本实用新型专利技术公开了一种芯片管脚的开短路测试装置，包括个人计算机，用于生成测试指令；第一通讯模块，输入端连接个人计算机，输出端连接控制模块；数模转换模块，输入端连接控制模块，输出端连接电压调制模块；电源管理模块，输入端连接电压调制模块，输出端连接若干通道选择模块，各通道选择模块输出端均配置有若干测试通道，各测试通道均连接测试芯片的测试管脚；模数转换模块，输入端连接各测试通道，输出端连接控制模块；第二通讯模块，输入端连接第一通讯模块，输出端连接机械夹取设备；控制模块的输出端连接个人计算机。本实用新型专利技术有效提升芯片管脚的开短路测试效率。升芯片管脚的开短路测试效率。升芯片管脚的开短路测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片管脚的开短路测试装置
[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片管脚的开短路测试装置。
技术介绍
[0002]芯片管脚，又叫芯片引脚，是从芯片内部电路引出与外围电路的接线，所有的管脚就构成了芯片的接口。每一块芯片通常具有多根管脚。芯片封装到印刷电路板后，通过管脚实现与电路板上的线路电连接，因此管脚的电气性能好坏对芯片的工作有很大的影响。目前，在现有对芯片管脚的开短路测试系统中，一般只有单组测试通道对芯片管脚的开短路状态进行测试，该种方式测试效率极低，无法满足高速测试的需求。
技术实现思路
[0003]针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种芯片管脚的开短路测试装置，用于有效提升芯片管脚的开短路测试效率。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种芯片管脚的开短路测试装置，包括：
[0005]个人计算机，用于生成一测试指令；
[0006]第一通讯模块，所述第一通讯模块的输入端连接所述个人计算机的输出端，所述第一通讯模块的输出端连接一控制模块的输入端，所述个人计算机通过所述第一通讯模块向所述控制模块发送所述测试指令，所述控制模块根据所述测试指令生成数字电压信号；
[0007]数模转换模块，所述数模转换模块的输入端连接所述控制模块的输出端，所述数模转换模块的输出端连接一电压调制模块的输入端，所述数模转换模块用于将所述数字电压信号转换为模拟电压信号并发送至所述电压调制模块，所述电压调制模块用于对所述模拟电压信号进行调制得到正负电压信号；
[0008]电源管理模块，所述电源管理模块的输入端连接所述电压调制模块的输出端，所述电源管理模块的输出端连接若干通道选择模块的输入端，所述电源管理模块用于对所述正负电压信号进行限制稳压得到正负稳压信号，各所述通道选择模块输出端均配置有若干测试通道，各所述测试通道均连接有测试芯片的一测试管脚，各所述测试通道用于根据所述正负稳压信号对所述测试管脚进行正向二极管开短路测试、或负向二极管开短路测试或相邻管脚开短路测试；
[0009]模数转换模块，所述模数转换模块的输入端连接各所述测试通道，所述模数转换模块的输出端连接所述控制模块的输入端，所述模数转换模块用于采集各所述测试管脚的管脚电压并发送所述控制模块；
[0010]第二通讯模块，所述第二通讯模块的输入端连接所述第一通讯模块的输出端，所述第二通讯模块的输出端连接一机械夹取设备；
[0011]所述控制模块的输出端连接所述个人计算机的输入端，所述控制模块根据各所述管脚电压生成芯片管脚测试结果并发送所述个人计算机，所述个人计算机根据芯片管脚测
试结果生成装卸指令，并依次通过所述第一通讯模块和所述第二通讯模块发送至所述机械夹取设备，所述机械夹取设备根据装卸指令替换所述测试芯片。
[0012]进一步地，所述通道选择模块配置有4个，各所述通道选择模块配置有64个测试通道。
[0013]进一步地，还包括至少一芯片转接模块，所述芯片转接模块的输入端连接各所述测试通道，所述芯片转接模块的输出端连接所述模数转换模块，所述芯片转接模块用于连接若干测试芯片的若干所述测试管脚及相应的所述测试通道。
[0014]进一步地，还包括一显示模块，所述显示模块的输入端连接所述控制模块的输出端，所述显示模块用于对所述芯片管脚测试结果进行显示。
[0015]进一步地，还包括一电源处理模块，所述电源处理模块的输入端连接所述个人计算机的输出端，所述电源处理模块的输出端连接所述控制模块、所述第一通讯模块、所述第二通讯模块、所述数模转换模块、所述模数转换模块的输入端，所述电源处理模块用于将所述个人计算机输出的电压进行转换，并为所述控制模块、所述第一通讯模块、所述第二通讯模块、所述数模转换模块、所述模数转换模块进行供电。
[0016]进一步地，所述机械夹取设备包括分选机和机械臂。
[0017]本技术的有益效果：
[0018]本技术通过设置4个通道选择模块，并在每个通道选择模块上配置64个测试通道，能够同时实现对256个芯片管脚进行开短路测试，有效提升了芯片管脚的开短路测试效率；同时本技术还通过设置机械夹取设备在芯片测试完毕后对测试芯片进行自动替换，无需人工替换测试芯片，节省了芯片替换装夹的时间，从而进一步提升了芯片管脚的开短路测试效率。
附图说明
[0019]图1是本技术中开短路测试装置的控制原理图；
[0020]图2是本技术中正向二极管开短路测试电路原理图；
[0021]图3是本技术中反向二极管开短路测试电路原理图；
[0022]图4是本技术中相邻二极管开短路测试电路原理图。
[0023]附图标记：1、个人计算机；2、第一通讯模块；3、控制模块；4、数模转换模块；5、电压调制模块；6、电源管理模块；7、通道选择模块；8、模数转换模块；9、第二通讯模块；10、机械夹取设备；11、芯片转接模块；12、显示模块。
具体实施方式
[0024]下面结合附图和实施例，对本技术进一步详细说明。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“底面”和“顶面”、“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
[0025]如图1所示，本实施例的一种芯片管脚的开短路测试装置，包括：
[0026]个人计算机1，用于生成一测试指令；
[0027]第一通讯模块2，第一通讯模块2的输入端连接个人计算机1的输出端，第一通讯模
块2的输出端连接一控制模块3的输入端，个人计算机1通过第一通讯模块2向控制模块3发送测试指令，控制模块3根据测试指令生成数字电压信号；
[0028]数模转换模块4，数模转换模块4的输入端连接控制模块3的输出端，数模转换模块4的输出端连接一电压调制模块5的输入端，数模转换模块4用于将数字电压信号转换为模拟电压信号并发送至电压调制模块5，电压调制模块5用于对模拟电压信号进行调制得到正负电压信号；
[0029]电源管理模块6，电源管理模块6的输入端连接电压调制模块5的输出端，电源管理模块6的输出端连接若干通道选择模块7的输入端，电源管理模块6用于对正负电压信号进行限制稳压得到正负稳压信号，各通道选择模块7输出端均配置有若干测试通道，各测试通道均连接有测试芯片的一测试管脚，各测试通道用于根据正负稳压信号对测试管脚进行正向二极管开短路测试、或负向二极管开短路测试或相邻管脚开短路测试；
[0030]模数转换模块8，模数转换模块8的输入端连接各测试通道，模数转换模块8的输出端连接控制模块3的输入端，模数转换模块8用于采集各测试管脚的管脚电压并发送控制模块3；
[0031]第二通讯模块9，第二通讯模块9的输入端连接第一通讯模块2的输出端，第二通讯模块9的输出端连接一机械夹取设备10；...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片管脚的开短路测试装置，其特征在于，包括：个人计算机(1)，用于生成一测试指令；第一通讯模块(2)，所述第一通讯模块(2)的输入端连接所述个人计算机(1)的输出端，所述第一通讯模块(2)的输出端连接一控制模块(3)的输入端，所述个人计算机(1)通过所述第一通讯模块(2)向所述控制模块(3)发送所述测试指令，所述控制模块(3)根据所述测试指令生成数字电压信号；数模转换模块(4)，所述数模转换模块(4)的输入端连接所述控制模块(3)的输出端，所述数模转换模块(4)的输出端连接一电压调制模块(5)的输入端，所述数模转换模块(4)用于将所述数字电压信号转换为模拟电压信号并发送至所述电压调制模块(5)，所述电压调制模块(5)用于对所述模拟电压信号进行调制得到正负电压信号；电源管理模块(6)，所述电源管理模块(6)的输入端连接所述电压调制模块(5)的输出端，所述电源管理模块(6)的输出端连接若干通道选择模块(7)的输入端，所述电源管理模块(6)用于对所述正负电压信号进行限制稳压得到正负稳压信号，各所述通道选择模块(7)输出端均配置有若干测试通道，各所述测试通道均连接有测试芯片的一测试管脚，各所述测试通道用于根据所述正负稳压信号对所述测试管脚进行正向二极管开短路测试、或负向二极管开短路测试或相邻管脚开短路测试；模数转换模块(8)，所述模数转换模块(8)的输入端连接各所述测试通道，所述模数转换模块(8)的输出端连接所述控制模块(3)的输入端，所述模数转换模块(8)用于采集各所述测试管脚的管脚电压并发送所述控制模块(3)；第二通讯模块(9)，所述第二通讯模块(9)的输入端连接所述第一通讯模块(2)的输出端，所述第二通讯模块(9)的输出端连接一机械夹取设备(10)；所述控制模块(3)的输出端连接所述个人计算机(1)的输入端...
【专利技术属性】
技术研发人员：张昌征，张国良，
申请(专利权)人：杭州晶测电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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