一种芯片复位检测电路及用电设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种芯片复位检测电路及用电设备。其中，该电路包括：检测电容，其第一端连接芯片的电压源，其第二端接地；微控制单元MCU，其检测引脚连接所述检测电容的第一端，用于在芯片复位后，获取所述检测电容的第一端的电压，并根据所述检测电容的第一端的电压确定引起芯片复位的原因；其中，所述引起芯片复位的原因包括芯片的电压源掉电和软件错误。通过本实用新型专利技术，能够实现在芯片复位后，准确确定导致芯片复位的原因，进而提供针对性的解决措施，使用电设备尽快恢复正常运行。使用电设备尽快恢复正常运行。使用电设备尽快恢复正常运行。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片复位检测电路及用电设备


[0001]本技术涉及电子电路
，具体而言，涉及一种芯片复位检测电路及用电设备。

技术介绍

[0002]用电设备内的芯片会由于各种原因产生复位，例如由软件程序错误触发复位、由芯片内部模块异常触发复位、负载运行异常触发复位等，芯片复位会导致用电设备的各种负载(例如电子膨胀阀、步进电机、低功耗继电器)频繁开关，所有负载均有寿命次数，芯片频繁复位会导致负载寿命降低，并且负载开关会产生噪音，容易被用户投诉。
[0003]现有芯片复位主要为芯片的电压源掉电和软件错误导致，但是在发生芯片复位时无法识别具体是哪种原因导致的，进而无法提供针对性的解决措施。
[0004]针对现有技术中用电设备内的芯片复位时无法识别具体是哪种原因导致复位的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本技术实施例中提供一种芯片复位检测电路及用电设备，以解决现有技术中用电设备内的芯片复位时无法识别具体是哪种原因导致复位的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供了一种芯片复位检测电路，其中，该电路包括：
[0007]检测电容，其第一端连接芯片的电压源，其第二端接地；
[0008]微控制单元MCU，其检测引脚连接所述检测电容的第一端，用于在芯片复位后，获取所述检测电容的第一端的电压，并根据所述检测电容的第一端的电压确定引起芯片复位的原因；其中，所述引起芯片复位的原因包括芯片的电压源掉电和软件错误。
[0009]进一步地，所述电路还包括：
[0010]热敏电阻，设置在所述检测电容的第一端和所述芯片的电压源之间，用于降低所述检测电容的充电速度。
[0011]进一步地，所述电路还包括：
[0012]滤波电阻，其第一端连接所述检测电容的第一端，其第二端连接所述微控制单元MCU的检测引脚；
[0013]滤波电容，其第一端连接至所述滤波电阻的第二端与所述微控制单元MCU的检测引脚之间，其第二端接地。
[0014]进一步地，所述检测电容的容值小于所述芯片的电压源内部的储能电容的容值。
[0015]本技术还提供一种用电设备，其内部包括芯片，还包括上述芯片复位检测电路。
[0016]进一步地，所述用电设备包括以下至少其中之一：空调、热水机、冷风扇。
[0017]应用本技术的技术方案，在芯片的电压源处设置检测电容，通过检测电容的
第一端的电压，反映出芯片的电压源的电压变化情况，通过微控制单元根据检测电容的第一端的电压确定引起芯片复位的原因具体为芯片的电压源掉电还是软件错误，能够实现在芯片复位后，准确确定导致芯片复位的原因，进而提供针对性的解决措施，使用电设备尽快恢复正常运行。
附图说明
[0018]图1为根据本技术实施例的芯片复位检测电路的结构图；
[0019]图2为根据本技术实施例的充电过程中检测电容的第一端的电压的变化曲线图；
[0020]图3为根据本技术实施例的芯片的电压源反复掉电情况下检测电容的第一端的电压变化曲线图。
具体实施方式
[0021]为了使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]在本技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本技术。在本技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种。
[0023]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0024]应当理解，尽管在本技术实施例中可能采用术语第一、第二等来描述预设时长，但这些
……
不应限于这些术语。这些术语仅用来将
……
区分开。例如，在不脱离本技术实施例范围的情况下，第一
……
也可以被称为第二
……
，类似地，第二
……
也可以被称为第一
……
。
[0025]取决于语境，如在此所使用的词语“如果”、“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”或“响应于检测”。类似地，取决于语境，短语“如果确定”或“如果检测(陈述的条件或事件)”可以被解释成为“当确定时”或“响应于确定”或“当检测 (陈述的条件或事件)时”或“响应于检测(陈述的条件或事件)”。
[0026]还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的商品或者装置中还存在另外的相同要素。
[0027]下面结合附图详细说明本技术的可选实施例。
[0028]实施例1
[0029]本实施例提供一种芯片复位检测电路，图1为根据本技术实施例的芯片复位检测电路的结构图，如图1所示，该芯片复位检测电路包括：
[0030]检测电容C1，其第一端连接芯片的电压源VCC，其第二端接地；
[0031]微控制单元MCU(图中未示出)，其检测引脚AD_MCU连接所述检测电容C1的第一端，用于在芯片复位后，获取检测电容C1的第一端的电压，并根据检测电容C1的第一端的电压确定引起芯片复位的原因；其中，引起芯片复位的原因包括芯片的电压源掉电和软件错误。
[0032]本实施例的芯片复位检测电路，在芯片的电压源处设置检测电容 C1，通过检测电容C1的第一端的电压，反映出芯片的电压源VCC的电压变化情况，通过微控制单元MCU根据检测电容C1的第一端的电压确定引起芯片复位的原因具体为芯片的电压源掉电还是软件错误，能够实现在芯片复位后，准确确定导致芯片复位的原因，进而提供针对性的解决措施，使用电设备尽快恢复正常运行。
[0033]检测电容C1上电充电和掉电放电时，其第一端的电压会呈曲线变化，图2为根据本技术实施例的充电过程中检测电容的第一端的电压的变化曲线图，如图2所示，检测电容C1第一端的电压的最大值能够达到Vcc，t1时刻，检测电容C1第一端的电压达到0.8Vcc，即达到芯片的工作电压，t2时刻，检测电容C1第一端的电压达到最大值 Vcc。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片复位检测电路，其特征在于，所述电路包括：检测电容，其第一端连接芯片的电压源，其第二端接地；微控制单元MCU，其检测引脚连接所述检测电容的第一端，用于在芯片复位后，获取所述检测电容的第一端的电压，并根据所述检测电容的第一端的电压确定引起芯片复位的原因；其中，所述引起芯片复位的原因包括芯片的电压源掉电和软件错误。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电路还包括：热敏电阻，设置在所述检测电容的第一端和所述芯片的电压源之间，用于降低所述检测电容的充电速度。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱志锋，邹宏亮，杨华生，杜恺，马金童，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：