测试和测量仪器中的并行触发路径制造技术

一种测试和测量仪器包括：辅助触发输入端口，用于接收辅助触发信号；数字触发处理器，用于从所述辅助触发信号生成数字触发信号；模拟触发处理器，用于从所述辅助触发信号生成模拟触发信号；用户可配置选择器，耦合到所述数字触发处理器和所述模拟触发处理器，所述用户可配置选择器被配置成输出所述数字触发信号或所述模拟触发信号，作为仪器的所选择的触发输出信号。还公开了创建并行触发的方法。出信号。还公开了创建并行触发的方法。出信号。还公开了创建并行触发的方法。

【技术实现步骤摘要】
测试和测量仪器中的并行触发路径
[0001]相关申请的交叉引用本公开要求于2021年8月23日提交的、名称为“PARALLEL TRIGGER PATHS IN A TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT”的美国临时申请No. 63/236,184的权益，该美国临时申请的公开内容以其全文通过引用并入本文。


[0002]本公开涉及测试和测量仪器，并且更具体地，涉及针对测试和测量仪器的触发系统。

技术介绍

[0003]示波器和其他测试仪器典型地包括：多个输入信道端口，用于从测试中设备接收一个或多个信号；“辅助触发”输入端口，用于接收外部触发信号；以及“触发出（trigger out）”端口，将来自第一示波器的触发信号输出到下游仪器或设备。随着示波器已经从模拟触发系统移动到数字触发系统，从在第一示波器或探测器的前端处发生的事件到它生成触发出信号的时间延迟已经增加数个量级。从接收到第一辅助触发的时间直到第一示波器生成触发出信号的该时间延迟导致对于期望使用触发出信号以驱动另一捕获仪器的用户而言的问题，尤其是针对具有短捕获时间窗口的那些事件。换言之，如果级联的一对仪器耦合到相同测试中设备（DUT）并且第二仪器依赖于第一仪器的触发出信号以触发第二仪器上的数据或信号捕获，则通过第一仪器处理触发出信号所导致的时间延迟可能使第二仪器完全错过感兴趣事件。该问题的具体示例包括：具有示波器作为与谱分析仪或相机级联的第一捕获仪器。到触发出信号离开示波器的时间，感兴趣事件可能已经过去，且不再可以由这些次要获取仪器捕获。这对于具有短持续时间的感兴趣事件而言尤其成立。
[0004]数字触发系统的长时延也是对于使用链在一起的若干示波器的客户而言的问题。典型地，这些客户将触发提供到第一示波器的辅助触发输入中，且然后将该第一示波器的触发出驱动到下一示波器的辅助触发入（trigger in）。第二示波器的触发出被驱动到第三示波器的辅助触发入。辅助触发信号的该菊花链可以被扩展到近无限数目的示波器。然而，对可在这些链中支持的示波器的数目的现实世界限制是示波器的最大捕获时间减去所需的捕获时间再除以触发的时延。如果在供所有级联设备获取感兴趣事件的充足时间中接收到针对级联设备的触发信号，则级联设备中的所获取的信号的后处理可以对准捕获并有效地去除时延。甚至在确实在感兴趣事件内接收级联触发信号的级联系统中，更高触发时延也要求更长后处理，这是由于未使用的获取存储器的量随时延而扩缩。换言之，随着经延迟的触发信号通过系统进行级联，级联测试系统存储浩大量的数据。并且，不存在用于减小级联触发信号的时延以最小化级联测量设备完全错过事件窗口的可能性的目前解决方案。
[0005]本公开实施例解决了现有设备的这些和其他限制。
附图说明
[0006]图1是根据本公开实施例的具有并行触发路径的测试和测量仪器（诸如，示波器）的功能框图。
[0007]图2是图示了根据本公开实施例的具有并行触发路径的仪器的另一表示的功能框图。
[0008]图3是根据本公开实施例的在模拟触发路径中包括模拟触发调节电路380的测试和测量仪器的功能框图。
[0009]图4是根据本公开实施例的包括模拟触发调节电路以及使用所获取的输入信号调节以生成输入信号触发的第二触发单元的测试和测量仪器的功能框图。
[0010]图5是图示了根据本公开实施例的图4中图示的测试和测量仪器的可替换实施例的功能框图。
具体实施方式
[0011]根据本公开实施例，通过与标准触发处理路径并行地添加低时延触发处理路径，减小在测试和测量仪器中从触发入信号生成触发出信号的时延是可能的。在一些实施例中，用户可以选择哪个触发路径用于生成仪器的输出触发信号。
[0012]图1是用于实现本文公开的本公开实施例的示例测试和测量仪器100（诸如，示波器）的框图。测试和测量仪器100包括：一个或多个端口102，其可以是任何电信令介质。端口102可以包括接收机、发射机和/或收发器。每个端口102是测试和测量仪器100的信道。端口102与一个或多个处理器116耦合以处理在端口102处从一个或多个测试中设备（DUT）接收的信号和/或波形。尽管为了便于图示而在图1中示出了仅一个处理器116，但本领域技术人员应当理解，可以组合地使用不同类型的多个处理器116，而不是单个处理器116。
[0013]端口102还可以连接到测试仪器100中的测量单元，为了便于图示而未描绘该测量单元。这种测量单元可以包括能够测量经由端口102而接收的信号的方面（例如电压、安培数、幅度等）的任何部件。测试和测量仪器可以包括附加硬件和/或处理器，诸如调节电路、模数转换器、和/或用于将所接收的信号转换成波形以用于进一步分析的其他电路系统。所得到的波形然后可以被存储在存储器110中，以及被显示在显示器112上。
[0014]该一个或多个处理器116可以被配置成执行来自存储器110的指令，且可以执行由这种指令指示的任何方法和/或关联步骤，诸如显示和修改由仪器接收的输入信号。存储器110可以被实现为处理器高速缓存、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、固态存储器、硬盘驱动器或任何其他存储器类型。存储器110充当用于存储数据、计算机程序产品和其他指令的介质。
[0015]用户输入114耦合到处理器116。用户输入114可以包括键盘、鼠标、触摸屏、和/或用户可采用以设立和控制仪器100的任何其他控制装置。用户输入114可以包括显示器112上的图形用户界面。用户输入114可以进一步包括仪器100上来自用户的或者来自远程设备的编程输入。显示器112可以是显示屏、基于阴极射线管的显示器、或者用于将波形、测量结果和其他数据显示给用户的任何其他监视器。尽管测试仪器100的部件被描绘为集成在测试和测量仪器100内，但本领域技术人员应当领会，这些部件中的任一个可以处于测试仪器100外部且可以以任何传统方式（例如，有线和/或无线通信介质和/或机制）耦合到测试仪
器100。例如，在一些实施例中，显示器112可以远离于测试和测量仪器100，或者仪器可以被配置成除了在仪器100上显示输出外还将它发送到远程设备。在进一步实施例中，来自测量仪器100的输出可以被发送到远程设备（诸如，云设备）或者被存储在远程设备（诸如，云设备）中，该远程设备是可从耦合到云设备的其他机器访问的。
[0016]测试和测量仪器100还包括：辅助触发输入120，其被配置成接收由与仪器100分离的设备生成的触发信号。典型地，触发信号是指示通过端口102中的一个或多个而接收的输入信号中的特定感兴趣事件的起始时间的模拟信号。触发信号还可以指示与仪器100及其测试和测量操作相关的其他事件。数字触发处理器124耦合到辅助触发输入端口120，以处理所接收的触发信号并创建数字触发信号，以供处理器116使用以控制仪器100的操作。数字触发输出端口128将经数字处理的触发信号传送到输出。在传统设备中，数字触发输出端口128是来自仪器的仅有触发输出。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试和测量仪器，包括：辅助触发输入端口，用于接收辅助触发信号；数字触发处理器，用于在第一处理时间内从所述辅助触发信号生成数字触发信号；模拟触发处理器，用于在比所述第一处理时间快的第二处理时间内从所述辅助触发信号生成模拟触发信号；以及用户可配置选择器，耦合到所述数字触发处理器和所述模拟触发处理器，所述用户可配置选择器被配置成输出所述数字触发信号或所述模拟触发信号，作为仪器的所选择的触发输出信号。2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，进一步包括：输入信道，用于接受供仪器分析的输入信号。3.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，进一步包括：输入，通过所述输入，用户可以使仪器使用所述模拟触发信号或所述数字触发信号中所选择的一个以控制所述输入信号的获取。4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述模拟触发处理器包括：比较器，被结构化成接收所述辅助触发信号且仅当所接收的辅助触发信号超过预定阈值时才传递输出信号。5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器，其中所述模拟触发处理器包括脉冲调节电路。6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述脉冲调节电路包括延缓输入，并且其中当所述延缓输入被断言时，所述脉冲调节电路不生成输出。7.根据权利要求5所述的测试和测量仪器，其中所述脉冲调节电路接受从所述辅助触发信号导出的输入信号并生成具有预定义形状的输出信号。8.根据权利要求7所述的测试和测量仪器，其中所述输出信号具有预定义幅度、宽度或极性。9.根据权利要求2所述的测试和测量仪器，其中所述数字触发处理器被结构化成：基于在所述输入信道上接收的输入信号的条件来生成第二数字触发信号。10.根据权利要求9所述的测试和测量仪器，其中所述输入信号的导致所述第二数字触发信号的生成的条件是用户定义的。11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中所述数字触发处理器是延缓输入，并且其中当所述延...

【专利技术属性】
技术研发人员：J，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：