剖视示意图;
[0022]图4为本专利技术实施例所述的支撑柱的侧视剖视示意图;
[0023]图5为本专利技术实施例所述的调节杆的侧视剖视示意图;
[0024]图6为本专利技术实施例所述的转动件的主视剖视示意图;
[0025]图7本专利技术实施例所述的转动套的侧视剖视示意图。
[0026]附图标记说明:
[0027]1‑
壳体;2
‑
支撑柱;21
‑
第一转动环;22
‑
第一转动槽;3
‑
研磨机构;31
‑
连接杆;311
‑
限位槽;32
‑
调节杆;321
‑
限位块;322
‑
容纳槽;323
‑
第二转动槽;33
‑
研磨头;331
‑
第二转动环;34
‑
第一电机;35
‑
传动丝杆;36
‑
传动齿轮;37
‑
主动齿轮;38
‑
第二电机;39
‑
第三电机;4
‑
转动件;41
‑
转轴;42
‑
输出轴;43
‑
弹簧;44
‑
压板;45
‑
卡块;46
‑
竖直导向槽;47
‑
水平导向槽;
48
‑
卡槽;5
‑
上盖;6
‑
导电块;7
‑
导电环。
具体实施方式
[0028]需要说明的是,在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0029]在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种食品检测用研磨装置,其特征在于:包括壳体、转动设在壳体内的支撑柱、设置在支撑柱上的研磨机构和设置在壳体顶部的上盖;壳体的内部设有位于上方的研磨腔和位于下方的设备腔,支撑柱转动设置在研磨腔的底部,设备腔内设有用于驱动支撑柱转动的第一电机;研磨机构包括连接杆、调节杆、研磨头和调节组件;连接杆固定在支撑柱的侧壁上,调节杆插设在连接杆的内部,且调节杆的一端伸出连接杆之外并连接研磨头,支撑柱的内部设有用于带动调节杆在连接杆内部伸缩的调节组件。2.根据权利要求1所述的食品检测用研磨装置,其特征在于:所述连接杆为2个,且对称设置在支撑柱上,2个连接杆内部均插设有调节杆;调节组件包括传动丝杆、传动齿轮、主动齿轮和第二电机,传动齿轮转动设置在支撑柱的内部,传动丝杆固定插设在传动齿轮的中部,且传动丝杆的两端分别插设在2个调节杆的内部,传动丝杆与调节杆螺接;主动齿轮转动设置在支撑柱的内部,且主动齿轮与传动齿轮相互啮合,主动齿轮由第二电机驱动转动。3.根据权利要求2所述的食品检测用研磨装置,其特征在于:调节杆的侧壁上设有限位块,连接杆的内侧壁上设有沿其长度方向延伸的限位槽,限位块滑动设置在限位槽内。4.根据权利要求1所述的食品检测用研磨装置,其特征在于:支撑柱的底部设有第一转动环,研磨腔的底部设有插设第一转动环并供第一转动环转动的第一转动槽。5.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵甲慧,李莹,谭亚军,徐慧静,
申请(专利权)人:天津市食品安全检测技术研究院,
类型:发明
国别省市:
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