一种分层组合式测试模块制造技术

技术编号:36656955 阅读:6 留言:0更新日期:2023-02-18 13:24
本实用新型专利技术公开一种分层组合式测试模块,包括分体成型的连接器插接模块和探针安装模块;连接器插接模块与探针安装模块通过长螺钉等紧固件或其它方式固定在一起;连接器插接模块上形成第一通槽,第一通槽与探针安装模块的顶面围成供连接器插置的插座;探针安装模块上形成供探针安装的第二通槽,第二通槽与插座相通。本实用新型专利技术分体成型的小模块比原来的整体模块体积小,可根据功能作用的不同和模块的特性,使用多层材料,加工方便,提高加工速度和精度。本实用新型专利技术进一步可以在两层之间嵌入镶件;底层可以生成凸台,使得凸台和其周边的间隙可以做到很小,既加工方便,又保证精度。又保证精度。又保证精度。

【技术实现步骤摘要】
一种分层组合式测试模块


[0001]本技术涉及测试模块的
,特别与其分层组合式结构有关。

技术介绍

[0002]连接器是连接两个有源器件的器件,用于传输电流或信号。连接器组装后,需要对连接器中的端子是否已经安装、安装位置是否准确到位、端子是否变形等等进行检测。只有在端子正确安装,且没有发生变形的情况下,才可以保证后续连接器的正常使用。
[0003]现有技术中,用于检测连接器端子的测试模块主体,通常使用一块材料直接进行加工制造,加工过程中需要较长的铣刀,加工速度慢,且因为铣刀较长,造成尺寸无法保证;而且,采用一块材料加工,整块测试模块主体无法选择两种材料,无法同时满足表面硬度高且耐磨、而安装测试针的地方要方便打孔的要求;还有,这种一体式测试模块不方便在测试模块内部嵌入组件,无法加工出与周边间隙较小的凸台。
[0004]有鉴于此,本专利技术人凭借长期研究、设计的专业技术水平与积累的丰富经验,以及对测试模块产品结构性能的熟悉,经过反复设计、试验、修改和测试,开发了一种新型分层的测试模块结构,本案应运而生。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种分层组合式测试模块,以方便加工制造,提高加工速度和精度。
[0006]为了实现上述目的,本技术的解决方案是:
[0007]一种分层组合式测试模块,包括分体成型的连接器插接模块和探针安装模块;连接器插接模块与探针安装模块通过长螺钉等紧固件或其它方式固定在一起;连接器插接模块上形成第一通槽,第一通槽与探针安装模块的顶面围成供连接器插置的插座;探针安装模块上形成供探针安装的第二通槽,第二通槽与插座相通。
[0008]所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成凸台,凸台向上延伸而位于第一通槽中,且凸台与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0009]所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成第一沉槽,探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成第二沉槽,第一沉槽和第二沉槽相对设置,第一沉槽和第二沉槽的宽度大于第一通槽;镶件夹置在第一沉槽和第二沉槽之间,镶件的中心形成第三通槽,第三通槽连通第一通槽和第二通槽,镶件的顶面在第三通槽的周边向上延伸形成凸垣,凸垣向上延伸而位于第一通槽中,且凸垣与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0010]所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成第二沉槽,第二沉槽和第一通槽相对设置,第二沉槽的宽度与第一通槽相等。
[0011]所述探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成上容置槽,连接器插接模块固定设置在上容置槽中;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面还形成凸台,凸台向上延伸而位于第一通槽中,且凸台与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0012]所述探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成上容置槽,连接器插接模块固定设置在上容置槽中;连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成第一沉槽,第一沉槽的宽度大于第一通槽;镶件夹置在第一沉槽和探针安装模块之间,镶件的中心形成第三通槽,第三通槽连通第一通槽和第二通槽,镶件的顶面在第三通槽的周边向上延伸形成凸垣,凸垣向上延伸而位于第一通槽中,且凸垣与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0013]所述探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成上容置槽,连接器插接模块固定设置在上容置槽中。
[0014]所述连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成下容置槽,探针安装模块固定设置在下容置槽中;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成凸台,凸台向上延伸而位于第一通槽中,且凸台与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0015]所述连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成下容置槽,探针安装模块固定设置在下容置槽中;连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成第一沉槽,第一沉槽的宽度大于第一通槽;镶件夹置在第一沉槽和探针安装模块之间,镶件的中心形成第三通槽,第三通槽连通第一通槽和第二通槽,镶件的顶面在第三通槽的周边向上延伸形成凸垣,凸垣向上延伸而位于第一通槽中,且凸垣与第一通槽的槽壁之间留有间隙。
[0016]所述连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成下容置槽,探针安装模块固定设置在下容置槽中。
[0017]采用上述结构后,本技术因为将原来一体成型的测试模块,根据功能作用的不同,分成了连接器插接模块和探针安装模块两个独立的部分,这样,连接器插接模块和探针安装模块分体成型,分体成型的小模块比原来的整体模块体积小,有的只有整体的一半甚至更小,加工更方便,可以使用较高的进给速度,而且,可以使用多层材料拼接成一个测试模块,根据模块的特性,上层安装连接器的连接器插接模块使用较硬且耐磨的材料,并选择专用的刀具加工,下层安装探针的探针安装模块可以使用工程塑料,更方便加工,提高加工速度和精度。本技术进一步可以在两层之间嵌入镶件;底层可以生成凸台,使得凸台和其周边的间隙可以做到很小,既加工方便,又保证精度。
附图说明
[0018]为了更清晰地说明本技术实例中的技术方案,下面对实施例描述中所需要使用的附图做简单的描述。应当理解,以下附图仅示出了本技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1是本技术实施例一的结构示意图;
[0020]图2是本技术实施例二的结构示意图;
[0021]图3是本技术实施例三的结构示意图;
[0022]图4是本技术实施例四的结构示意图;
[0023]图5是本技术实施例五的结构示意图;
[0024]图6是本技术实施例六的结构示意图;
[0025]图7是本技术实施例七的结构示意图;
[0026]图8是本技术实施例八的结构示意图;
[0027]图9是本技术实施例九的结构示意图;
[0028]标号说明
[0029]连接器插接模块1,第一通槽11,第一沉槽12,下容置槽13;
[0030]探针安装模块2,第二通槽21,第二沉槽22,上容置槽23,凸台24;
[0031]镶件3,第三通槽31,凸垣32;
[0032]间隙A,间隙B。
具体实施方式
[0033]为使本技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施方式中的附图,对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式是本技术一部分实施方式,而不是全部的实施方式。因此,以下对在附图中提供的本技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围,而是仅仅表示本技术的选定实施方式。本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分层组合式测试模块,其特征在于:包括分体成型的连接器插接模块和探针安装模块;连接器插接模块与探针安装模块通过长螺钉紧固件或其它方式固定在一起;连接器插接模块上形成第一通槽,第一通槽与探针安装模块的顶面围成供连接器插置的插座;探针安装模块上形成供探针安装的第二通槽,第二通槽与插座相通。2.如权利要求1所述的一种分层组合式测试模块,其特征在于:所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成凸台,凸台向上延伸而位于第一通槽中,且凸台与第一通槽的槽壁之间留有间隙。3.如权利要求1所述的一种分层组合式测试模块,其特征在于:所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;连接器插接模块对应第一通槽的位置在底面形成第一沉槽,探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成第二沉槽,第一沉槽和第二沉槽相对设置,第一沉槽和第二沉槽的宽度大于第一通槽;镶件夹置在第一沉槽和第二沉槽之间,镶件的中心形成第三通槽,第三通槽连通第一通槽和第二通槽,镶件的顶面在第三通槽的周边向上延伸形成凸垣,凸垣向上延伸而位于第一通槽中,且凸垣与第一通槽的槽壁之间留有间隙。4.如权利要求1所述的一种分层组合式测试模块,其特征在于:所述连接器插接模块与探针安装模块呈上下布置,探针安装模块固定在连接器插接模块的底面;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成第二沉槽,第二沉槽和第一通槽相对设置,第二沉槽的宽度与第一通槽相等。5.如权利要求1所述的一种分层组合式测试模块,其特征在于:所述探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面形成上容置槽,连接器插接模块固定设置在上容置槽中;探针安装模块对应第二通槽的位置在顶面还形成凸台,凸台向...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈淑琴
申请(专利权)人:常熟市琴川街道泽谦信息技术服务部
类型:新型
国别省市:

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