本发明专利技术公开了一种量子比特的退相干模型的确定方法及计算机可读存储介质。其中,该方法涉及量子技术领域,包括:获取对量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据;确定多种类型参数组合,其中,类型参数组合是模型类型以及模型参数的组合;基于退相干测量数据,确定多种类型参数组合对应的候选退相干模型;从多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型。本发明专利技术解决了相关技术中采用退相干模型对量子比特的退相干时间进行预测时,存在预测不准确的技术问题。存在预测不准确的技术问题。存在预测不准确的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
量子比特的退相干模型的确定方法及计算机可读存储介质
[0001]本专利技术涉及量子
,具体而言,涉及一种量子比特的退相干模型的确定方法及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]在对量子比特的测量中,量子比特的退相干时间是量子比特的关键参数。在相关技术中,为获取量子比特的退相干时间,一般所采用的方法是采用退相干模型进行预测。但采用退相干模型进行预测的前提是,获取较为准确的退相干模型。目前获取退相干模型均是基于理论推导,例如,通过经验推导出与退相干时间相关的一些物理量,基于该物理量构建一些数学模型,从而得到退相干模型。但经过纯理论推导得到的退相干模型在用于对量子比特的退相干时间预测时,还是存在预测不准确的问题。
[0003]因此,在相关技术中,存在采用退相干模型对量子比特的退相干时间进行预测时,存在预测不准确的技术问题。
[0004]针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]本专利技术实施例提供了一种量子比特的退相干模型的确定方法及计算机可读存储介质,以至少解决相关技术中采用退相干模型对量子比特的退相干时间进行预测时,存在预测不准确的技术问题。
[0006]根据本专利技术实施例的一个方面,提供了一种量子比特的退相干模型的确定方法,包括:获取对量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据;确定多种类型参数组合,其中,所述类型参数组合是模型类型以及模型参数的组合;基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型;从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型。
[0007]可选地,所述获取对量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据,包括:在所述退相干测量包括退极化测量和/或退相位测量的情况下,获取对所述量子比特执行所述退极化测量得到的退极化测量数据;和/或,获取对所述量子比特执行所述退相位测量得到的退相位测量数据,其中,所述退相干测量数据包括:所述退极化测量数据和/或退相位测量数据。
[0008]可选地,所述获取多种模型类型,以及多种模型参数,包括:在所述退相干测量包括退极化测量和退相位测量的情况下,确定所述多种模型类型包括与所述退极化测量对应的指数型和双指数型,以及与所述退相位测量对应的指数型和高斯型;确定所述多种模型参数包括所述量子比特的属性参数和环境参数。
[0009]可选地,所述确定多种类型参数组合,包括:获取多种模型类型,以及多种模型参数;将所述多种模型类型以及所述多种模型参数进行组合,得到所述多种类型参数组合。
[0010]可选地,所述获取多种模型类型,以及多种模型参数,包括:获取所述量子比特的
类型;基于所述量子比特的类型,获取所述多种模型类型和所述多种模型参数。
[0011]可选地,所述基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型,包括:针对所述多种类型参数组合中任一类型参数组合,获取所述任一类型参数组合的目标模型类型,以及目标模型参数;基于所述退相干测量数据,确定所述目标模型类型下所述目标模型参数的取值,得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型;采用得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型的方式,得到所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型。
[0012]可选地,所述基于所述退相干测量数据,确定所述目标模型类型下所述目标模型参数的取值,得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型,包括:基于所述退相干测量数据,确定在多个时间点对应的量子比特的量子态;基于所述多个时间点,以及所述多个时间点对应的量子比特的量子态,拟合出相干性曲线;基于所述相干性曲线,确定所述目标模型类型下所述目标模型参数的取值,得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型。
[0013]可选地,所述基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型,包括:对所述退相干测量数据进行校正,得到校正数据;基于所述校正数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型。
[0014]可选地,所述从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型,包括:获取对实验量子比特进行退相干测量实验的实验测量数据;分别采用所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型对所述实验量子比特的退相干数据进行预测,得到对应的预测数据;将所述实验测量数据分别与所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型的预测数据进行比较,得到比较差异结果;从所述比较差异结果中选择差异结果最小的候选退相干模型为所述目标退相干模型。
[0015]可选地,所述量子比特包括:Fluxonium量子比特。
[0016]可选地,在从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型之后,还包括:采用所述目标退相干模型对待测量子比特预测,得到所述待测量子比特的退相干时间。
[0017]根据本专利技术实施例的另一方面,还提供了一种量子比特的退相干模型的确定方法,包括:在显示界面显示数据输入控件,退相干模型显示控件以及退相干模型确定控件;响应于对所述数据输入控件的操作,接收对量子比特执行退相干测量后得到的退相干测量数据;响应于对所述退相干模型显示控件的操作,在所述显示界面显示多种候选退相干模型,其中,所述多种候选退相干模型与多种类型参数组合对应,并基于所述退相干测量数据确定,所述多种类型参数组合基于多种模型类型和多种模型参数确定;响应于对所述退相干模型确定控件的操作,在所述显示界面上显示从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出的目标退相干模型。
[0018]根据本专利技术实施例的又一方面,还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备上述任意一项所述的量子比特的退相干模型的确定方法。
[0019]根据本专利技术实施例的还一方面,还提供了一种计算机设备,包括:存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序;所述处理器,用于执行所述存储器中存储的计算机程
序,所述计算机程序运行时使得所述处理器执行上述任意一项所述的量子比特的退相干模型的确定方法。
[0020]在本专利技术实施例中,通过获取对量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据,基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型;以及从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型,从而实现了基于退相干测量数据反推退相干模型的模型参数(即多个候选退相干模型),以及从多个候选退相干模型中选择目标退相干模型的效果,由于确定多个候选退相干模型有真实准确的退相干测量数据参与,并非纯理论的多个模型参数,有效地提升了得到退相干模型的准确性,另外,目标退相干模型是从多个候选退相干模型中选择出来的,进一步地对退相干模型进行了优化,使得得到的目标退相干模型更为优化和准确,进而解决了相关技术中采用退相干模型对量子比特的退相干时间进行预测时,存在预测不准确的技术问题。
附图说明
[0021]此处本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种量子比特的退相干模型的确定方法,其特征在于,包括:获取量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据;确定多种类型参数组合,其中,所述类型参数组合是模型类型以及模型参数的组合;基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型;从所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型中确定出目标退相干模型。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取对量子比特执行退相干测量得到的退相干测量数据,包括:在所述退相干测量包括退极化测量和/或退相位测量的情况下,对所述量子比特执行所述退极化测量,得到退极化测量数据;和/或,对所述量子比特执行所述退相位测量,得到退相位测量数据,其中,所述退相干测量数据包括:所述退极化测量数据和/或退相位测量数据。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述获取多种模型类型,以及多种模型参数,包括:在所述退相干测量包括退极化测量和退相位测量的情况下,确定所述多种模型类型包括与所述退极化测量对应的指数型和双指数型,以及与所述退相位测量对应的指数型和高斯型;确定所述多种模型参数包括所述量子比特的属性参数和环境参数。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定多种类型参数组合,包括:获取多种模型类型,以及多种模型参数;将所述多种模型类型以及所述多种模型参数进行组合,得到所述多种类型参数组合。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取多种模型类型,以及多种模型参数,包括:获取所述量子比特的类型;基于所述量子比特的类型,获取所述多种模型类型和所述多种模型参数。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述退相干测量数据,确定所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型,包括:针对所述多种类型参数组合中任一类型参数组合,获取所述任一类型参数组合的目标模型类型,以及目标模型参数;基于所述退相干测量数据,确定所述目标模型类型下所述目标模型参数的取值,得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型;采用得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型的方式,得到所述多种类型参数组合对应的候选退相干模型。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述退相干测量数据,确定所述目标模型类型下所述目标模型参数的取值,得到所述任一类型参数组合对应的候选退相干模型,包括:基于所述退相干测量数据,确定在多个时间点对应的量子比特的量子态;基于所述多个时间点,以及所述多个时间点对应的量子比特的量子态,拟合出相干性曲线;基于所述相干性曲线,...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴沣,王腾辉,张耕砚,孙汉涛,夏天,陈建军,赵汇海,
申请(专利权)人:阿里巴巴达摩院杭州科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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