液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，涉及液晶显示面板检测技术领域，其中，该方法包括：获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个目标层包括液晶显示面板的上表面层和多个结构层；对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各目标层对应的缺陷区域；通过能量梯度衡量各目标层的缺陷区域的显著度，然后将确定的显著度中显著度最大的对应的目标层确定为缺陷所在的层。本申请提供的技术方案可以提高液晶显示面板缺陷检测的准确性。显示面板缺陷检测的准确性。显示面板缺陷检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及液晶显示面板缺陷检测
，尤其涉及一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]得益于半导体技术、液晶材料技术和主动发光技术的完美结合，液晶显示器已迅速成为当前显示市场的主流，而液晶显示面板的质量关系到液晶显示器整体性能的高低。
[0003]液晶显示面板在生产过程中，可能会存在一些缺陷，比如，面板内部结构层的结构缺陷，在面板贴合过程中由于灰尘等异物进入而产生的贴合异物缺陷，这些面板内部缺陷都会导致次品的产生。为了确保产品质量，需要对液晶显示面板进行缺陷检测。
[0004]除了液晶显示面板内部缺陷外，面板表面可能会附着灰尘、脏污等，这种附着物并不会影响面板的品质，但附着物的存在很容易被现有的检测方法判定为面板的内部缺陷，降低缺陷检测结果的准确性。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请实施例提供一种液晶显示面板缺陷检测方法、装置及电子设备，用于提高面板缺陷检测结果的准确度。
[0006]为了实现上述目的，第一方面，本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，多个所述目标层包括所述液晶显示面板的上表面层和多个结构层；对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域；根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取相机分别针对液晶显示面板的多个目标层拍摄的图像，包括：获取所述相机在第一成像位置针对所述液晶显示面板的上表面层拍摄的图像，在所述第一成像位置，所述相机的聚焦点位于所述上表面层，且拍摄的图像质量满足目标要求；根据各所述目标层中相邻层之间的物理距离，控制所述相机依次朝各所述结构层移动，获取所述相机在聚焦点移动至每个所述结构层时拍摄的图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一成像位置是根据预先确定的所述相机与液晶显示面板的上表面层的最佳成像距离确定的。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每个目标层对应的图像进行缺陷区域提取，得到各所述目标层对应的缺陷区域，包括：对于每个目标层对应的图像，对所述图像进行图像增强，得到增强图像；对增强图像进行缺陷区域提取，得到第一缺陷区域；滤除所述第一缺陷区域中的干扰区域，得到所述目标层对应的缺陷区域。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度，确定缺陷所在的目标层，包括：对于提取出缺陷区域的每个目标层，确定所述目标层对应的缺陷区域的能量梯度与所述目标层对应的图像的能量梯度的比值；其中，每个目标层对应的所述比值用于指示所述目标层对应的图像中缺陷区域的显著度；将确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑国荣，胡斌，胡一爽，
申请(专利权)人：深圳市鑫信腾科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：