接触判定装置以及接触判定方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供接触判定装置及接触判定方法，在能应对与接触期间的温度变化相应的基准值的补正的同时，即使在将手等慢慢地离开的情况下也能检测将手从物体离开。接触判定装置包括：传感器，测定被检测体对物体的接触程度，并输出与接触程度相应的检测值；接触判定部，基于在被检测体是否接触物体的判定中使用的基准值和检测值，来判定被检测体是否接触物体；补正部，补正基准值，补正部在由接触判定部判定为被检测体接触物体的期间，在累计被检测体对物体的接触开始时起的检测值的变动量的累计值中，在检测值对应于接触程度增大而增大时，基于累计值的最大值来补正基准值，或在检测值对应于接触程度增大而减少时，基于累计值的最小值来补正基准值。的最小值来补正基准值。的最小值来补正基准值。

【技术实现步骤摘要】
接触判定装置以及接触判定方法


[0001]本专利技术涉及接触判定装置以及接触判定方法。

技术介绍

[0002]以往以来，有一种输入装置，检测包含操作体的接触和所述操作体的接近中的至少一者的操作，该输入装置具备：测量部，测量与所述操作相应的物理量；判定部，至少基于基值和所述物理量来判定包含有操作状态和无操作状态的操作状态；所述基值更新部，在所述操作状态为所述有操作状态的有操作期间中，使用所述物理量的每给定时间的变化的大小处于给定范围内时的所述物理量来进行所述基值的更新。判定部基于所述物理量与所述基值的差分来判定操作状态(例如，参照专利文献1)。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：JP特开2016
‑
218506号公报
[0006]但是，在现有的输入装置中，由于基值追随于物理量，因此例如在通过将作为操作体的手慢慢地离开从而缓慢地从有操作状态变化为无操作状态的情况下，由于若物理量缓慢地降低则基值就会追随地降低，因此在无操作状态下物理量与基值的差分也会某种程度变大，有可能会误判定为有操作状态。这是由于现有的输入装置并未设想将手慢慢地离开这样的情形。
[0007]此外，由于物理量具有随着温度上升一起增加的倾向，因此需要随着温度上升而对基值进行补正。

技术实现思路

[0008]因此，本专利技术的目的在于，提供接触判定装置以及接触判定方法，在对应于与接触期间的温度变化相应的基准值的补正的同时，即使在将手等慢慢地离开的情况下也能检测将手从物体离开这一情况。
[0009]用于解决课题的手段
[0010]本专利技术的实施方式的接触判定装置包括：传感器，测定被检测体对物体的接触程度，并输出与所述接触程度相应的检测值；接触判定部，基于在所述被检测体是否接触所述物体的判定中所使用的基准值和所述检测值，来判定所述被检测体是否接触所述物体；以及补正部，对所述基准值进行补正，所述补正部在由所述接触判定部判定为所述被检测体接触所述物体的期间，在将从所述被检测体对所述物体的接触开始时起的所述检测值的变动量进行累计而得的累计值当中，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而增大的情况下，基于累计值的最大值对所述基准值进行补正，或者，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而减少的情况下，基于累计值的最小值对所述基准值进行补正。
[0011]专利技术效果
[0012]能够提供接触判定装置以及接触判定方法，能应对与接触期间的温度变化相应的
基准值的补正的同时，在将手等慢慢地离开的情况下也能检测将手从物体离开这一情况。
附图说明
[0013]图1是表示安装有实施方式的接触判定装置100的方向盘10的图。
[0014]图2是表示静电传感器110的输出正弦波的一例的图。
[0015]图3是说明使用了基准值的接触的判定的图。
[0016]图4是表示表征MPU120B所执行的接触判定处理的流程图的图。
[0017]图5是表示表征MPU120B所执行的接触判定处理的流程图的图。
[0018]图6是表示表征MPU120B所执行的接触判定处理的流程图的图。
[0019]图7是表示表征MPU120B所执行的接触判定处理的流程图的图。
[0020]图8是表示接触判定装置100的动作的图。
[0021]图9是表示接触判定装置100的动作的图。
[0022]图10是表示接触判定装置100的动作的图。
[0023]图11是表示比较例的接触判定装置的动作的图。
[0024]图12是表示比较例的接触判定装置的动作的图。
[0025]图13是表示比较例的接触判定装置的动作的图。
[0026]图14是表示实施方式的变形例中的接触判定装置100的动作的图。
[0027]附图标记说明
[0028]10方向盘
[0029]11握柄
[0030]12信号线
[0031]50ECU
[0032]100接触判定装置
[0033]110静电传感器
[0034]120HODECU
[0035]120AAFE
[0036]120BMPU
[0037]121主控制部
[0038]122补正部
[0039]123接触判定部
[0040]124存储器
具体实施方式
[0041]以下，说明应用了本专利技术的接触判定装置以及接触判定方法的实施方式。
[0042]<实施方式>
[0043]图1是表示安装有实施方式的接触判定装置100的方向盘10的图。如图1所示那样，方向盘10作为一例搭载于车辆，在握柄11的内部安装有接触判定装置100的静电传感器110。接触判定装置100作为一例判定驾驶者的手H是否接触方向盘10的握柄11。
[0044]以下，为了一般化，将车辆的驾驶者称为接触判定装置100的操作者。接触判定装
置100并不限于图1所示那样组装到方向盘10的用途。以下，说明能够判定作为被检测体的操作者的手H是否接触设置有静电传感器110的物体的接触判定装置100。将操作者触碰设置有静电传感器110的物体称作操作者的操作。
[0045]<接触判定装置100的结构>
[0046]接触判定装置100包括静电传感器110以及HODECU(Hands Off Detection Electronic Control Unit，离手探测电子控制单元)120。
[0047]静电传感器110遍及方向盘10的握柄11的一周而设置，例如由金属制的电极来构成。静电传感器110经由信号线12与HODECU120连接。
[0048]HODECU120作为一例设置于方向盘10的内部。图1中将HODECU120放大示出。HODECU120具有AFE(Analog Front结束，模拟前端)120A和MPU(Micro Processor Unit，微处理单元)120B。
[0049]AFE120A与静电传感器110连接，基于从MPU120B输入的指令来将正弦波(输入正弦波)输入到静电传感器110，并取得从静电传感器110输出的正弦波(输出正弦波)。AFE120A从输入正弦波和输出正弦波取得静电传感器110的电容值，同数字变换一起进行基于低通滤波器的噪声去除，并作为AD值而输出到MPU120B。AD值是检测值的一例。AD值作为一例由不具有单位的计数值来表征。通过由AFE120A进行基于低通滤波器的噪声去除，接触判定装置100能够取得除掉了给定频率以上的噪声的AD值。
[0050]MPU120B由包含CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)、ROM(Read Only Memory，只读存储器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接触判定装置，其特征在于，包含：传感器，测定被检测体对物体的接触程度，输出与所述接触程度相应的检测值；接触判定部，基于在所述被检测体是否与所述物体接触的判定中所使用的基准值和所述检测值，来判定所述被检测体是否与所述物体接触；以及补正部，对所述基准值进行补正，所述补正部执行如下处理：在由所述接触判定部判定为所述被检测体与所述物体接触的期间，在将从所述被检测体对所述物体的接触开始时起的所述检测值的变动量累计而得的累计值当中，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而增大的情况下，基于累计值的最大值来对所述基准值进行补正，或者，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而减少的情况下，基于累计值的最小值来对所述基准值进行补正。2.根据权利要求1所述的接触判定装置，其中，所述补正部执行如下处理：在所述检测值对应于所述接触程度的增大而增大的情况下，在所述累计值当中的所述最大值被更新时对所述基准值进行补正，或者，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而减少的情况下，在所述累计值当中的所述最小值被更新时对所述基准值进行补正。3.根据权利要求1或2所述的接触判定装置，其中，所述补正部执行如下处理：在对所述检测值的变动量进行累计来更新所述累计值时，将所述检测值的变动量限制为给定范围内的值地加在所述累计值上。4.根据权利要求1或2所述的接触判定装置，其中，所述补正部执行如下处理：在对所述检测值的变动量进行累计来更新所述累计值时，仅在所述检测值的变动量为给定范围内的值时，将所述检测值的变动量加在所述累计值上。5.根据权利要求1～4中任一项所述的接触判定装置，其中，所述补正部按每个第1给定期间来更新所述累计值。6.根据权利要求1～5中任一项所述的接触判定装置，其中，所述检测值的变动量是相对于第2给定期间前的所述检测值的变动值。7.根据权利要求1～6中任一项所述的接触判定装置，其中，所述补正部执行如下处理：在所述检测值对应于所述接触程度的增大而增大的情况下，若所述累计值的最大值比最新的所述累计值小，就将所述累计值的最大值更新成所述最新的累计值，并基于进行了该更新的所述累计值的最大值来对所述基准值进行补正，若所述累计值的最大值为最新的所述累计值以上，就基于所述累计值的最大值来对所述基准值进行补正，或者，在所述检测值对应于所述接触程度的增大而减少的情况下，若所述累计值的最小值比最新的所述累计值大，就将所述累计值的最小值更新成所述最新的累计值，并基于进行了该更新的所述累计值的最小值来对所述基准值进行补正，若所述累计值的最小值为最新的所述累计值以下，就基于所述累计值的最小值来对所述基准值进行补正。8.根据权利要求1～6中任一项所述的接触判定装置，其中，
所述补正部执行如下处理：在所述检测值对应于所述接触程度的增大而增大的情况下，若所述累计值的最大值与最新的所述累计值的差的绝对值为给定值以下，就基于所述最新的累计值来对所述基准值进行补正，若所述差的绝对值比给定值大，就基于所述累计值的最大值与所述给定值的差来对所述基准值进行补正，或者，在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：远藤新一，早坂哲，永草宽基，小松稜，中岛智，
申请(专利权)人：阿尔卑斯阿尔派株式会社，
类型：发明
国别省市：